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Volumn 248, Issue 3, 2011, Pages 583-587

Crystal orientation of GaN layers on (1010) m-plane sapphire

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Crystal growth; GaN; Sapphire; X ray diffraction

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EID: 79951755255     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.201046489     Document Type: Article
Times cited : (48)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.