Homogeneous liquid crystal orientation on ion beam exposure TiO2 surfaces depending on an anisotropic dipole field

Liquid Crystals

Volumn 37, Issue 3, 2010, Pages 279-284

  Lee, Jin Woo ^a   Moon, Byung Moo ^a   Lee, Kang Min ^b   Kim, Young Hwan ^b   Park, Hong Gyu ^b   Lim, Ji Hun ^b   Oh, Byeong Yun ^b   Kim, Byoung Yong ^b   Hwang, Jeong Yeon ^b   Ok, Chul Ho ^b   Seo, Dae Shik ^b   Han, Jeong Min ^c  

^a Korea University   (South Korea)

^b Yonsei University   (South Korea)

^c University of Seoul   (South Korea)

Author keywords

Anisotropy dipole field; Ion beam; Liquid crystal alignment; TiO2

Indexed keywords

EID: 77649289100     PISSN: 02678292     EISSN: 13665855     Source Type: Journal    
DOI: 10.1080/02678290903564411     Document Type: Article

References (22)

1. Wang, H.; Wu, T.X.; Zyu, X.; Wu, S.T. J. Appl. Phys. 2004, 95, 5502-5508.
2. Jiao, M.; Ge, Z.; Song, Q.; Wu, S.-T. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 061102.
3. Arafune, R.; Sakamoto, K.; Ushioda, S. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2755-2757.
4. Lu, M. Jpn. J. Appl. Phys. 2004, 43, 8156-8160.
5. Ho, J.Y.L.; Chigrinov, V.G.; Kwok, H.S. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 243506.
6. Chaudhari, P.; Lacey, J.; Doyle, J.; Galligan, E.; Lien, S.-C.A.; Callegari, A.; Hougham, G.; Lang, N.D.; Andry, P.S.; John, R.; Yang, K.-H.; Lu, M.; Cai, C.; Speidell, J.; Purushothaman, S.; Ritsko, J.; Samant, M.; Stö hr, J.; Nakagawa, Y.; Katoh, Y.; Saitoh, Y.; Sakai, K.; Satoh, H.; Odahara, S.; Nakano, H.; Nakagaki, J.; Shiota, Y. Nature 2001, 411, 56-59.
7. Stöhr, J.; Samant, M.G.; Luning, J.; Callegari, A.C.; Chaudhari, P.; Doyle, J.P.; Lacey, J.A.; Lien, S.A.; Purushothaman, S.; Speidell, J.L. Science 2001, 292, 2299-2302.
8. Moon, H.C.; Kang, H.K.; Hwang, J.Y.; Park, Y.P.; Lim, S.H.; Jang, J.; Seo, D.S. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 7017-7019.
9. Lee, S.K.; Kim, J.H.; Oh, B.Y.; Kang, D.H.; Kim, B.Y.; Han, J.W.; Kim, Y.H.; Han, J.M.; Hwang, J.Y.; Ok, C.H.; Seo, D.S. Jpn. J. Appl. Phys. 2007, 46, 7711-7713.
10. Kim, S.H.; Choi, S.H.; Lee, S.K.; Ok, C.H.; Hwang, J.Y.; Kim, B.Y.; Han, J.M.; Kang, D.H.; Han, J.W.; Ryu, J.H.; Jang, J.; Seo, D.S. Jpn. J. Appl. Phys. Part 1, 2007, 46, 4225-4227.
11. Lim, J.H.; Oh, B.Y.; Lee, W.K.; Lee, K.M.; Na, H.J.; Kim, B.Y.; Seo, D.S.; Han, J.M.; Hwang, J.Y. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 123503.
12. Lee, W.K.; Oh, B.Y.; Lim, J.H.; Park, H.G.; Kim, B.Y.; Na, H.J.; Seo, D.S. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 223507.
13. Park, H.G.; Kim, Y.H.; Oh, B.Y.; Lee, W.K.; Kim, B.Y.; Seo, D.S.; Hwang, J.Y. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 233507.
14. Ollis, D.F.; Pelizzetti, E.; Serpone, N. Environ. Sci. Technol. 1991, 25, 1523-1529.
15. Solomon, D.H.; Hawthorne, D.G. Chemistry of Paints and Fillers; Wiley: New York, 1983; Ch. 2.
16. Kumar, K-N.P.; Keizer, K.; Burggraaf, A.J. J. Mater. Chem. 1993, 3, 1141-1149.
17. Wilk, G.D.; Wallace, R.M.; Anthony, J.M. J. Appl. Phys. 2001, 89, 5243-5275.
18. Hofman, S.; Sanz, J.M. J. TraceMicroprobe Techniques 1982-1983, 1, 213-264.
19. Żenkiewicz, M. J. Adhes. Sci. Technol. 2001, 15, 1769-1785.
20. Lee, C.Y.; Liu, Y.L.; Wu, K.Y.; Chen, M.Y.; Hwang, J.C. Jpn. J. Appl. Phys. 2008, 47, 226-230.
21. Hwang, J.Y.; Jo, Y.M.; Seo, D.S.; Rho, S.J.; Lee, D.K.; Baik, H.K. Jpn. J. Appl. Phys. 2002, 41, L654-L656.
22. Lee, W.W.; Hwang, J.Y.; Choi, M.K.; Suh, D.H.; Seo, D.S. Ferroelectrics 2006, 344, 51-61.