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Volumn 184, Issue , 2009, Pages

Effect of reflected waves on the GISAXS analysis of as-grown capped Ge nanodots

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EID: 69649100367     PISSN: 17426588     EISSN: 17426596     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1088/1742-6596/184/1/012005     Document Type: Conference Paper
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References (14)
  • 7
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    • http://www.insp.jussieu.fr/axe2/Oxydes/IsGISAXS/isgisaxs.htm - ref-separator -


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.