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Volumn 4, Issue 8, 2009, Pages 477-478

Force microscopy: On the charge

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NANOTECHNOLOGY;

EID: 68949170544     PISSN: 17483387     EISSN: 17483395     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/nnano.2009.215     Document Type: Short Survey
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.