Atomic force and scanning tunneling microscopy imaging of graphene nanosheets derived from graphite oxide

Langmuir

Volumn 25, Issue 10, 2009, Pages 5957-5968

  Paredes, J I ^a   Villar Rodil, S ^a   Solis Fernandez P ^a   Martinez Alonso A ^a   Tascon J M D ^a  

^a CSIC   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AFM; AFM IMAGE; AMORPHOUS CHARACTERS; AQUEOUS DISPERSIONS; ATOMIC FORCE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; ATOMIC SCALE; CARBON SKELETON; CHEMICAL REDUCTION; FEATURE SIZES; GLOBULAR MORPHOLOGY; GRAPHENE; GRAPHITE OXIDE; GRAPHITE SUBSTRATE; LOW CONDUCTIVITY; NANO-METER SCALE; OXIDE MATERIALS; OXIDE NANOSHEETS; OXYGEN CONTENT; PHASE IMAGING; STRUCTURAL DISORDERS; SUBNANOMETER RANGE; TAPPING MODES; TUNNELING CURRENT; UV-VISIBLE ABSORPTION; VERTICAL VARIATION; X-RAY PHOTOELECTRONS;

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMS; GRAPHITE; MORPHOLOGY; OXYGEN; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SCANNING; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SUBSTRATES; THERMOGRAVIMETRIC ANALYSIS;

NANOSHEETS;

EID: 66249110304     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la804216z     Document Type: Article

References (66)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666-669.
2. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad.Sci. U.S.A. 2005, 102, 10451-10453.
3. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183-191.
4. Fasolino, A.; Los, J. H.; Katsnelson, M. I. Nat. Mater. 2007, 6, 858-861.
5. Miao, F.; Wijeratne, S.; Zhang, Y.; Coskun, U. C.; Bao, W.; Lau, C. N. Science 2008, 317, 1530-1533.
6. Chen, J.-H.; Jang, C.; Adam, S.; Fuhrer, M. S.; Williams, E. D.; Ishigami, M. Nat. Phys. 2008, 4, 377-381.
7. Li, Z. Q.; Henriksen, E. A.; Jiang, Z.; Hao, Z.; Martin, M. C.; Kim, P.; Stormer, H. L.; Basov, D. N. Nat. Phys. 2008, 4, 532-535.
8. Martin, J.; Akerman, N.; Ulbricht, G.; Lohmann, T.; Smet, J. H.; von Klitzing, K.; Yacoby, A. Nat. Phys. 2008, 4, 144-148.
9. Gilje, S.; Han, S.; Wang, M.; Wang, K. L.; Kaner, R. B. Nano Lett. 2007, 7, 3394-3398.
10. Li, X.; Wang, X.; Zhang, L.; Lee, S.; Dai, H. Science 2008, 319, 1229-1232.
11. Eda, G.; Fanchini, G.; Chhowalla, M. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 270-274.
12. Wang, X.; Zhi, L.; Mullen, K. Nano Lett. 2008, 8, 323-327.
13. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Dommett, G. H. B.; Kohlhaas, K. M.; Zimney, E. J.; Stach, E. A.; Piner, R. D.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nature (London) 2006, 442, 282-286.
14. Ramanathan, T.; Abdala, A. A.; Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Herrera-Alonso, M.; Piner, R. D.; Adamson, D. H.; Schniepp, H. C.; Chen, X.; Ruoff, R. S.; Nguyen, S. T.; Aksay, I. A.; Prud'homme, R. K.; Brinson, L. C. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 327-331.
15. Schedin, F.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Hill, E. W.; Blake, P.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 652-655.
16. Robinson, J. T.; Perkins, F. K.; Snow, E. S.; Wei, Z.; Sheehan, P. E. Nano Lett. 2008, 8, 3137-3140.
17. Stoller, M. D.; Park, S.; Zhu, Y.; An, J.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2008, 8, 3498-3502.
18. Yoo, E. J.; Kim, J.; Hosono, E.; Zhou, H.; Kudo, T.; Honma, I. Nano Lett. 2008, 8, 2277-2282.
19. Liu, Z.; Robinson, J. T.; Sun, X.; Dai, H. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 10876-10877.
20. Becerril, H. A.; Mao, J.; Liu, Z.; Stoltenberg, R. M.; Bao, Z.; Chen, Y. ACS Nano 2008, 2, 463-470.
21. Dikin, D. A.; Stankovich, S.; Zimney, E. J.; Piner, R. D.; Dommett, G. H. B.; Evmenenko, G.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nature (London) 2007, 448, 457-460.
22. Chen, H.; Muller, M. B.; Gilmore, K. J.; Wallace, G. G.; Li, D. Adv. Mater. 2008, 20, 3557-3561.
23. Xu, Y.; Bai, H.; Lu, G.; Li, C.; Shi, G. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 5856-5857.
24. Verdejo, R.; Barroso-Bujans, F.; Rodriguez-Perez, M. A.; de Saja, J. A.; Lopez-Manchado, M. A. J. Mater. Chem. 2008, 18, 2221-2226.
25. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Piner, R. D.; Colas, K. A.; Kleinhammes, A.; Jia, Y.; Wu, Y.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Carbon 2007, 45, 1558-1565.
26. Li, D.; Müller, M. B.; Gilje, S.; Kaner, R. B.; Wallace, G. G. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 101-105.
27. Gómez-Navarro, C.; Weitz, R. T.; Bittner, A. M.; Scolari, M.; Mews, A.; Burghard, M.; Kern, K. Nano Lett. 2007, 7, 3499-3503.
28. Wang, G.; Yang, J.; Park, J.; Gou, X.; Wang, B.; Liu, H.; Yao, J. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 8192-8195.
29. Si, Y.; Samulski, E. T. Nano Lett. 2008, 8, 1679-1682.
30. Park, S.; An, J.; Piner, R. D.; Jung, I.; Yang, D.; Velamakanni, A.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Chem. Mater. 2008, 20, 6592-6594.
31. Schniepp, H. C.; Li, J.-L.; McAllister, M. J.; Sai, H.; Herrera-Alonso, M.; Adamson, D. H.; Prud'homme, R. K.; Car, R.; Saville, D. A.; Aksay, I. A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 8535-8539.
32. Ishigami, M.; Chen, J. H.; Cullen, W. G.; Fuhrer, M. S.; Williams, E. D. Nano Lett. 2007, 7, 1643-1648.
33. Stolyarova, E.; Rim, K. T.; Ryu, S.; Maultzsch, J.; Kim, P.; Brus, L. E.; Heinz, T. F.; Hybertsen, M. S.; Flynn, G. W. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2007, 104, 9209-9212.
34. Stolyarova, E.; Stolyarov, D.; Liu, L.; Rim, K. T.; Zhang, Y.; Han, M.; Hybersten, M.; Kim, P.; Flynn, G. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 6681-6688.
35. Rutter, G. M.; Crain, J. N.; Guisinger, N. P.; Li, T.; First, P. N.; Stroscio, J. A. Science 2007, 317, 219-222.
36. Mallet, P.; Varchon, F.; Naud, C.; Magaud, L.; Berger, C.; Veuillen, J.-Y. Phys. Rev. B 2007, 76, 041403.
37. Tapasztoo, L.; Dobrik, G.; Lambin, P.; Biroo, L. P. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 397-401.
38. Hummers, W.; Offeman, R. J. Am. Chem. Soc. 1958, 80, 1339.
39. Paredes, J. I.; Villar-Rodil, S.; Martfnez-Alonso, A.; Tascon, J. M. D. Langmuir 2008, 24, 10560-10564.
40. James, P. J.; Antognozzi, M.; Tamayo, J.; McMaster, T. J.; Newton, J. M.; Miles, M. J. Langmuir 2001, 17, 349-360.
41. Paredes, J. I.; Villar-Rodil, S.; Tamargo-Martinez, K.; Martínez-Alonso. A.; Tascón, J. M. D. Langmuir 2006, 22, 4728-4733.
42. Skoog, D. A.; Holler, F. J.; Nieman. T. A. Principles of Instrumental Analysis; Hartcourt Brace & Company: Philadelphia, PA, 1998; Chapter 13.
43. Yang, D.-Q.; Rochette, J.-F.; Sacher, E. Langmuir 2005, 21, 8539-8545.
44. Yang, D.-Q.; Sacher, E. Langmuir 2006, 22, 860-862.
45. Wang, Q.; Kaliaguine, S.; Ait-Kadi, A. J. Appl. Polym. Sci. 1993, 48, 121-148.
46. Ferrari, A. C.; Robertson, J. Phys. Rev. B 2000, 61, 14095-14107.
47. Chieu, T. C.; Dresselhaus, M. S.; Endo, M. Phys. Rev. B 1982, 26, 5867-5877.
48. Szabo, T.; Berkesi, O.; Forgo, P.; Josepovits, K.; Sanakis, Y.; Petridis, D.; Dekany, I. Chem. Mater. 2006, 18, 2740-2749.
49. Paredes, J. I.; Martonez-Alonso, A.; Tascoon, J. M. D. Langmuir 2007, 23, 8932-8943.
50. San Paulo, A.; García, R. Biophys. J. 2000, 78, 1599-1605.
51. Paredes, J. I.; Martínez-Alonso, A.; Tascón, J. M. D. Langmuir 2002, 18, 4314-4323.
52. Paredes, J. I.; Martonez-Alonso, A.; Tascoon, J. M. D. Chem. Commun. 2002, 1790-1791.
53. Paredes, J. I.; Martfnez-Alonso, A.; Tascon, J. M. D. Langmuir 2003, 19, 7665-7668.
54. Koonya, Z.; Vesselenyi, I.; Niesz, K.; Kukovecz, A.; Demortier, A.; Fonseca, A.; Delhalle, J.; Mekhalif, Z.; Nagy, J. B.; Koos, A. A.; Osvath, Z.; Kocsonya, A.; Biroo, L. P.; Kiricsi, I. Chem. Phys. Lett. 2002, 360, 429-435.
55. Magonov, S. N.; Whangbo, M.-H. Surface Analysis with STM and AFM; VCH: Weinheim, Germany, 1996.
56. Guo, Q.; Yin, J.; Palmer, R. E.; Bampos, N.; Sanders, J. K. M. Chem. Phys. Lett. 2005, 402, 121-125.
57. MacLeod, J. M.; Miwa, R. H.; Srivastava, G. P.; Malean, A. B. Surf. Sci. 2005, 576, 116-122.
58. Kim, D. H.; Shapir, E.; Jeong, H.; Porath, D.; Yi, J. Phys. Rev. B 2006, 73, 235416.
59. García, R.; Tamayo, J. Langmuir 1995, 11, 2109-2114.
60. Gupta, A.; Chen, G.; Joshi, P.; Tadigadapa, S.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2006, 6, 2667-2673.
61. Nemes-Incze, P.; Osvaoth, Z.; Kamaraos, K.; Biroo, L. P. Carbon 2008, 46, 1435-1442.
62. Biró, L. P.; Gyulai, J.; Lambin, Ph.; Nagy, J. B.; Lazarescu, S.; Mark, G. I.; Fonseca, A.; Surján, P. R.; Szekeres, Zs.; Thiry, P. A.; Lucas, A. A. Carbon 1998, 36, 689-696.
63. Mark, G. I.; Biroo, L. P.; Gyulai, J.; Thiry, P. A.; Lucas, A. A.; Lambin, P. Phys. Rev. B 2000, 62, 2797-2805.
64. Hahn, J. R.; Kang, H. Phys. Rev. B 1999, 60, 6007-6017.
65. Amara, H.; Latil, S.; Meunier, V.; Lambin, Ph.; Charlier, J.-C. Phys. Rev. B 2007, 76, 115423.
66. Ruffieux, P.; Melle-Franco, M.; Gröning, O.; Bielmann, M.; Zerbetto, F.; Groning, P. Phys. Rev. B 2005, 71, 153403.