Controlled chemical functionalization of multiwalled carbon nanotubes by kiloelectronvolt argon ion treatment and air exposure

Langmuir

Volumn 21, Issue 18, 2005, Pages 8539-8545

  Yang, De Quan ^a   Rochette, Jean Francois ^a   Sacher, Edward ^a  

^a ÉCOLE POLYTECHNIQUE DE MONTRÉAL   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARGON; DEFECTS; FREE RADICALS; IONS; MORPHOLOGY; RAMAN SPECTROSCOPY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

AIR EXPOSURE; CHEMICAL FUNCTIONALIZATION; FREE RADICAL DEFECTS;

CARBON NANOTUBES;

EID: 24944513856     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la0514922     Document Type: Article

References (52)

1. Iijima, S. Nature (London) 1991, 354, 56
2. Carbon Nanotubes, Synthesis, Structures, Properties, and Applications; Dresselhaus, M. S., Dresselhaus, G., Avouris, Ph., Eds.; Springer: Berlin, 2001.
3. Liu, J.; Rinzler, A. G.; Dai, H.; Hafner, J. H.; Bradley, R. K.; Boul, P. J.; Lu, A.; Iverson, T.; Shelimov, K.; Huffman, C. B.; Rodriguez-Macias, F.; Shon, Y. S.; Lee, T. R.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Science 1998, 280, 1253.
4. Terrones, M.; Terrones, H.; Banhart, F.; Charlier, J.-C.; Ajayan, P. M. Science 2000, 288, 1226.
5. Terrones, M.; Ajayan, P. M.; Banhart, F.; Blase, X.; Carroll, D. L.; Charlier, J. C.; Czerw, R.; Foley, B.; Grobert, N.; Kamalakaran, R.; Kohler-Redlich, P.; Rühle, M.; Seeger, T.; Terrones, H. Appl. Phys. A 2002, 74, 355.
6. Terrones, M.; Banhart, F.; Grobert, N.; Charlier, J.-C.; Terrones, H.; Ajayan, P. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 075505.
7. Banhart, F. Rep. Prog. Phys. 1999, 62, 1181.
8. Smith, B. W.; Luzzi, D. E. J. Appl. Phys. 2001, 90, 3509.
9. Kiang, C.-H.; Goddard, W. A.; Beyers, R.; Bethune, D. S. J. Phys. Chem. 1996, 100, 3749.
10. Ajayan, P. M.; Ravikumar, V.; Charlier, J.-C. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1437.
11. Salvetat, J. P.; Bonard, J. M.; Thomson, N. H.; Kulik, A. J.; Forró, L.; Benoit, W.; Zuppiroli, L. Appl. Phys. A 1999, 69, 255.
12. Luzzi, D. E.; Smith, B. W. Carbon 2000, 38, 1751.
13. Li, J. X.; Banhart, F. Nano Lett. 2004, 4, 1143.
14. Mickelson, W.; Aloni, S.; Han, W. Q.; Cumings, J.; Zettl, A. Science 2003, 300, 467.
15. Zhu, Y.; Yi, T.; Zheng, B.; Cao, L. Appl. Surf. Sci. 1999, 137, 83.
16. Suzuki, M.; Ishibashi, K.; Toratani, K.; Tsuya, D.; Aoyagi, Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 8, 2273.
17. Vincent, P.; Brioude, A.; Journet, C.; Rabaste, S.; Purcell, S. T.; Brusq, J. L.; Plenet, J. C. J. Non-Cryst. Solids, 2002, 311, 130.
18. Schittenhelm, H.; Geohegan, D. B.; Jellison, G. E.; Puretzky, A. A.; Lance, M. J.; Britt, P. F. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2097.
19. Khare, B.; Meyyappan, M.; Moore, M. H.; Wilhite, P.; Imanaka, H.; Chen, B. Nano Lett. 2003, 3, 643.
20. Jeong, G. H.; Hatakeyama, R.; Hirata, T.; Tohji, K.; Motomiya, K.; Sato, N.; Kawazoe, Y. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4213.
21. Jeong, G. H.; Hatakeyama, R.; Hirata, T.; Tohji, K.; Motomiya, K.; Yaguchi, T.; Kawazoe, Y. Chem. Commun. 2003, 152.
22. Stahl, H.; Appenzeller, J.; Martel, R.; Avouris, Ph.; Lengeler, B. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5186.
23. Basiuk, V. A.; Kobayashi, K.; Negishi, T. K. Y.; Basiuk, E.V.; Saniger-Blesa, J. M. Nano Lett. 2002, 2, 789.
24. Ni, B.; Andrews, R.; Jacques, D.; Qian, D.; Wijesundara, M. B. J.; Choi, Y.; Hanley, L.; S. Sinnott, B. Appl. Phys. A 2001, 105, 12719.
25. Ni, B.; Sinnott, S. B. Phys. Rev. B 2000, 61, 16343.
26. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Sirviö, M.; Salonen, E.; Keinonen, J. Phys. Rev. B 2001, 63, 245405.
27. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Keinonen, J. Phys. Rev. B 2002, 65, 165423.
28. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Keinonen, J. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1101.
29. Salonen, E.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Nucl. Instrum. Methods B 2002, 193, 603.
30. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Keinonen, J.; Banhart, F. Phys. Rev. B 2002, 66, 245403.
31. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. J. Vac. Sci. Technol. B 2002, 20, 728.
32. Pomoell, J.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Keinonen, J. Nucl. Instrum. Methods B 2003, 206, 18.
33. Cui, F. Z.; Chen, Z. J.; Ma, J.; Xia, G. R.; Zhai, Y. Phys. Lett. A 2002, 295, 55.
34. Wei, B. Q.; D'Arcy-Gall, J.; Ajayan, P. M.; Ramanath, G. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3581.
35. Biro, L. P.; Mark, G. I.; Gyulai, J.; Havancsak, K.; Lipp, S.; Lehrer, C.; Frey, L.; Ryssel, H. Nucl. Instrum. Methods B 1999, 147, 142.
36. Tsukuda, S.; Seki, S.; Tagawa, S.; Sugimoto, M.; Idesaki, A.; Tanaka, S.; Oshima, A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 3407.
37. Yamamoto, K.; Koga, Y.; Fujiwara, S.; Kubota, M. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 417.
38. Raghuveer, M. S.; Ganesan, P. G.; D'Arcy-Gall, J.; Ramanath, G.; Marshall, M.; Petrov, I. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4484.
39. Foerster, C. E.; Garcia, I. T. S.; Zawislak, F. C.; Serbena, F. C.; Lepienski, C. M.; Schreiner, W. H.; Abbate, M. Thin Solid Films, 2002, 411, 256.
40. Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Nucl. Instrum. Methods B 2004, 216, 355.
41. Pomoell, J. A. V.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K.; Keinonen, J. J. Appl. Phys. 2004, 96, 2864.
42. Yang, D.-Q.; Piyakis, K. N.; Sacher, E. Surf. Sci. 2003, 536, 67.
43. Khare, B. N.; Meyyappan, M.; Kralj, J.; Wilhite, P.; Sisay, M.; Imanaka, H.; Koehne, J.; Baushchilcher, C. W. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 5237.
44. Ni, B.; Andrews, R.; Jacques, D.; Qian, D.; Wijesundara, M. B. J.; Choi, Y.; Hanley, L.; Sinnott, S. B. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 12719.
45. Yang, D.-Q.; Sacher, E. Surf. Sci. 2002, 504, 125.
46. Yang, D.-Q.; Sacher, E. Surf. Sci. 2003, 516, 45.
47. van Attekum, P. M. T. M.; Wertheim, G. K. Phys. Rev. Lett. 1979, 43, 1896.
48. Prince, K. C.; Ulrych, I.; Peloi, M.; Ressel, B.; Cháb, V.; Crotti, C.; Comicioli, C. Phys. Rev. B 2000, 62, 6866.
49. Yang, D.-Q.; Rochette, J.-F.; Sacher, E. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 7788.
50. Niyogi, S.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Zhao, B.; Bhowmik, P.; Sen, R.; Itkis, M. E.; Haddon, R. C. Acc. Chem. Res. 2002, 35, 1105.
51. Park, S.; Srivistava, D.; Cho, K. Nano Lett. 2003, 3, 1273.
52. Xing, Y. C.; Li, L.; Chusuei, C. C.; Hull, R. V. Langmuir 2005, 21, 4185.