Optical emission of biaxial ZnO-ZnS nanoribbon heterostructures

Journal of Chemical Physics

Volumn 130, Issue 8, 2009, Pages

  Murphy, M W ^a   Zhou, X T ^a,b   Ko, J Y P ^a   Zhou, J G ^a,c   Heigl, F ^a,d   Sham, T K ^a  

^a UNIVERSITY OF WESTERN ONTARIO   (Canada)

^b Shanghai Synchrotron Radiation Facility   (China)

^c CANADIAN LIGHT SOURCE INC   (Canada)

^d ALBA SYNCHROTRON LIGHT SOURCE   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BAND-GAP EMISSIONS; DEFECT EMISSIONS; ELECTRONIC STRUCTURE AND OPTICAL PROPERTIES; HETEROSTRUCTURE; HETEROSTRUCTURES; NANORIBBON; NANORIBBONS; OPTICAL DECAYS; OPTICAL EMISSIONS; REPETITION RATES; SYNCHROTRON X-RAYS; TOTAL ELECTRON YIELDS; X RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURES; X-RAY EXCITED OPTICAL LUMINESCENCES; ZNO;

ELECTRIC WIRE; ELECTRONIC STRUCTURE; HETEROJUNCTIONS; LUMINESCENCE; OPTICAL PROPERTIES; OXYGEN; SEMICONDUCTING ZINC COMPOUNDS; SULFUR; X RAY ANALYSIS; ZINC; ZINC OXIDE;

ZINC SULFIDE;

EID: 61449134246     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3080767     Document Type: Article

References (40)

1. M. H. Huang, S. Mao, H. Feick, H. Yan, Y. Wu, H. Kind, E. Weber, R. Russo, and P. Yang, Science 0036-8075 10.1126/science.1060367 292, 1897 (2001).
2. X. S. Fang and L. D. Zhang, J. Mater. Sci. Technol. 22, 721 (2006). 0861-9786
3. L. Schmidt and J. L. MacManus-Driscoll, Mater. Today 1369-7021 10.1016/S1369-7021(07)70078-0 10, 40 (2007).
4. C. Klingshirn, ChemPhysChem 1439-4235 10.1002/cphc.200700002 8, 782 (2007).
5. W. Lu and C. M. Lieber, J. Phys. D 0022-3727 10.1088/0022-3727/39/21/R01 39, R387 (2006).
6. S. C. Ray, J. W. Chiou, W. F. Pong, and M. -H. Tsai, Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 1040-8436 10.1080/10408430601044775 31, 91 (2006).
7. C. M. Lieber, Solid State Commun. 0038-1098 10.1016/S0038-1098(98)00209-9 107, 607 (1998).
8. C. M. Lieber, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl020289d 2, 81 (2002).
9. A. J. Mieszawska, R. Jalilian, G. U. Sumanasekera, and F. P. Zamborini, Small 1613-6810 10.1002/smll.200600727 3, 722 (2007).
10. T. K. Sham, in Synchrotron Radiation: Earth, Environmental and Materials Sciences Applications, edited by, G. S. Henderson, and, D. R. Baker, (Saskatoon, Minerological Association of Canada, 2002), p. 1.
11. J. G. Zhou, X. T. Zhou, X. H. Sun, R. Y. Li, M. Murphy, Z. F. Ding, X. L. Sun, and T. K. Sham, Chem. Phys. Lett. 437, 229 (2007). 0009-2614
12. A. Rogalev and J. Goulon, in Chemical Applications of Synchrotron Radiation, Part II: X-ray Applications, edited by, T. K. Sham, (World Scientific, Singapore, 2002), Vol. 12B, pp. 707-760.
13. F. Heigl, S. Lam, T. Regier, I. Couthard, and T. K. Sham, J. Am. Chem. Soc. 0002-7863 10.1021/ja060243c 128, 3906 (2006).
14. M. Murphy, X. -T. Zhou, F. Heigl, T. Regier, and T. K. Sham, AIP Conf. Proc. 0094-243X 10.1063/1.2644657 882, 764 (2007).
15. X. T. Zhou, F. Heigl, J. Y. P. Ko, M. W. Murphy, J. G. Zhou, T. Regier, R. I. R. Blyth, and T. K. Sham, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.75. 125303 75, 125303 (2007).
16. R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, X. H. Sun, and T. K. Sham, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2402262 89, 243102 (2006).
17. T. K. Sham, S. J. Naftel, P. S. G. Kim, R. Sammynaiken, Y. H. Tang, I. Coulthard, A. Moewes, J. W. Freeland, Y. F. Hu, and S. T. Lee, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.70.045313 70, 045313 (2004).
18. I. Coulthard and T. K. Sham, Solid State Commun. 0038-1098 10.1016/S0038-1098(99)00045-9 110, 203 (1999).
19. S. Hayakawa, T. Hirose, L. Yan, M. Morishita, H. Kuwano, and Y. Gohshi, X-Ray Spectrom. 28, 515 (1999). 0049-8246
20. R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, F. Heigl, S. T. Lee, P. S. G. Kim, X. T. Zhou, and T. K. Sham, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2143114 87, 253105 (2005).
21. U. Ozgur, Y. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Dogan, V. Avrutin, S. -J. Cho, and H. Morkoc, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1992666 98, 041301 (2005).
22. H. Yamamoto, in Luminescence and Related Properties of II-VI Semiconductors, edited by, D. R. Vij, and, N. Singh, (Nova Science, Commack, 1998), p. 169.
23. X. T. Zhou, P. S.-G. Kim, T. K. Sham, and S. T. Lee, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1988974 98, 024312 (2005).
24. R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, F. Heigl, S. -T. Lee, P. -S. G. Kim, X. -T. Zhou, and T. K. Sham, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1984096 86, 263115 (2005).
25. Y. Wang, L. Zhang, C. Liang, G. Wang, and X. Peng, Chem. Phys. Lett. 0009-2614 10.1016/S0009-2614(02)00530-4 357, 314 (2002).
26. X. H. Sun, S. Lam, T. K. Sham, F. Heigl, A. Jurgensen, and N. B. Wong, J. Phys. Chem. B 1089-5647 10.1021/jp044926v 109, 3120 (2005).
27. N. E. Hsu, W. K. Hung, and Y. F. Chen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1787905 96, 4671 (2004).
28. K. Vanheusden, C. H. Seager, W. L. Warren, D. R. Tallant, and J. A. Voigt, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.116699 68, 403 (1996).
29. R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, L. -C. Tien, D. Norton, S. Pearton, X. H. Sun, and T. K. Sham, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2245440 89, 093118 (2006).
30. P. Zhang, P. -S. G. Kim, and T. K. Sham, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1461888 91, 6038 (2002).
31. P. S. G. Kim, M. Murphy, X. T. Zhou, M. Couillard, T. K. Sham, and G. A. Botton, Microsc. Microanal. 12, 484 (2006) 0021-8979; M. W. Murphy, X. T. Zhou, J. G. Zhou, F. Heigl, P. S. G. Kim, M. Coulliard, G. A. Botton, and T. K. Sham, " Biaxial ZnO-ZnS nanoribbon heterostructures.," J. Phys. Chem. C (in press).
32. F. Heigl, A. Jurgensen, X. T. Zhou, S. Lam, M. Murphy, J. Y. P. Ko, T. K. Sham, R. A. Rosenberg, R. Gordon, D. Brewe, T. Regier, and L. Armelao, AIP Conf. Proc. 0094-243X 10.1063/1.2436279 879, 1202 (2007).
33. F. Heigl, X. -H. Sun, S. Lam, T. K. Sham, R. Gordon, D. Brewe, R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, M. Yablonskikh, J. MacNaughton, and A. Moewes, AIP Conf. Proc. 0094-243X 10.1063/1.2644646 882, 734 (2007).
34. T. K. Sham and R. A. Rosenberg, ChemPhysChem 1439-4235 10.1002/cphc.200700226 8, 2557 (2007).
35. T. K. Sham, Int. J. Nanotechnol. 5, 1194 (2008).
36. L. Armelao, F. Heigl, A. Jurgensen, R. I. R. Blyth, T. Regier, X. T. Zhou, and T. K. Sham, J. Phys. Chem. C 1932-7447 10.1021/jp071379f 111, 10194 (2007).
37. J. W. Chiou, K. P. Krishna Kumar, J. C. Jan, H. M. Tsai, C. W. Bao, W. F. Pong, F. Z. Chien, M. -H. Tsai, I. -H. Hong, R. Klauser, J. F. Lee, J. J. Wu, and S. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1802373 85, 3220 (2004).
38. J. W. Chiou, J. C. Han, H. M. Tsai, C. W. Bao, W. F. Pong, M. -H. Tsai, I. -H. Hong, R. Klauser, J. F. Lee, J. J. Wu, and S. C. Liu, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1737075 84, 3462 (2004).
39. R. A. Rosenberg, G. K. Shenoy, M. F. Chisholm, L. -C. Tien, D. Norton, and S. Pearton, Nano Lett. 7, 1521 (2007). 1530-6984
40. J. H. Zhan, Y. Bandy, J. Hu, T. Sekiguchi, and D. Golberg, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 0935-9648 10.1002/adma.200400585 17, 225 (2005).