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Volumn 94, Issue 6, 2009, Pages

Dynamics of repulsive dual-frequency atomic force microscopy

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ATOMIC PHYSICS;

EID: 60349085039     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3080209     Document Type: Article
Times cited : (54)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.