Superresolution microscopy on the basis of engineered dark states

Journal of the American Chemical Society

Volumn 130, Issue 50, 2008, Pages 16840-16841

  Steinhauer, Christian ^a   Forthmann, Carsten ^a   Vogelsang, Jan ^a   Tinnefeld, Philip ^a  

^a UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTINS; MICROSCOPY, FLUORESCENCE; SENSITIVITY AND SPECIFICITY;

EID: 58049204514     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja806590m     Document Type: Article

References (23)

1. Klar, T. A.; Jakobs, S.; Dyba, M.; Egner, A.; Hell, S. W. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2000, 97, 8206-8210.
2. Hell, S. W. Science 2007, 316, 1153-1158.
3. Rust, M. J.; Bates, M.; Zhuang, X. Nat. Methods 2006, 3, 793-795.
4. Betzig, E.; Patterson, G. H.; Sougrat, R.; Lindwasser, O. W.; Olenych, S.; Bonifacino, J. S.; Davidson, M. W.; Lippincott-Schwartz, J.; Hess, H. F. Science 2006, 313, 1642-1645.
5. Huang, B.; Wang, W.; Bates, M.; Zhuang, X. Science 2008, 319, 810-813.
6. Hess, S. T.; Girirajan, T. P.; Mason, M. D. Biophys. J. 2006, 91, 4258-4272.
7. Heilemann, M.; van de Linde, S.; Schuttpelz, M.; Kasper, R.; Seefeldt, B.; Mukherjee, A.; Tinnefeld, P.; Sauer, M. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 6172-6176.
8. Bretschneider, S.; Eggeling, C.; Hell, S. W. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, -.
9. Bock, H.; Geisler, C.; Wurm, C. A.; Von Middendorff, C.; Jakobs, S.; Schonle, A.; Egner, A.; Hell Stefan, W.; Eggeling, C. Appl. Phys. B: Lasers and Optics 2007, 88, 161-165.
10. Heilemann, M.; Margeat, E.; Kasper, R.; Sauer, M.; Tinnefeld, P. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 3801-3806.
11. Lord, S. J.; Conley, N. R.; Lee, H. L.; Samuel, R.; Liu, N.; Twieg, R. J.; Moeraer, W. E. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 9204-9205.
12. Flors, C.; Hotta, J.; Uji-I, H.; Dedecker, P.; Ando, R.; Mizuno, H.; Miyawaki, A.; Hofkens, J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 13970-13977.
13. Bates, M.; Blosser, T. R.; Zhuang, X. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 108101/108101-108101/108104.
14. Bates, M.; Huang, B.; Dempsey, G. T.; Zhuang, X. Science 2007, 317, 1749-1753.
15. Egner, A.; Geisler, C.; von Middendorff, C.; Bock, H.; Wenzel, D.; Medda, R.; Andresen, M.; Stiel, A. C.; Jakobs, S.; Eggeling, C.; Schonle, A.; Hell, S. W. Biophys. J. 2007, 93, 3285-3290.
16. Shroff, H.; Galbraith, C. G.; Galbraith, J. A.; Betzig, E. Nat. Methods 2008, 5, 417-423.
17. Vogelsang, J.; Kasper, R.; Steinhauer, C.; Person, B.; Heilemann, M.; Sauer, M.; Tinnefeld, P. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 5465-5469.
18. Thompson, R. E.; Larson, D. R.; Webb, W. W. Biophys. J. 2002, 82, 2775-2783.
19. Tinnefeld, P.; Buschmann, V.; Weston, K. D.; Sauer, M. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 323-327.
20. English, D. S.; Harbron, E. J.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 9057-9061.
21. Ringemann, C.; Schonle, A.; Giske, A.; von Middendorff, C.; Hell, S. W.; Eggeling, C. ChemPhysChem 2008, 9, 612-624.
22. Tinnefeld, P.; Hofkens, J.; Herten, D.-P.; Masuo, S.; Vosch, T.; Cotlet, M.; Habuchi, S.; Muellen, K.; De Schryver, F. C.; Sauer, M. ChemPhysChem 2004, 5, 1786-1790.
23. Habuchi, S.; Ando, R.; Dedecker, P.; Verheijen, W.; Mizuno, H.; Miyawaki, A.; Hofkens, J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 9511-9516.