Direct imaging of lattice atoms and topological defects in graphene membranes

Nano Letters

Volumn 8, Issue 11, 2008, Pages 3582-3586

  Meyer, Jannik C ^a   Kisielowski, C ^a   Erni, R ^a   Rossell, Marta D ^a   Crommie, M F ^a   Zettl, A ^a  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACCELERATION VOLTAGES; CARBON ATOMS; CRYSTALLINE LATTICES; DIRECT IMAGING; DISLOCATIONS AND DISCLINATIONS; FIELD OF VIEWS; GRAPHENE; IN-SITU; LATTICE ATOMS; LOW VOLTAGES; SEVEN-MEMBERED RINGS; STONE-WALES DEFECTS; TOPOLOGICAL DEFECTS;

ATOMS; CRYSTALLINE MATERIALS; FULLERENES; POINT DEFECTS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

DEFECTS;

EID: 57749090769     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl801386m     Document Type: Article

References (29)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666.
2. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. 2005, 102, 10451.
3. Zhang, Y.; Tan, J. W.; Stormer, H. L.; Kim, P. Nature 2005, 438, 201.
4. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, L. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197.
5. Son, Y.-W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Nature 2006, 444, 347.
6. Heersche, H. B.; Jarillo-Herrero, P.; Oostinga, J. B.; Vandersypen, L. M. K.; Morpurgo, A. F. Nature 2007, 446, 56.
7. http://ncem.lbl.gov/TEAM-project.
8. Kisielowski, C.; Freitag, B.; Bischoff, M.; van Lin, H.; Lazar, S.; Knippels, G.; Tiemeijer, P.; van der Stain, M.; von Harrach, S.; Stekelenburg, M.; Haider, M.; Uhlemann, S.; Muller, H.; Hartel, P.; Kabius, B.; Miller, D.; Petrov, I.; Olson, E. A.; Donchev, T.; Kenik, E. A.; Lupini, A.; Bentley, J.; Pennycook, S.; Anderson, I. M.; Minor, A. M.; Schmid, A. K.; Duden, T.; Radmilovic, V.; Ramasse, Q.; Watanabe, M.; Erni, R.; Stach, E. A.; Denes, P.; Dahmen., U. Nat. Mater. 2008, in review.
9. Hashimoto, A.; Suenaga, K.; Gloter, A.; Urita, K.; Iijima, S. Nature 2004, 430, 870.
10. Suenaga, K.; Wakabayashi, H.; Koshino, M.; Sato, Y.; Urita, K.; Iijima, S. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 358.
11. Smith, B. W.; Luzzi, E. J. Appl. Phys. 2001, 90, 3509.
12. Meyer, J. C.; Girit, C. O.; Crommie, M. F.; Zettl, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 123110.
13. Jia, C.-L.; Lentzen, M.; Urban, K. Microsc. Microanal. 2004, 10, 174.
14. Lentzen, M.; Jahnen, B.; Jia, C. L.; Thust, A.; Tillmann, K.; Urban, K. Ultramicroscopy 2002, 92, 233.
15. Jia, C. L.; Lentzen, M.; Urban, K. Science 2003, 299, 870.
16. Kirkland, E. J. Advanced Computing in Electron Microscopy; Plenum Press: New York, 1998.
17. Doyle, P. A.; Turner, P. S. Acta Crystallogr., A 1968, 24, 390.
18. Peng, L.-M.; Ren, G.; Dudarev, S. L.; Whelan, M. J. Acta Crystallogr., A 1996, 52, 257.
19. Hytch, M. J.; Stobbs, W. M. Ultramicroscopy 1994, 53, 191.
20. Howie, A. Ultramicroscopy 2004, 98, 73.
21. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
22. Meyer, J. C.; Geim, A. K.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Booth, T. J.; Roth, S. Nature 2007, 446, 60.
23. Meyer, J. C.; Geim, A. K.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Obergfell, D.; Roth, S.; Girit, C.; Zettl, A. Solid State Commun. 2007, 143, 101.
24. Stone, A. J.; Wales, D. J. Chem. Phys. Lett. 1986, 128, 501.
25. Yoon, M.; Han, S.; Kim, G.; Lee, S. B.; Berber, S.; Osawa, E.; Ihm, J.; Terrones, M.; Banhart, F.; Charlier, J.-C.; Grobert, N.; Terrones, H.; Ajayan, P. M.; Tomanek, D. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 075504.
26. Kim, Y.-H.; Lee, I.-H.; Chang, K. J.; Lee, S. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 065501.
27. Nardelli, M. B.; Yakobson, B. I.; Bernholc, J. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 4656.
28. Banhart, F. Rep. Prog. Phys. 1999, 62, 1181.
29. Zobelli, A.; Gloter, A.; Ewels, C. P.; Seifert, G.; Colliex, C. Phys. Rev. B 2007, 75, 245402.