메뉴 건너뛰기




Volumn 104, Issue 10, 2008, Pages

Temperature dependence of voltage-controlled negative resistance and electroluminescence in Al- Al2 O3 -Au diodes

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINUM; ATOMS; DIODES; ELECTRIC CONTACTORS; ELECTRIC CONVERTERS; ELECTROLUMINESCENCE; LIGHT EMISSION; LUMINESCENCE; METAL INSULATOR BOUNDARIES; NEGATIVE RESISTANCE; OHMIC CONTACTS; TEMPERATURE DISTRIBUTION;

EID: 57049109281     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3021092     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (52)
  • 1
    • 36849125984 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1702530.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1702530 33, 2669 (1962).
    • (1962) J. Appl. Phys. , vol.33 , pp. 2669
    • Hickmott, T.W.1
  • 5
    • 0040146451 scopus 로고
    • 0022-5355 10.1116/1.1492715.
    • T. W. Hickmott, J. Vac. Sci. Technol. 0022-5355 10.1116/1.1492715 6, 828 (1969).
    • (1969) J. Vac. Sci. Technol. , vol.6 , pp. 828
    • Hickmott, T.W.1
  • 6
    • 0014808773 scopus 로고
    • 0038-1101 10.1016/0038-1101(70)90100-0.
    • T. W. Hickmott and W. R. Hiatt, Solid-State Electron. 0038-1101 10.1016/0038-1101(70)90100-0 13, 1033 (1970).
    • (1970) Solid-State Electron. , vol.13 , pp. 1033
    • Hickmott, T.W.1    Hiatt, W.R.2
  • 7
    • 0019674444 scopus 로고
    • in, edited by A. K. Vijh (Dekker, New York), Vol.,.
    • D. P. Oxley, in Oxides and Oxide Films, edited by, A. K. Vijh, (Dekker, New York, 1981), Vol. 6, p. 251.
    • (1981) Oxides and Oxide Films , vol.6 , pp. 251
    • Oxley, D.P.1
  • 16
    • 36849080740 scopus 로고    scopus 로고
    • 0003-6951 10.1063/1.2822403.
    • W. -Y. Yang and S. -W. Rhee, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2822403 91, 232907 (2007).
    • (2007) Appl. Phys. Lett. , vol.91 , pp. 232907
    • Yang, W.-Y.1    Rhee, S.-W.2
  • 19
    • 0043167636 scopus 로고
    • 0042-207X 10.1016/S0042-207X(76)81130-X.
    • H. Biederman, Vacuum 0042-207X 10.1016/S0042-207X(76)81130-X 26, 513 (1976).
    • (1976) Vacuum , vol.26 , pp. 513
    • Biederman, H.1
  • 20
    • 33750503555 scopus 로고
    • 0042-207X 10.1016/S0042-207X(80)80057-1.
    • Yu. B. Yankelevitch, Vacuum 0042-207X 10.1016/S0042-207X(80)80057-1 30, 97 (1980).
    • (1980) Vacuum , vol.30 , pp. 97
    • Yankelevitch, Yu.B.1
  • 22
    • 0024051106 scopus 로고
    • 0031-8965 10.1002/pssa.2211080102.
    • H. Pagnia and N. Sotnik, Phys. Status Solidi A 0031-8965 10.1002/pssa.2211080102 108, 11 (1988).
    • (1988) Phys. Status Solidi A , vol.108 , pp. 11
    • Pagnia, H.1    Sotnik, N.2
  • 23
    • 0008076543 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1714372.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1714372 36, 1885 (1965).
    • (1965) J. Appl. Phys. , vol.36 , pp. 1885
    • Hickmott, T.W.1
  • 24
    • 3342959782 scopus 로고
    • 0040-6090 10.1016/0040-6090(72)90131-9.
    • T. W. Hickmott, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(72)90131-9 9, 431 (1972).
    • (1972) Thin Solid Films , vol.9 , pp. 431
    • Hickmott, T.W.1
  • 26
    • 0015288276 scopus 로고
    • 0040-6090 10.1016/0040-6090(72)90247-7.
    • G. Dittmer, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(72)90247-7 9, 141 (1972).
    • (1972) Thin Solid Films , vol.9 , pp. 141
    • Dittmer, G.1
  • 31
    • 0037150064 scopus 로고    scopus 로고
    • 0022-3727 10.1088/0022-3727/35/8/312.
    • R. E. Thurstans and D. P. Oxley, J. Phys. D 0022-3727 10.1088/0022-3727/35/8/312 35, 802 (2002).
    • (2002) J. Phys. D , vol.35 , pp. 802
    • Thurstans, R.E.1    Oxley, D.P.2
  • 32
    • 36248931974 scopus 로고    scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.2804104.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.2804104 102, 093706 (2007).
    • (2007) J. Appl. Phys. , vol.102 , pp. 093706
    • Hickmott, T.W.1
  • 33
    • 36248931974 scopus 로고    scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.2804106.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.2804106 102, 093707 (2007).
    • (2007) J. Appl. Phys. , vol.102 , pp. 093707
    • Hickmott, T.W.1
  • 34
    • 0000432842 scopus 로고    scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1287116.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1287116 88, 2805 (2000).
    • (2000) J. Appl. Phys. , vol.88 , pp. 2805
    • Hickmott, T.W.1
  • 35
    • 0005336488 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1702801.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1702801 35, 2118 (1964).
    • (1964) J. Appl. Phys. , vol.35 , pp. 2118
    • Hickmott, T.W.1
  • 37
    • 33750509462 scopus 로고    scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.2354325.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.2354325 100, 083712 (2006).
    • (2006) J. Appl. Phys. , vol.100 , pp. 083712
    • Hickmott, T.W.1
  • 38
    • 0014768101 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1659185.
    • A. M. Goodman, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1659185 41, 2176 (1970).
    • (1970) J. Appl. Phys. , vol.41 , pp. 2176
    • Goodman, A.M.1
  • 42
    • 0038336030 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1713823.
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1713823 35, 2679 (1964).
    • (1964) J. Appl. Phys. , vol.35 , pp. 2679
    • Hickmott, T.W.1
  • 46
    • 36149017207 scopus 로고
    • 10.1103/PhysRev.97.1538,. 0031-899X
    • A. Rose, Phys. Rev. 10.1103/PhysRev.97.1538 97, 1538 (1955). 0031-899X
    • (1955) Phys. Rev. , vol.97 , pp. 1538
    • Rose, A.1
  • 48
    • 0001731655 scopus 로고
    • 0022-3115 10.1016/0022-3115(94)00529-X.
    • B. D. Evans, J. Nucl. Mater. 0022-3115 10.1016/0022-3115(94)00529-X 219, 202 (1995).
    • (1995) J. Nucl. Mater. , vol.219 , pp. 202
    • Evans, B.D.1
  • 50
    • 0014482458 scopus 로고
    • 0021-8979 10.1063/1.1657840.
    • W. Pong, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1657840 40, 1733 (1969).
    • (1969) J. Appl. Phys. , vol.40 , pp. 1733
    • Pong, W.1
  • 52
    • 0028483740 scopus 로고
    • 0040-6090 10.1016/0040-6090(94)90022-1.
    • S. Gravano and R. D. Gould, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(94)90022-1 248, 263 (1994).
    • (1994) Thin Solid Films , vol.248 , pp. 263
    • Gravano, S.1    Gould, R.D.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.