Optical characterization of ZnMnO thin films on c-Al2O 3

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 53, Issue 1, 2008, Pages 98-101

  Lin, H J ^a   Lin, D Y ^a   Wu, J S ^a   Chou, W C ^b   Yang, C S ^b   Wang, J S ^c   Lo, W H ^c  

^a NATIONAL CHANGHUA UNIVERSITY OF EDUCATION   (Taiwan)

^b NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

^c CHUNG YUAN CHRISTIAN UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

Photoluminescence; Reflectance; X ray diffraction; ZnMnO

Indexed keywords

EID: 49649091583     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.53.98     Document Type: Conference Paper

References (19)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukara, J. Cibert and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
2. J. H. Park, S. J. Jang, S. S. Kim and B. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 89, 121108 (2006).
3. X. W. Suna and H. S. Kwok, J. Appl. Phys. 86, 408 (1999).
4. Z. G. Yao, X. Q. Zhang, I. Suemune and S. H. Huang, J. Lumin. 122-123, 825 (2007).
5. Y. S. Jung, W. K. Choia, O. V. Kononenko and G. N. Panin, J. Appl. Phys. 99, 013502 (2006).
6. S. Lee, H. S. Lee, D. S. Kim, D. Y. Kim and Y.-D. Woo, J. Korean Phys. Soc. 45, 1304 (2004).
7. Y. Q. Chang, D. B. Wang, X. H. Luo, X. Y. Xu, X. H. Chen, L. Li, C. P. Chen, R. M. Wang, J. Xu and D. P. Yu, Appl. Phys. Lett. 83, 4020 (2003).
8. M. Nakayamaa, H. Tanaka, K. Masuko, T. Fukushima, A. Ashida and N. Fujimura, Appl. Phys. Lett. 88, 241908 (2006).
9. D. G. Thomas, J. Phys. Chem. Solids 15, 86 (1960).
10. M. Leibovitch, L. Kronik, E. Fefer, L. Burstein, V. Korobov and Y. Shapira, J. Appl. Phys. 79, 8549 (1996).
11. Gh. Dumitras, H. Riechert, H. Porteanu and F. Koch, Phys. Rev. B 66, 205324 (2002).
12. J. S. Liang, S. D. Wang, Y. S. Huang, C. W. Tien, Y. M. Chang, C. W. Chen, N. Y. Li, K. K. Tiong and F. H. Pollak, J. Phys.: Condens. Matter 15, 55 (2003).
13. L. Kronik and Y. Shapira, Surf. Sci. Rep. 37, 1 (1999).
14. H. W. Kim, K. S. Kim and C. Lee, J. Mater. Sci. Lett. 22, 1117 (2003).
15. T. Yasuda and Y. Segawa, Phys. Stat. Sol. (b) 241, 676 (2004).
16. K. Ramamoorthy, M. Arivanandhan, K. Sankaranarayanan and C. Sanjeeviraja, Mater. Chem. Phys. 85, 257 (2004).
17. X. Wei, B. Man, C. Xue, C. Chen and M. Liu, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 8586 (2006).
18. T. Shimomura, D. Kim and M. Nakayama, J. Lumin. 112, 191 (2005).
19. K. P. Korona, A. Wysmolek, K. Pakula, R. Stepniewski, J. M. Baranowski, I. Grzegory, B. Lucznik, M. Wroblewski and S. Porowski, Appl. Phys. Lett. 69, 788 (1996).