Nanomechanical resonance tuning and phase effects in optical near-field interaction

Nano Letters

Volumn 4, Issue 9, 2004, Pages 1669-1672

  Taubner, T ^a   Keilmann, F ^a   Hillenbrand, R ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE OF BIOCHEMISTRY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON; METAL; SILICON DERIVATIVE;

ARTICLE; ILLUMINATION; INFRARED RADIATION; LIGHT SCATTERING; MICROSCOPY; MOLECULAR INTERACTION; PHONON; SPECTROSCOPY; SURFACE PROPERTY; WAVEFORM;

EID: 4644244021     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl0491677     Document Type: Article

References (36)

1. Kreibig, U.; Vollmer, M. Optical properties of metal clusters; Springer-Verlag: Berlin, Heidelberg, 1995.
2. Bohren, C. F.; Huffmann, D. R. Absorption and Scattering of Light by Small Particles; Wiley-Interscience: New York, 1983.
3. Smolyaninov, I. I.; Zayats, A. V.; Davis, C. C. Optics Lett. 1997, 22, 1592-1594.
4. Nie, S.; Emory, S. R. Science 1997, 275, 1102-1106.
5. Kneipp, K.; Wang, Y.; Kneipp, H.; Perelman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667-1670.
6. Xu, H.; Bjerneld, E. J.; Käll, M.; Börjesson, L. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4357-4360.
7. Stöckle, R. M.; Suh, Y. D.; Deckert, V.; Zenobi, R. Chem. Phys. Lett. 2000, 318, 131-136.
8. Hayazawa, N.; Inouye, Y.; Sekkat, Z.; Kawata, S. J. Chem. Phys. 2002, 117, 1296-1301.
9. Salerno, M.; Krenn, J. R.; Lamprecht, B.; Schnider, G.; Ditlbacher, H.; Felidj, N.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Optoelectron. Rev. 2002, 10, 217-224.
10. Stockmann, M. I.; Faleev, S. V.; Bergmann, D. J. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 67402-1-67402-4.
11. Klar, T.; Perner, M.; Grosse, S.; Plessen, G. v.; Spirkl, W.; Feldmann, J. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 4249-4252.
12. Su, K.-H.; Wei, Q.-H.; Zhang, X.; Mock, J. J.; Smith, D. R.; Schultz, S. Nano Lett. 2003, 3, 1087-1090.
13. Fromm, D. P.; Sundaramurthy, A.; Schuck, P. J.; Kino, G.; Moerner, W. E. Nano Lett. 2004, 4, 957-961.
14. Prikulis, J.; Svedberg, F.; Käll, M.; Enger, J.; Ramser, K.; Goksör, M.; Hanstorp, D. Nano Lett. 2004, 4, 115-118.
15. Prikulis, J.; Xu, H.; Gunnarsson, L.; Käll, M.; Olin, H. J. Appl. Phys. 2002, 92, 6211-6214.
16. Mikhailovsky, A. A.; Petruska, M. A.; Li, K.; Stockman, M. I.; Klimov, V. I. Phys. Rev. B 2004, 69, 085401.
17. Aravind, P. K.; Nitzan, A.; Metiu, H. Surf. Sci. 1981, 110, 189-204.
18. Weeber, J. C.; Girard, C.; Krenn, J. R.; Dereux, A.; Goudonnet, J. P. J. Appl. Phys. 1999, 86, 2576-2583.
19. Rechberger, W.; Hohenau, A.; Leitner, A.; Krenn, J. R.; Lamprecht, B.; Aussenegg, F. R. Optics Commun. 2003, 220, 137-141.
20. Hillenbrand, R.; Keilmann, F. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 3029-3032.
21. Martin, O. J. F.; Girard, C. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 705-707.
22. Novotny, L.; Sanchez, E. J.; Xie, X. S. Ultramicroscopy 1998, 71, 21-29.
23. Knoll, B.; Keilmann, F. Optics Commun. 2000, 182, 321-328.
24. Hillenbrand, R.; Taubner, T.; Keilmann, F. Nature 2002, 418, 159-162.
25. Aravind, P. K.; Metiu, H. J. Phys. Chem. 1982, 86, 5076-5084.
26. Aravind, P. K.; Metiu, H. Surf. Sci. 1983, 124, 506-528.
27. Porto, J. A.; Johansson, P.; Apell, S. P.; Lopez-Rios, T. Phys. Rev. B 2003, 67, 85409-1-85409-9.
28. Knoll, B.; Keilmann, F. Nature 1999, 399, 134-137.
29. Taubner, T.; Hillenbrand, R.; Keilmann, F. J. Microscopy 2003, 210, 311-314.
30. Knoll, B.; Keilmann, F. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3980-3982.
31. Hillenbrand, R.; Knoll, B.; Keilmann, F. J. Microscopy 2001, 202, 77-83.
32. Knoll, B.; Keilmann, F. J. Microscopy 1999, 194, 512-515.
33. Hillenbrand, R.; Keilmann, F. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 25-27.
34. Porto, J. A.; Carminati, R.; Greffet, J. J. J. Appl. Phys. 2000, 88, 4845-4850.
35. Engelbrecht, F.; Helbig, R. Phys. Rev. B 1993, 48, 15698-15707.
36. Korzeniewski, G. E.; Maniv, T.; Metiu, H. J. Chem. Phys. 1982, 76, 1564-1573.