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Volumn 602, Issue 12, 2008, Pages 2128-2134

Field-assisted oxygen etching for sharp field-emission tip

Author keywords

Field emission (FE); Field ion microscopy (FIM); Tungsten tips

Indexed keywords

ETCHING; FIELD EMISSION;

EID: 44949185339     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.susc.2008.04.034     Document Type: Article
Times cited : (36)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.