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Volumn 53, Issue 7, 2007, Pages 279-282

Spectroscopical analysis of luminescent silicon rich oxide films

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EFTEM; Photoluminescence; Raman; Silicon clusters; Silicon rich oxide; XPS

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EID: 41149128687     PISSN: 0035001X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.