Molecular conductance switch-on of single ruthenium complex molecules

Journal of the American Chemical Society

Volumn 130, Issue 8, 2008, Pages 2553-2559

  Seo, Kyoungja ^a   Konchenko, Alexander V ^a   Lee, Junghyun ^a   Gyeong, Sook Bang ^a   Lee, Hyoyoung ^a  

^a Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC CONDUCTANCE; ELECTRON TRAPS; ENERGY GAP; FERMI LEVEL; LIGANDS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS; THRESHOLD VOLTAGE;

ELECTRONIC ENERGY GAP; MOLECULAR CONDUCTANCE; MOLECULAR JUNCTIONS; MOLECULAR SWITCHES;

RUTHENIUM COMPOUNDS;

RUTHENIUM;

ARTICLE; CONDUCTANCE; DIELECTRIC CONSTANT; ELECTRIC POTENTIAL; OXIDATION REDUCTION STATE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 39749164014     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja077089u     Document Type: Article

References (39)

1. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705.
2. Collier, C. P.; Wong, E. W.; Belohradsk yacute, M.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Kuekes, P. J.; Williams, R. S.; Heath, J. R. Science 1999, 285, 391.
3. Collier, C. P.; Mattersteig, G.; Wong, E. W.; Luo, Y.; Beverly, K.; Sampaio, J.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. Science 2000, 289, 1172.
4. Tour, J. M.; Kozaki, M.; Seminario, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 8486.
5. Blum, A. S.; Kushmerick, J. G.; Long, D. P.; Patterson, C. H.; Yang, J. C.; Henderson, J. C.; Yao, Y.; Tour, J. M.; Shashidhar, R.; Ratna, B. R. Nat. Mater. 2005, 4, 167.
6. Sortino, S.; Petralia, S.; Conoci, S.; Di Bella, S. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1122.
7. Sortino, S.; Petralia, S.; Conoci, S.; Bella, S. D. J. Mater. Chem. 2004, 14, 811.
8. Gittins, D. I.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. Nature 2000, 408, 67.
9. He, H. X.; Li, X. L.; Tao, N. J.; Nagahara, L. A.; Amlani, I.; Tsui, R. Phys. Rev. B 2003, 68, 045302.
10. Wassel, R. A.; Credo, G. M.; Fuierer, R. R.; Feldheim, D. L.; Gorman, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 295.
11. He, J.; Fu, Q.; Lindsay, S.; Ciszek, J. W.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 127, 11932.
12. Xiao, X.; Nagahara, L. A.; Rawlett, A. M.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 9235.
13. Cai, L.; Cabassi, M. A.; Yoon, H.; Cabarcos, O. M.; McGuiness, C. L.; Flatt, A. K.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Mayer, T. S. Nano Lett. 2005, 5, 2365.
14. Albrecht, T.; Guckian, A.; Ulstrup, J.; Vos, J. G. Nano Lett. 2005, 5, 1451.
15. Wassel, R. A.; Credo, G. M.; Fuierer, R. R.; Feldheim, D. L.; Gorman, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 295.
16. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8122.
17. Blum, A. S.; Yang, J. C.; Shashidhar, R.; Ratna, B. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3322.
18. Yu, L. H.; Keane, Z. K.; Ciszek, J. W.; Cheng, L.; Stewart, M. P.; Tour, J. M.; Natelson, D. Phys. Rev. B 2004, 93, 4.
19. He, J.; Lindsay, S. M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11932.
20. Albrecht, T.; Guckian, A.; Kuznetsov, A. M.; Vos, J. G.; Ulstrup, J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 17132.
21. Morita, T.; Lindsay, S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 7262.
22. Li, X. L.; Hihath, J.; Chen, F.; Masuda, T.; Zang, L.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 11535.
23. Adam, M. R.; Theresa, J. H.; Larry, A. N.; Raymond, K. T.; Ganesh, K. R.; Stuart, M. L. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3043.
24. Kitagawa, K.; Morita, T.; Kimura, S. Langmuir 2005, 21, 10624.
25. Kim, B. S.; Beebe, J. M.; Olivier, C.; Rigaut, S.; Touchard, D.; Kushmerick, J. G.; Zhu, X. Y.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 7521.
26. Li, C.; Fan, W.; Straus, D. A.; Lei, B.; Asano, S.; Zhang, D.; Han, J.; Meyyappan, M.; Zhou, C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 7750.
27. Li, C.; Ly, J.; Lei, B.; Fan, W.; Zhang, D.; Han, J.; Meyyappan, M.; Thompson, M.; Zhou, C. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 9646.
28. Hoertz, P. G.; Thompson, D. W.; Friedman, L. A.; Meyer, G. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 9690.
29. Balzani, V.; Juris, A.; Venturi, M.; Campagna, S.; Serroni, S. Chem. Rev. 1996, 96, 759.
30. Sauvage, J. P.; Collin, J. P.; Chambron, J. C.; Guillerez, S.; Coudret, C.; Balzani, V.; Barigelletti, F.; De Cola, L.; Flamigni, L. Chem. Rev. 1994, 94, 993.
31. Lee, J. H.; Seo, K.; Bang, G. S.; Choi, N. J.; Lee, H. Submitted for publication.
32. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods, Fundamentals and Applications; John Wiley & Sons: New York, 1980.
33. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W., Jr.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303.
34. Basch, H.; Cohen, R.; Ratner, M. A. Nano Lett. 2005, 5, 1668.
35. Hanna, A. E.; Tinkham, M. Phys. Rev. B 1991, 44.
36. Hipps, K. W. Scanning Tunneling Spectroscopy. In Handbook of Applied Solid State Spectroscopy; Vij, D. R., Ed.; Springer-Verlag: Berlin, 2006; Chapter 7.
37. Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 996.
38. Memming, R. Comprehensive Treatise of Electrochemistry; Conway, B. C., Ed.; Plenum: New York, 1983; Vol 7, Chapter 8.
39. Schmidt, A.; Armstrong, N. R.; Goeltner, C.; Muellen, K. J. Phys. Chem. 1994, 98, 11780.