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Volumn 124, Issue 33, 2002, Pages 9690-9691

Ligand-localized electron trapping at sensitized semiconductor interfaces

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LIGAND;

EID: 0037151633     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja0268478     Document Type: Article
Times cited : (37)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.