Rayleigh-instability-induced metal nanoparticle chains encapsulated in nanotubes produced by atomic layer deposition

Nano Letters

Volumn 8, Issue 1, 2008, Pages 114-118

  Qin, Yong ^a   Lee, Seung Mo ^a   Pan, Anlian ^a   Gösele, Ulrich ^a   Knez, Mato ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE OF MICROSTRUCTURE PHYSICS   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINA; ATOMIC LAYER DEPOSITION; CHAIN LENGTH; COPPER; COPPER OXIDES; NANOTUBES; NANOWIRES;

NANOCHAINS; RAYLEIGH INSTABILITY; VOLUME SHRINKAGE;

NANOPARTICLES;

EID: 38749117497     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl0721766     Document Type: Article

References (32)

1. Krenn, J. R. Nat. Mater. 2003, 2, 210.
2. Maier, S. A.; Kik, P. G.; Atwater, H. A.; Meltzer, S.; Harel, E.; Koel, B. E.; Requicha, A. A. G. Nat. Mater. 2003, 2, 229.
3. Redi, F. X.; Cho, R. S.; Murray, C. B.; O'Brien, S. Nature 2003, 423, 968.
4. DeVries, G. A.; Brunnbauer, M.; Hu, Y.; Jackson, A. M.; Long, B.; Neltner, B. T.; Uzun, O.; Wunsch, B. H.; Stellacci, F. Science 2007, 315, 358.
5. Collier, C. P.; Vossmeyer, T.; Heath, J. R. Annu. Rev. Phys. Chem. 1998, 49, 371.
6. Tang, Z. Y.; Kotov, N. A. Adv. Mater. 2005, 17, 951.
7. Lee, S. W.; Mao, C.; Flynn, C. E.; Belcher, A. M. Science 2002, 296, 892.
8. Mao, C.; Solis, D. J.; Reiss, B. D.; Kottmann, S. T.; Sweeney, R. Y.; Hayhurst, A.; Georgiou, G.; Iverson, B.; Belcher, A. M. Science 2004, 303, 213.
9. Lin, Y.; Boeker, A.; He, J.; Sill, K.; Xiang, H.; Abetz, C.; Li, X.; Wang, J.; Emrick, T.; Long, S.; Wang, Q.; Balazs, A.; Russell, T. P. Nature 2005, 434, 55.
10. Storhoff, J. J.; Mirkin, C. A. Chem. Rev. 1999, 99, 1849.
11. Shenhar, R.; Rotello, V. M. Acc. Chem. Res. 2003, 36, 549.
12. Plateau, J. Transi. Annual Reports of the Smithsonian Institution, 1873, p. 1863.
13. Rayleigh, L. Proc. London Math. Soc. 1878, 10, 4.
14. Nichols, F. A.; Mullins, W. W. Trans. Metall. Soc. AIME 1965, 233, 1840.
15. De Gennes, P. G.; Brochard-Wyart, F.; Quere, D. Capillarity and Wetting Phenomena; Springer: New York, 2004.
16. Lian, J.; Wang, L.; Sun, X.; Yu, Q.; Ewing, R. C. Nano Lett. 2006, 6, 1047.
17. Park, J.; Suh, K. Y.; Seo, S.; Lee, H. H. J. Chem. Phys. 2006, 124, Art. No. 214710.
18. Kolb, F. M.; Hofmeister, H.; Zacharias, M.; Gösele, U. Appl. Phys. A 2005, 80, 1405-1408.
19. Toimil-Molares, M. E.; Balogh, A. G.; Cornelius, T. W.; Neumann, R.; Trautmann, C. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 5337.
20. Karim, S.; Toimil-Molares, M. E.; Balogh, A. G.; Ensinger, W.; Cornelius, T. W.; Khan, E. U.; Neumann, R. Nanotechnology 2006, 17, 5954.
21. Chen, J. T.; Zhang, M. F.; Russell, T. P. Nano Lett. 2007, 7, 183.
22. George, S. M.; Ott, A. W.; Klaus, J. W. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13121.
23. Ritala, M.; Leskela, M. In Handbook of Thin Film Materials; Nalwa, H. S., ed.; Academic: San Diego, CA, 2002; Volume 1, p 103.
24. Puurunen, R. L. J. Appl. Phys. 2005, 97, 121301.
25. Knez, M.; Kadri, A.; Wege, C.; Gösele, U.; Jeske, H.; Nielsch, K. Nano Lett. 2006, 6, 1172.
26. Fan, H. J.; Knez, M.; Scholz, R.; Nielsch, K.; Pippel, E.; Hesse, D.; Zacharias, M.; Gösele, U. Nat. Mater. 2006, 5, 627.
27. Knez, M.; Nielsch, K.; Niinistö, L. Adv. Mater. 2007, 19, 3425.
28. Jiang, X. C.; Herricks, T.; Xia, Y. Nano Lett. 2002, 2, 1333.
29. Qin, Y.; Staedler, T.; Jiang, X. Nanotechnology 2007, 18, 035608.
30. Kim, J. Y.; Rodriguez, J. A.; Hanson, J. C.; Frenkel, A. I.; Lee, P. L. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 10684.
31. Groner, M. D.; Fabreguette, F. H.; Elam, J. W.; George, S. M. Chem. Mater. 2004, 16, 639.
32. Guo, Y. F.; Guo, W. L. Nanotechnology 2006, 17, 4726.