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Volumn 51, Issue 6, 2007, Pages 2014-2018

Annealing effect on the optical properties and the residual stress of E-Beam-Evaporated TiO2 Thin Films

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Annealing; E beam evaporation; Residual stress

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EID: 38349156646     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.51.2014     Document Type: Article
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References (25)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.