Active drift compensation applied to nanorod manipulation with an atomic force microscope

Review of Scientific Instruments

Volumn 78, Issue 11, 2007, Pages

  Tranvouez, E ^a   Boer Duchemin, E ^a   Comtet, G ^a   Dujardin, G ^a  

^a UNIVERSITÉ PARIS SACLAY   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; COLLOIDS; GRAPHITE; PYROLYSIS;

ACTIVE DRIFT COMPENSATION; AMBIENT CONDITIONS; DRIFT COMPENSATION TECHNIQUES; THERMAL DRIFT;

NANORODS;

EID: 36749044340     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2804164     Document Type: Article

References (20)

1. M. Abe, Y. Sugimoto, O. Custance, and S. Morita, Appl. Phys. Lett. 87, 173503 (2006).
2. N. H. Thomson, M. Fritz, M. Radmacher, J. P. Cleveland, C. F. Schmidt, and P. K. Hansma, Biophys. J. 70, 2421 (1996).
3. B. S. Swartzentruber, Phys. Rev. Lett. 76, 459 (1996).
4. X. R. Qin, B. S. Swartzentruber, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 85, 3660 (2000).
5. B. A. Mantooth, Z. J. Donhauser, K. F. Kelly, and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 73, 313 (2002).
6. S. J. T. van Noort, K. O. van der Werf, B. G. de Grooth, and J. Greve, Biophys. J. 77, 2295 (1999).
7. K. J. Ito, Y. Uehara, S. Ushioda, and K. Ito, Rev. Sci. Instrum. 71, 420 (2000).
8. H. I. Smith, J. Vac. Sci. Technol. B 24, 3083 (2006).
9. B. Mokaberi and A. Requicha, IEEE. Trans. Autom. Sci. Eng. 3, 199 (2006).
10. H. Chen, N. Xi, and G. Li, IEEE. Trans. Autom. Sci. Eng. 3, 208 (2006).
11. D. W. Pohl and R. Möller, Rev. Sci. Instrum. 59, 840 (1988).
12. P. Rerkkumsup, M. Aketagawa, K. Takada, Y. Togawa, N. T. Thinh, and Y. Kozuma, Rev. Sci. Instrum. 75, 1061 (2004).
13. M. Abe, Y. Sugimoto, O. Custance, and S. Morita, Nanotechnology 16, 3029 (2005).
14. M. Abe, Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Morita, N. Oyabu, and S. Morita, Appl. Phys. Lett. 90, 203103 (2007).
15. R. Bernard, G. Comtet, G. Dujardin, A. J. Mayne, V. Huc, and H. Tang, Phys. Rev. B 75, 045420 (2007).
16. Z. A. Peng and X. Peng, J. Am. Chem. Soc. 124, 3343 (2002).
17. T. Kanno, H. Tanaka, N. Miyoshi, M. Fukuda, and T. Kawai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 1892 (2000).
18. R. Bernard, V. Huc, P. Reiss, F. Chandezon, P. Jegou, S. Palacin, G. Dujardin, and G. Comtet, J. Phys.: Condens. Matter 16, 7565 (2004).
19. S. Hsieh, S. Meltzer, C. R. C. Wang, A. A. G. Requicha, M. E. Thompson, and B. E. Koel, J. Phys. Chem. B 106, 231 (2002).
20. A. A. G. Requicha, Proc. IEEE 91, 1922 (2003).