Efficiency droop behaviors of InGaNGaN multiple-quantum-well light-emitting diodes with varying quantum well thickness

Applied Physics Letters

Volumn 91, Issue 18, 2007, Pages

  Li, Y L ^a   Huang, Y R ^a   Lai, Y H ^a  

^a NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT DENSITY; ELECTRONS; GALLIUM NITRIDE; SEMICONDUCTING ALUMINUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS;

DROOP BEHAVIORS; HOLE DISTRIBUTION FUNCTIONS; INTERNAL QUANTUM EFFICIENCY (IQE) MEASUREMENTS; QUANTUM WELL THICKNESS;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 35648940727     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2805197     Document Type: Article

References (13)

1. S. Nakamura, M. Senoh, N. Iwasa, and S. Nagahama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L797 (1995).
2. T. Mukai, S. Nagahama, M. Sano, T. Yanamoto, D. Morita, T. Mitani, Y. Narukawa, S. Yamamoto, I. Niki, M. Yamada, S. Sonobe, S. Shioji, K. Deguchi, T. Naitou, H. Tamaki, Y. Murazaki, and M. Kameshima, Phys. Status Solidi A 200, 52 (2003).
3. J. K. Kim, T. Gessmann, E. F. Schubert, J.-Q. Xi, H. Luo, J. Cho, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett. 88, 013501 (2006).
4. Y.-L. Li, E. F. Schubert, and J. W. Graff, Appl. Phys. Lett. 76, 2728 (2000).
5. T. Mukai, M. Yamada, and S. Nakamura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 3976 (1999).
6. M. R. Krames, O. B. Shchekin, R. Mueller-Mach, G. O. Mueller, L. Zhou, G. Harbers, and M. G. Craford, J. Disp. Technol. 3, 160 (2007).
7. Y. C. Lin, S. J. Chang, Y. K. Su, T. Y. Tsai, C. S. Chang, S. C. Shei, C. W. Kuo, and S. C. Chen, Solid-State Electron. 47, 849 (2003).
8. J. Bai, T. Wang, and S. Sakai, J. Appl. Phys. 88, 4729 (2000).
9. T. Wang, D. Nakagawa, M. Lachab, T. Sugahara, and S. Sakai, Appl. Phys. Lett. 74, 3128 (1999).
10. A. Hangleiter, J. S. Im, H. Kollmer, S. Heppel, J. Off, and F. Scholz, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 3, 15 (1998).
11. M. C. Schmidt, K.-C. Kim, H. Sato, N. Fellows, H. Masui, S. Nakamura, S. P. Denbaars, and J. S. Speck, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 46, L126 (2007).
12. K.-C. Kim, M. C. Schmidt, H. Sato, F. Wu, N. Fellows, M. Saito, K. Fujito, J. S. Speck, S. Nakamura, and S. P. Denbaars, Phys. Status Solidi (RRL): Rapid Res. Lett. 1, 125 (2007).
13. G. Franssen, T. Suski, P. Perlin, R. Bohdan, A. Bercha, W. Trzeciakowski, I. Makarowa, P. Prystawko, M. Leszczyński, I. Grzegory, S. Porowski, and S. Kokenyesi, Appl. Phys. Lett. 87, 041109 (2005).