Structural study of nanocrystalline nickel thin films

Journal of Applied Crystallography

Volumn 40, Issue SUPPL. 1, 2007, Pages

  Radic, N ^a   Dubcek, P ^a   Bernstorff, S ^b   Djerdj, I ^c   Tonejc, A M ^c  

^a RUDER BO KOVI INSTITUTE   (Croatia)

^b SINCROTRONE TRIESTE   (Italy)

^c UNIVERSITY OF ZAGREB   (Croatia)

Author keywords

Atomic force microscopy; GISAXS; Nanocrystalline nickel; Surface topography; Thin films; XRD

Indexed keywords

EID: 34248389006     PISSN: 00218898     EISSN: 16005767     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0021889807004682     Document Type: Conference Paper

References (33)

1. Agnew, S. R., Elliot, B. R., Youngdahl, C. J., Hemker, K. J. & Weertman, J. R. (2000). Mater. Sci. Eng. A, 285, 391-396.
2. Amenitsch, H., Rappolt, M., Kriechbaum, M., Mio, H., Laggner, P. & Bernstorff, S. (1998). J. Synchrotron Rad. 5, 506-508.
3. Aus, M. J., Szpunar, B., Erb, U., El-Sherik, A. M., Palumbo, G. & Aust, K. T. (1994). J. Appl. Phys. 75, 3632-3634.
4. Birringer, R., Gleiter, H., Klein, H.-P. & Marquardt, P. (1984). Phys. Lett. A, 102, 365-369.
5. Bonetti, E., Campari, E. G., Pasquini, L., Sampaolesi, E. & Scipione, G. (1999). Nanostruct. Mater. 12, 817-820.
6. Brunetti, L. & Monticone, E. (1993). Meas. Sci. Technol. 4, 1244-1248.
7. Da Silva, M. & Klement, U. (2005). Z. Metallkd. 96, 1009-1014.
8. Djerdj, I., Tonejc, A. M., Tonejc, A. & Radić, N. (2005). Vacuum, 80, 151-158.
9. El-Sherik, A. M. & Erb, U. (1995). Plat. Surf. Finish. 82, 85-89.
10. Gai, P. L., Mitra, R. & Weertman, J. R. (2002). Pure Appl. Chem. 74, 1519-1526.
11. Hugo, R. C., Kung, H., Weertman, J. R., Mitra, R., Knapp, J. A. & Follstaedt, D. M. (2003). Acta Mater. 51, 1937-1943.
12. Hurley, D. C., Geiss, R. H., Kopycinska-Müller, M., Müller, J., Read, D. T., Wright, J. E., Jennett, N. M. &Maxwell, A. S. (2005). J. Mater. Res. 20, 1186-1193.
13. Kim, B.-K., Szpunar, J. A. & Varano, R. (2002). Mater. Sci. Forum, 408-412, 937-942.
14. Knapp, J. A. & Follstaedt, D. M. (2004). J. Mater. Sci. 19, 218-227.
15. Korznikov, A. V., Pakiela, Z. & Kurzidlowski, K. J. (2002). Acta Phys. Pol. A, 102, 265-271.
16. Metikos-Hukovic, M., Grubac, Z., Radić, N., Dubcek, P. & Djerdj, I. (2007). Electrochem. Commun. 9, 299-302.
17. Metikos-Hukovic, M., Grubac, Z., Radić, N. & Tonejc, A. (2006). J. Mol. Catal. Chem. 249, 172-180.
18. Mishra, R. & Balasubramaniam, R. (2004). Corros. Sci. 46, 3019-3029.
19. Mishra, R., Basu, B. & Balasubramaniam, R. (2004). Mater. Sci. Eng. A, 373, 370-373.
20. Mitra, R., Chiou, W. A. &Weertman, J. A. (2004). J. Mater. Res. 19, 1029-1037.
21. Mitra, R., Hoffman, R. A., Madan, A. &Weertman, J. R. (2001). J. Mater. Res. 16, 1010- 1027.
22. Natter, H., Löffler, M.-S., Krill, C. E. & Hempelmann, R. (2001). Scr. Mater. 44, 2321-2325.
23. Natter, H., Schmeltzer, M. & Hempelmann, R. (1998). J. Mater. Res. 13, 1186-1197.
24. Palumbo, G., Gonzalez, F., Brennenstuhl, A. M., Erb, U., Shmayda, W. & Lichtenberger, P. C. (1997). Nanostruct. Mater. 9, 737-746.
25. Rodríguez-Carvajal, J. (2000). FULLPROF. Program for Rietveld Refinement. Laboratorie Leon Brillouin, CEA-Saclay, France.
26. Shriram, S., Mohan, S., Renganathan, N. G. & Venkatachalam, R. (2000). Trans. Inst. Met. Finish. 78, 194-197.
27. Siow, K. S., Tay, A. A. O. & Oruganti, P. (2004). Mater. Sci. Technol. 20, 285-294.
28. Thompson, P., Cox, D. E. & Hastings, J. B. (1987). J. Appl. Cryst. 20, 79-83.
29. Valiev, R. Z., Korznikova, G. F., Mulyukov, K. Y., Mishra, R. S. & Mukherjee, A. K. (1997). Philos. Mag. B, 75, 803-811.
30. Wang, S., Lewis, J. K., Roberge, P. R. & Erb, U. (1996). http://www.corrosionsource.com/events/intercorr/techsess/papers/session4/ abstracts/wang.html
31. Yang, B. & Vehoff, H. (2004). Z. Metallkd. 95, 499-504.
32. Zhilyaev, A. P., Nurislamova, G. V., Surinach, S., Baro, M. D. & Langdon, T. G. (2002). Mater. Phys. Mech. 5, 23-30.
33. Zhong, W. H., Sun, C. Q. & Li, S. (2004). Solid State Commun. 130, 603-606.