Improvements in the characterization of the crystalline structure of acid-terminated alkanethiol self-assembled monolayers on Au(111)

Langmuir

Volumn 23, Issue 2, 2007, Pages 582-588

  Mendoza, Sandra M ^a   Arfaoui, Imad ^a   Zanarini, Simone ^b   Paolucci, Francesco ^b   Rudolf, Petra ^a  

^a UNIVERSITY OF GRONINGEN   (Netherlands)

^b UNIVERSITY OF BOLOGNA   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CONTACT ANGLE; CYCLIC VOLTAMMETRY; MONOLAYERS; ORGANIC ACIDS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SELF ASSEMBLY; SUPERLATTICES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

ACID GROUPS; ALKANETHIOLS; HEXAGONAL PHASES; MOLECULAR RESOLUTION;

CRYSTAL STRUCTURE;

EID: 33846882609     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la0605539     Document Type: Article

References (47)

1. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Phys.: Condens. Matter 2001, 13, 11333.
2. Duwez, A.-S. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 134, 97.
3. Smith, R. K.; Lewis, P. A.; Weiss, P. S. Prog. Surf. Sci. 2004, 75, 1.
4. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103.
5. Berná, J.; Leigh, D. A.; Lubomska, M.; Mendoza, S. M.; Pérez, E.; Rudolf, P.; Teobaldi, G.; Zerbetto, F. Nat. Mater. 2005, 5, 704.
6. Gu, T.; Whitesell, J. K.; Fox, M. A. J. Org. Chem. 2004, 69, 4075.
7. Herdt, G. C.; Jung, D. R.; Czanderna, A. W. Prog. Surf. Sci. 1995, 50, 103.
8. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
9. Faucheux, N.; Schweiss, R.; Lützow, K.; Werner, C.; Groth, T. Biomaterials 2004, 25, 2721.
10. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
11. Camillone, N.; Chidsey, C. E. D.; Liu, G.-Y.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 3503.
12. Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. Langmuir, 1994, 10, 2853.
13. Alves, C. A.; Porter, M. D. Langmuir 1993, 9, 3507.
14. Li, T.-W.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 2935.
15. Qian, Y.; Yang, G.; Yu, J.; Jung, T. A.; Liu, G.-Y. Langmuir 2003, 19, 6056.
16. Berrena, E.; Ocal, C.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 1999, 111, 9797.
17. Vericat, C.; Vela, M. E.; Salvarezza, R. C. Phys. Chem. Chem. Phys. 2005, 7, 3258.
18. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558.
19. Ito, E.; Konno, K.; Non; J.; Kanai, K.; Ouchi, Y.; Seki, K.; Hara, M. Appl. Surf. Sci. 2005, 244, 584.
20. Gorman, C. B.; He, Y.; Carroll, R. L. Langmuir 2001, 17, 5324.
21. Dannenberger, O.; Weiss, K.; Himmel, H.-J.; Jäger, B.; Buck, M.; Wöll, Ch. Thin Solid Films 1997, 307, 183.
22. Arnold, R.; Azzam, W.; Terfort, A.; Wöll, Ch. Langmuir 2002, 18, 3980.
23. Willey, T. M.; Vance, A. L.; van Buuren, T.; Bostedt, C.; Nelson, A. J.; Terminello, L. J.; Fadley, C. S. Langmuir 2004, 20, 2746.
24. Wang, H.; Chen, S.; Li, L.; Jiang, S. Langmuir 2005, 21, 2633.
25. Wang, D. A.; Tian, F.; Lu, J. G. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 60.
26. Klein, H.; Blanc, W.; Pierrisnard, R.; Fauquet, C.; Dumas, Ph. Eur. Phys. J. B 2000, 14, 371.
27. Lee, S.; Puck, A.; Graupe, M.; Colorado, R., Jr.; Shon, Y.-S.; Randall Lee, T.; Perry, S. S. Langmuir 2001, 17, 7364.
28. Cecchet, F.; Rudolf, P.; Rapino, S.; Margotti, M.; Paolucci, F.; Baggerman, J.; Brouwer, A. M.; Kay, E. R.; Wong, J. K. Y.; Leigh, D. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 15192.
29. Moulder, F.; Stickle, W. F.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Physical Electronics, Inc., 1995.
30. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
31. Gonella, G.; Cavalleri, O.; Terreni, S.; Cvetko, D.; Floreano, L.; Morgante, A.; Canepa, M.; Rolandi, R. Surf. Sci. 2004, 638, 566.
32. Laiho, T.; Leiro, J. A.; Heinonen, M. H.; Mattila, S. S.; Lukkari, J. J Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2005, 142, 105.
33. Mittal, K. L., Ed. Contact Angle Wettability and Adhesion; Utrecht, The Netherlands, 1993.
34. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8122.
35. Beamson, G.; Briggs, D. In High-Resolution XPS of Organic Polymers, The Scienta ESCA300 Database; John Wiley & Sons Ltd.: Chichester, U.K., 1992.
36. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1989, 93, 1670.
37. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017.
38. Chailapakul, O.; Sun, L.; Xu, C.; Crooks, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12459.
39. Finklea, H. O. In Electroanalytical Chemistry; Bard, A. J., Rubinstein, I., Eds.; Marcel Dekker: New York, 1996; Vol. 19, pp 109-135.
40. Terrettaz, S.; Becka, A. M.; Miller, C. J. Phys. Chem. 1995, 99, 11216.
41. Diao, P.; Jiang, D.; Cui, X.; Gu, D.; Tong, R.; Zhong, B. J. Electroanal. Chem. 1999, 464, 61.
42. Amatore, C.; Saveant, J.-M.; Tessier D. J. Electroanal. Chem. 1983, 147, 39.
43. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods; Wiley: New York, 2001.
44. Barsoukov, E., MacDonald, R. J., Eds. Impedance Spectroscopy. Theory, Experiment, and Applications; Wiley: New York, 2005.
45. Boukamp, B. A. Solid State Ionics 1986, 20, 31.
46. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287.
47. Michael, K.; Vernekar, V.; Keselowsky, B.; Meredith, J. Latour, R.; Garcia, A. Langmuir 2003, 19, 8033.