Identification of interfacial and bulk effects in modulating fatigue behaviors of Pb (Zr0.52Ti0.48)O3 thin films

Journal of Applied Physics

Volumn 101, Issue 1, 2007, Pages

  Wang, Y ^a   Yuan, F ^b   Wei, T ^b   Zhu, C ^b   Wang, K F ^b   Xia, Y D ^b   Liu, J M ^b  

^a NANJING UNIVERSITY   (China)

^b INTERNATIONAL CENTRE FOR MATERIALS PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DEFECTS; INTERFACES (MATERIALS); LEAD COMPOUNDS; POLARIZATION; VOLTAGE CONTROL;

FATIGUE ENDURANCE; FATIGUE RESPONSES; SWITCHING FATIGUE;

THIN FILMS;

EID: 33846335521     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2403235     Document Type: Article

References (25)

1. J. F. Scott and C. A. Araujo, Science 246, 1400 (1989).
2. O. Auciello, J. F. Scott, and R. Ramesh, Phys. Today 51 (11), 22 (1998).
3. C. A. P. de Araujo, J. D. Cuchiare, L. D. McMillan, M. C. Scott, and J. F. Scott, Nature (London) 374, 627 (1995).
4. A. K. Tagantsev, M. Landivar, E. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 78, 2623 (1995).
5. M. Dawber and J. F. Scott, Appl. Phys. Lett. 76, 1060 (2000).
6. D. Dimos, H. N. Al-Shareef, W. L. Warren, and B. A. Tuttle, J. Appl. Phys. 80, 1682 (1996).
7. H. N. Al-Shareef, D. Dimos, T. J. Boyle, W. L. Warren, and B. A. Tuttle, Appl. Phys. Lett. 68, 690 (1996).
8. A. K. Tagantsev and I. A. Stolichnov, Appl. Phys. Lett. 74, 1326 (1999).
9. I. Stolichnov, A. Tagantsev, E. Colla, S. Gentil, S. Hiboux, J. Baborowski, P. Muralt, and N. Setter, J. Appl. Phys. 88, 2154 (2000).
10. J. F. Scott, C. A. Araujo, B. M. Melnick, L. D. Mcmillan, and R. Zuleeg, J. Appl. Phys. 70, 382 (1991).
11. W. L. Warren, B. A. Tuttle, and D. Dimos, Appl. Phys. Lett. 67, 1426 (1995).
12. J. J. Lee, C. L. Thio, and S. B. Desu, J. Appl. Phys. 78, 5073 (1995).
13. Y. Wang, Q. Y. Shao, and J.-M. Liu, Appl. Phys. Lett. 88, 122902 (2006).
14. H. N. Al-Shareef, B. A. Tuttle, W. L. Warren, D. Dimos, M. V. Raymond, and M. A. Rodriguez, Appl. Phys. Lett. 68, 272 (1996).
15. G. L. Yuan, J.-M. Liu, Y. P. Wang, D. Wu, S. T. Zhang, Q. Y. Shao, and Z. G. Liu, Appl. Phys. Lett. 84, 3352 (2004).
16. S. H. Kim, Y. S. Choi, C. E. Kim, and D. Y. Yang, Thin Solid Films 325, 72 (1998).
17. H. Han, J. Zhong, S. Kotru, P. Padmini, X. Y. Song, and R. K. Pandey, Appl. Phys. Lett. 88, 092902 (2006).
18. E. L. Colla, D. V. Taylor, A. K. Tagantsev, and N. Setter, Appl. Phys. Lett. 72, 2478 (1998).
19. A. M. Bratkovsky and A. P. Levanyuk, Phys. Rev. Lett. 84, 3177 (2000).
20. H. Z. Jin and J. Zhu, J. Appl. Phys. 92, 4594 (2002).
21. Y. Wang, K. F. Wang, C. Zhu, and J.-M. Liu, J. Appl. Phys. 99, 044109 (2006).
22. A. K. Tagantsev, I. Stolichnov, E. L. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 90, 1387 (2001).
23. S. Zafar, E. J. Robert, J. Bo, W. Bruce, C. Peir, D. Taylor, and G. Sherry, Appl. Phys. Lett. 73, 175 (1998).
24. G. L. Yuan, J.-M. Liu, S. T. Zhang, D. Wu, Y. P. Wang, and Z. G. Liu, Appl. Phys. Lett. 84, 954 (2004).
25. S. Okamura, M. Takaoka, T. Nishida, and T. Shiosaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 5481 (2000).