Properties of organic thin-film transistors on hybrid-type interlayer dielectric materials

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 49, Issue 3, 2006, Pages 865-868

  Oh, Teresa ^a   Kim, Hong Bae ^a  

^a Chongju University   (South Korea)

Author keywords

Contact angle; Diffusion limited aggregation; SiOC film; Surface diffusivity; Surface energy

Indexed keywords

EID: 33749851026     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (13)

1. D. J. Gundlach, Y. Y. Lin, T. N. Jackson, S. F. Nelson and D. G. Schlom, IEEE Electron Device Lett. 18, 87 (1997).
2. I. Kymissis, C. D. Dimitrakopoulos and S. Purushothaman, IEEE Tran. Electron Dev. 48, 1060 (2001).
3. S. F. Nelson, Y.-Y. Lin, D. J. Gundlach and T. N. Jackson, Appl. Phys. Lett. 72, 1854 (1998).
4. D. J. Gundlach, Y. Y. Lin, T. N. Jackson, S. F. Nelson and D. G. Schlom, IEEE Electron Device Lett. 18, 87 (1997).
5. S. H. Jin, J. W. Kim, C. A. Lee, B. G. Park and J. D. Lee, J. Korean Phys. Soc. 44, 185 (2004).
6. C. K. Song, B. W. Koo, S. B. Lee and D. H. Kim, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 2730 (2002).
7. M. Shtein, J. Mapel, J. B. Benziger and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 81, 268 (2002).
8. I. Kymissis, C. D. Dimitrakopoulos and S. Purushothaman, IEEE Trans. Electron Dev. 48, 1060 (2001).
9. W. J. Huang, B. Q. Li and J. M. Zuo, Surface Science 595, 157 (2005).
10. T. Oh, G. J. Ahan, S. T. Ko, K. S. Kim, K. M. Lee and C. K. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. 42, 1517 (2003).
11. T. Oh, K. S. Oh, K. M. Lee and C. K. Choi, Thin Solid Films 468, 316 (2004).
12. T. Oh, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 1409 (2005).
13. K. S. Oh, Y. H. Yu, K. M. Lee and C. K. Choi, J. Korean Phys. Soc. 48, 1680 (2006).