Origin of clear ferromagnetism for p-type GaN implanted with Fe+ (5 and 10 at.%)

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 8, 2006, Pages

  Shon, Yoon ^a   Lee, Sejoon ^a,f   Jeon, H C ^a   Park, Y S ^a   Kim, D Y ^a   Kang, T W ^a   Kim, Jin Soak ^g   Kim, Eun Kyu ^b   Fu, D J ^c   Fan, X J ^c   Park, Y J ^d   Baik, J M ^e   Lee, J L ^e  

^a Dongguk University   (South Korea)

^b Hanyang University   (South Korea)

^c WUHAN UNIVERSITY   (China)

^d Korea Institute of Science and Technology   (South Korea)

^e Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

^f INSTITUTE OF INDUSTRIAL SCIENCE   (Japan)

^g NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; DIFFRACTION; FERROMAGNETISM; HYSTERESIS; MAGNETIC PROPERTIES;

ANNEALING TEMPERATURE; FERROMAGNETIC HYSTERESIS LOOPS; PHOTOLUMINESCENCE TRANSITIONS; TRIPLE AXIS DIFFRACTION;

GALLIUM NITRIDE;

EID: 33747851037     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2338000     Document Type: Article

References (15)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
2. M. Zajac, R. Doradzinski, J. Gosk, J. Szczytko, M. Lefeld, M. Kaminska, A. Twardowski, M. Palczewska, E. Granka, and W. Gebicki, Appl. Phys. Lett. 78, 1276 (2001).
3. G. T. Thaler, M. E. Overberg, B. P. Gila, R. Franzier, C. R. Albernathy, S. J. Pearton, J. S. Lee, S. M. Lee, Y. D. Park, Z. G. Khim, J. Kim, and F. Ren, Appl. Phys. Lett. 80, 3964 (2002).
4. Y. Shon, Y. H. Kwon, Sh. U. Yuldashev, J. H. Lim, C. S. Park, D. J. Fu, H. J. Kim, T. W. Kang, and X. J. Fan, Appl. Phys. Lett. 81, 1845 (2002).
5. K. Ando, Appl. Phys. Lett. 82, 100 (2003).
6. J. Kim, F. Ren, G. T. Thaler, R. Frazier, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, J. M. Zavada, and R. G. Whilson, Appl. Phys. Lett. 82, 1565 (2003).
7. M. Marques, L. K. Teles, L. M. R. Scolfaro, J. Furthmüller, F. Bechstedt, and L. G. Ferreira, Appl. Phys. Lett. 86, 164105 (2005).
8. J. M. Baik, Y. Shon, T. W. Kang, and J.-L. Lee, Appl. Phys. Lett. 87, 42105 (2005).
9. D. P. Norton, S. J. Pearton, A. F. Hebard, N. Theodoropoulou, L. A. Boatner, and R. G. Wilson, Appl. Phys. Lett. 82, 239 (2003).
10. S. Lee, Y. Shon, S.-W. Lee, S. J. Hwang, H. S. Lee, T. W. Kang, and D. Y. Kim, Appl. Phys. Lett. 88, 212513 (2006).
11. K. Sato and H. Katayama-Yoshida, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L485 (2001).
12. N. Theodoropoulou, A. F. Hebard, S. N. G. Chu, M. E. Overberg, C. R. Albernathy, S. J. Pearton, R. G. Wilson, and J. M. Zavada, Appl. Phys. Lett. 79, 3452 (2001).
13. N. Theodoropoulou, M. E. Overberg, S. N. G. Chu, A. F. Hebard, C. R. Abernathy, R. G. Wilson, J. M. Zavada, K. P. Lee, and S. J. Pearton, Phys. Status Solidi B 228, 337 (2001).
14. S. J. Pearton, C. R. Albernathy, M. E. Overberg, G. T. Thaler, D. P. Norton, N. Theodoropoulou, A. F. Hebard, Y. D. Park, F. Ren, J. Kim, and L. A. Boatner, J. Appl. Phys. 93, 1 (2003).
15. Y. Shon, Y. H. Kwon, Y. S. Park, Sh. U. Yuldashev, S. J. Lee, C. S. Park, K. J. Chung, S. Y. Yoon, H. J. Kim, W. C. Lee, D. J. Fu, T. W. Kang, X. J. Fan, Y. J. Park, and H. T. Oh, J. Appl. Phys. 95, 761 (2004).