Magnetic properties of n-GaMnN thin films

Applied Physics Letters

Volumn 80, Issue 21, 2002, Pages 3964-3966

  Thaler, G T ^a   Overberg, M E ^a   Gila, B ^a   Frazier, R ^a   Abernathy, C R ^a   Pearton, S J ^a   Lee, J S ^b   Lee, S Y ^b   Park, Y D ^b   Khim, Z G ^b   Kim, J ^a   Ren, F ^a  

^a University of Florida   (United States)

^b Seoul National University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CAPACITANCE VOLTAGE; CROSS-SECTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPIES; DEGREE OF ORDERING; FERROMAGNETIC ORDERINGS; HIGH RESOLUTION; MAGNETIC CHARACTERIZATION; MN ATOMS; MN CONCENTRATIONS; POWDER X RAY DIFFRACTION; ROOM TEMPERATURE; SECOND-PHASE; SQUID MAGNETOMETERS; THEORETICAL PREDICTION;

MAGNETIC PROPERTIES; MAGNETOMETERS; MANGANESE; SEMICONDUCTING GALLIUM; THIN FILMS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 79956035479     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1481533     Document Type: Article

References (25)

1. S. Datta and B. Das, Appl. Phys. Lett. 56, 665 (1990). apl APPLAB 0003-6951
2. B. E. Kane, Nature (London) 393, 133 (1998). nat NATUAS 0028-0836
3. S. Das Sarma, Am. Sci. 89, 516 (2001). amd AMSCAC 0003-0996
4. H. Munekata, H. Ohno, S. von Molnar, Armin Segmuller, L. L. Chang, and L. Esaki, Phys. Rev. Lett. 63, 1849 (1989). prl PRLTAO 0031-9007
5. M. Tanaka, T. Hayashi, T. Nishinaga, H. Shimada, H. Tsuchiya, and Y. Otuka, J. Cryst. Growth 175, 1063 (1997). jcr JCRGAE 0022-0248
6. H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, and Y. Iye, Appl. Phys. Lett. 69, 363 (1996). apl APPLAB 0003-6951
7. A. van Esch, L. Van Bockstal, J. DeBoeck, G. Verbanck, A. S. van Steenbergen, P. J. Wellmann, B. Grietens, R. Bogaerts, F. Herlach, and G. Borghs, Phys. Rev. B 56, 13103 (1997). prb PRBMDO 0163-1829
8. M. E. Overberg, B. P. Gila, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, N. Theodoropoulou, K. T. McCarthy, S. B. Arnason, and A. F. Hebard, Appl. Phys. Lett. 79, 3128 (2001). apl APPLAB 0003-6951
9. G. A. Medvedkin, T. Ishibashi, T. Nishi, K. Hayata, Y. Hasegawa, and K. Sato, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 39, L949 (2000). jjc JAPLD8 0021-4922
10. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000). sci SCIEAS 0036-8075
11. K. Sato and H. Katayama-Yoshida, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L485 (2001). jjc JAPLD8 0021-4922
12. Y. L. Soo, G. Kioseoglou, S. Kim, S. Huang, Y. H. Kao, S. Kumabara, S. Owa, T. Kondo, and H. Munekata, Appl. Phys. Lett. 79, 3926 (2001). apl APPLAB 0003-6951
13. Y. Shon, Y. H. Kwon, D. Y. Kim, X. Fan, D. Fu, and T. W. Kang, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 5304 (2001). jjb JAPNDE 0021-4922
14. S. Kuwabara, T. Kondo, T. Chikyow, P. Ahmet, and H. Munekata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L724 (2001). jjc JAPLD8 0021-4922
15. T. Szyszko, G. Kamler, B. Strojek, G. Weisbrod, S. Podsiadlo, L. Adamowicz, W. Gebicki, J. Szczytko, A. Twardowski, and K. Sikorski, J. Cryst. Growth 233, 631 (2001). jcr JCRGAE 0022-0248
16. N. Theodopoulou, A. F. Hebard, S. N. G. Chu, M. E. Overberg, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, R. G. Wilson, and J. M. Zavada, Appl. Phys. Lett. 79, 3452 (2001). apl APPLAB 0003-6951
17. S. Sonada, S. Shimizu, T. Sasaki, Y. Yamamoto, and H. Hori, J. Cryst. Growth (unpublished).
18. M. L. Reed, M. K. Ritums, H. N. Stadelmaier, M. J. Reed, C. A. Parker, S. M. Bedair, and N. A. El-Masry, Mater. Lett. 51, 500 (2001). mal MLETDJ 0167-577X
19. M. L. Reed, N. A. El-Masry, H. H. Stadelmaier, M. K. Ritums, M. J. Reed, C. A. Parker, J. C. Roberts, and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 79, 3473 (2001). apl APPLAB 0003-6951
20. N. Theodoropoulou, K. P. Lee, M. Overberg, S. N. G. Chu, A. F. Hebard, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, and R. G. Wilson, J. Nanosci. Nanotech. 1, 101 (2001).
21. M. E. Overberg, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, N. Theodoropoulou, K. T. McCarthy, and A. F. Hebard, Appl. Phys. Lett. 79, 1312 (2001). apl APPLAB 0003-6951
22. L. H. Lewis and K. M. Bussmann, Rev. Sci. Instrum. 67, 3537 (1996). rsi RSINAK 0034-6748
23. T. M. Pekarek, B. C. Crooker, D. D. Nolte, J. Deak, M. McElfresh, J. C. P. Chang, E. S. Harmon, M. R. Melloch, and J. M. Woodall, J. Magn. Magn. Mater. 169, 261 (1997). jmm JMMMDC 0304-8853
24. B. E. Larson, K. C. Hass, and R. L. Aggarwal, Phys. Rev. B 33, 1789 (1996). prb PRBMDO 0163-1829
25. M. Zajac, J. Gosk, M. Kaminska, A. Twardowski, T. Szyszko, and S. Podsiado, Appl. Phys. Lett. 79, 2432 (2001). apl APPLAB 0003-6951