SCOPUS 정보 검색 플랫폼 - 논문 보기

메뉴 건너뛰기

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 48, Issue 6, 2006, Pages 1321-1324

Structural investigation of GaN nanograins nucleated on a sapphire substrate

(4) Kim, Chinkyo a Lee, Seogwoo b Lee, Hyunjae b Cho, Meoungwhan b

a Kyung Hee University (South Korea)

b TOHOKU UNIVERSITY (Japan)

Author keywords

GaN; HVPE; Nucleation; Synchrotron X ray scattering

Indexed keywords

EID: 33746046017 PISSN: 03744884 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Article

Times cited : (6)

References (14)

1
- 0032657923
- M. K. Kelly, R. P. Vaudo, V. M. Phanse, L. Görgens, O. Ambacher and M. Stutzmann, Jpn. J. Appl. Phys. 38, L217 (1999).
- (1999) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.38
- Kelly, M.K.¹ Vaudo, R.P.² Phanse, V.M.³ Görgens, L.⁴ Ambacher, O.⁵ Stutzmann, M.⁶

2
- 33644917450
- H. J. Lee, M. Yang, H. S. Ahn, K. H. Kim, J. Y. Yi, K. S. Jang, J. H. Chang, H. S. Kim, C. R. Cho and S. W. Kim, J. Korean Phys. Soc. 48, 266 (2006).
- (2006) J. Korean Phys. Soc. , vol.48 , pp. 266
- Lee, H.J.¹ Yang, M.² Ahn, H.S.³ Kim, K.H.⁴ Yi, J.Y.⁵ Jang, K.S.⁶ Chang, J.H.⁷ Kim, H.S.⁸ Cho, C.R.⁹ Kim, S.W.¹⁰

3
- 12744276029
- H. J. Lee, K. H. Kim, J. Y. Yi, M. Yang, H. S. Ahn, J. H. Chang, H. S. Kim, S. N. Yi, S. C. Lee, S. W. Kim, Y. Honda, M. Yamaguchi and N. Sawaki, J. Korean Phys. Soc. 45, 813 (2004).
- (2004) J. Korean Phys. Soc. , vol.45 , pp. 813
- Lee, H.J.¹ Kim, K.H.² Yi, J.Y.³ Yang, M.⁴ Ahn, H.S.⁵ Chang, J.H.⁶ Kim, H.S.⁷ Yi, S.N.⁸ Lee, S.C.⁹ Kim, S.W.¹⁰ Honda, Y.¹¹ Yamaguchi, M.¹² Sawaki, N.¹³

4
- 12744252841
- S. N. Yi, H. S. Ahn, M. Yang, K. H. Kim, H. Kim, J. Y. Yi, J. H. Chang and H. S. Kim, J. Korean Phys. Soc. 45, 598 (2004).
- (2004) J. Korean Phys. Soc. , vol.45 , pp. 598
- Yi, S.N.¹ Ahn, H.S.² Yang, M.³ Kim, K.H.⁴ Kim, H.⁵ Yi, J.Y.⁶ Chang, J.H.⁷ Kim, H.S.⁸

5
- 0141545019
- H. M. Kim, W. C. Lee, T. W. Kang, K. S. Chung, C. S. Yoon and C. K. Kim, Chem. Phys. Lett. 380, 181 (2003).
- (2003) Chem. Phys. Lett. , vol.380 , pp. 181
- Kim, H.M.¹ Lee, W.C.² Kang, T.W.³ Chung, K.S.⁴ Yoon, C.S.⁵ Kim, C.K.⁶

6
- 79955990342
- H. M. Kim, D. S. Kim, D. Y. Kim, T. W. Kang, Y. H. Cho and K. S. Chung, Appl. Phys. Lett. 81, 2193 (2002).
- (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.81 , pp. 2193
- Kim, H.M.¹ Kim, D.S.² Kim, D.Y.³ Kang, T.W.⁴ Cho, Y.H.⁵ Chung, K.S.⁶

7
- 3042835508
- H. M. Kim, Y.-H. Cho, H. Lee, S. I. Kim, S. R. Ryu, D. Y. Kim, T. W. Kang and K. S. Chung, Nano Lett. 4, 1059 (2004).
- (2004) Nano Lett. , vol.4 , pp. 1059
- Kim, H.M.¹ Cho, Y.-H.² Lee, H.³ Kim, S.I.⁴ Ryu, S.R.⁵ Kim, D.Y.⁶ Kang, T.W.⁷ Chung, K.S.⁸

8
- 0001408312
- M. S. Yi, H. H. Lee, D. J. Kim, S. J. Park, D. Y. Noh, C. C. Kim and J. H. Je, Appl. Rev. Lett. 75, 2187 (1999).
- (1999) Appl. Rev. Lett. , vol.75 , pp. 2187
- Yi, M.S.¹ Lee, H.H.² Kim, D.J.³ Park, S.J.⁴ Noh, D.Y.⁵ Kim, C.C.⁶ Je, J.H.⁷

9
- 0000946068
- P. F. Miceli and C. J. Palmstrom, Phys. Rev. B 51, 5506 (1995).
- (1995) Phys. Rev. B , vol.51 , pp. 5506
- Miceli, P.F.¹ Palmstrom, C.J.²

10
- 17944374563
- C. C. Kim, J. H. Je, M. S. Yi, D. Y. Noh and P. Ruterana, J. Appl. Phys. 90, 2191 (2001).
- (2001) J. Appl. Phys. , vol.90 , pp. 2191
- Kim, C.C.¹ Je, J.H.² Yi, M.S.³ Noh, D.Y.⁴ Ruterana, P.⁵

11
- 0001367955
- P. M. Reimer, H. Zabel, C. P. Flynn and J. A. Dura, Phys. Rev. B 45, 11426 (1992).
- (1992) Phys. Rev. B , vol.45 , pp. 11426
- Reimer, P.M.¹ Zabel, H.² Flynn, C.P.³ Dura, J.A.⁴

12
- 0037105118
- C. Kim, S. -J. Leem, I. K. Robinson, W. I. Park, D. H. Kim and G. C. Yi, Phys. Rev. B 66, 113404 (2002).
- (2002) Phys. Rev. B , vol.66 , pp. 113404
- Kim, C.¹ Leem, S.J.² Robinson, I.K.³ Park, W.I.⁴ Kim, D.H.⁵ Yi, G.C.⁶

13
- 84941463137
- G. C. Osbourn, IEEE J. Quantum Electron. QE-22, 1677 (1986).
- (1986) IEEE J. Quantum Electron. , vol.QE-22 , pp. 1677
- Osbourn, G.C.¹

14
- 0004108666
- Taylor & Francis, London
- D. K. Bowen and B. K. Tanner, High Resolution X-ray Diffractometry and Topography (Taylor & Francis, London, 1998), p. 120.
- (1998) High Resolution X-ray Diffractometry and Topography , pp. 120
- Bowen, D.K.¹ Tanner, B.K.²

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.