Structural, electrical, and optical properties of p-type ZnO thin films with Ag dopant

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 20, 2006, Pages

  Kang, Hong Seong ^a   Ahn, Byung Du ^a   Kim, Jong Hoon ^a   Kim, Gun Hee ^a   Lim, Sung Hoon ^a   Chang, Hyun Woo ^a   Lee, Sang Yeol ^a  

^a Yonsei University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DOPING (ADDITIVES); PHOTOLUMINESCENCE; PULSED LASER DEPOSITION; SILVER; SUBSTITUTION REACTIONS; ZINC OXIDE;

DEPOSITION TEMPERATURE; DOPANTS; HOLE CONCENTRATION; NEUTRAL ACCEPTOR;

THIN FILMS;

EID: 33646871377     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2203952     Document Type: Article

References (30)

1. D. C. Look, Semicond. Sci. Technol. 20, S55 (2005).
2. D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B 80, 383 (2001).
3. H. Ohota, K. Kawamura, M. Orita, M. Hirano, N. Sarukura, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. 77, 475 (2000).
4. S. Y. Lee, Y. Li, J. S. Lee, J. K. Lee, M. Nastasi, S. A. Crooker, Q. X. Jia, H. S. Kang, and J. S. Kang, Appl. Phys. Lett. 85, 218 (2003).
5. H. S. Kang, J. S. Kang, J. W. Kim, and S. Y. Lee, J. Appl. Phys. 95, 1246 (2004).
6. K.-K. Kim, H.-S. Kim, D.-K. Kwang, J.-H. Lim, and S.-J. Park, Appl. Phys. Lett. 83, 63 (2003).
7. C. C. Lin, S. Y. Chen, S. Y. Cheng, and H. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 84, 5040 (2004).
8. Y. R. Ryu, T. S. Lee, and H. W. White, Appl. Phys. Lett. 83, 87 (2003).
9. S. Y. Lee, E. S. Shim, H. S. Kang, S. S. Pang, and J. S. Kang, Thin Solid Films 473, 31 (2005).
10. A. Kobayashi, O. F. Sankey, and J. D. Dow, Phys. Rev. B 28, 946 (1983).
11. T. Aoki, Y. Hatanaka, and D. C. Look, Appl. Phys. Lett. 76, 3257 (2000).
12. D. C. Look, G. M. Renlund, R. H. Burgener II, and J. R. Sizelove, Appl. Phys. Lett. 85, 5269 (2004).
13. F. X. Xiu, Z. Yang, L. J. Mandalapu, D. T. Zhao, and J. L. Liu, Appl. Phys. Lett. 87, 152101 (2005).
14. V. Vaithianathan, B.-T. Lee, and S. S. Kim, J. Appl. Phys. 98, 043519 (2005).
15. J. G. Lu, Z. Z. Ye, F. Zhuge, Y. J. Zeng, B. H. Zhao, and L. P. Zhu, Appl. Phys. Lett. 85, 3134 (2004).
16. M. Joseph, H. Tabata, H. Saeki, K. Ueda, and T. Kawai, Physica B 302, 140 (2001).
17. A. V. Singh, R. M. Mehra, A. Wakahara, and A. Yoshida, J. Appl. Phys. 93, 396 (2003).
18. C. H. Park, S. B. Zhang, and Su-Huai Wei, Phys. Rev. B 66, 073202 (2002).
19. D. C. Look, R. L. Jones, J. R. Sizelove, N. Y. Garces, N. C. Giles, and L. E. Halliburton, Phys. Status Solidi A 195, 171 (2003).
20. C. F. Klingshirn, Semiconductor Optics (Springer, Berlin, 1995).
21. J. Fan and R. Freer, J. Appl. Phys. 77, 9 (1995).
22. Y. Kanai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 30, 2021 (1991).
23. E. Rita, U. Wahl, A. M. L. Lopes, J. P. Araújo, J. G. Correia, E. Alves, J. C. Soares, and The ISOLDE Collaboration, Physica B 340, 240 (2003).
24. G. D. Yuan, Z. Z. Ye, L. P. Zhu, Q. Qian, B. H. Zhao, and R. X. Fan, Appl. Phys. Lett. 86, 202106 (2005).
25. S. A. Studenikin, Michael Cocivera, W. Kellner, and H. Pascher, J. Lumin. 91, 223 (2000).
26. Ü. Özgür, Ya. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Doǧan, V. Avrutin, S.-J. Cho, and H. Morko̧, J. Appl. Phys. 98, 041301 (2005).
27. Y. R. Ryu, S. Zhu, D. C. Look, J. M. Wrobel, H. M. Jeong and H. W. White, J. Cryst. Growth 216, 330 (2000).
28. D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, R. L. Jones, D. B. Eason, and G. Cantwell, Appl. Phys. Lett. 81, 1830 (2002).
29. D. C. Reynolds, D. C. Look, B. Jogai, C. W. Litton, T. C. Collins, W. Harsch, and G. Cantwell, Phys. Rev. B 57, 12151 (1998).
30. K. Thonke, Th. Gruber, N. Teofilov, R. Schönfelder, A. Waag, and R. Sauer, Physica B 308-310, 945 (2001).