Microstructure-hardened silver nanowires

Nano Letters

Volumn 6, Issue 3, 2006, Pages 468-472

  Wu, Bin ^a   Heidelberg, Andreas ^a   Boland, John J ^a   Sader, John E ^b   Sun, XiaoMing ^c   Li, YaDong ^c  

^a TRINITY COLLEGE DUBLIN   (Ireland)

^b UNIVERSITY OF MELBOURNE   (Australia)

^c TSINGHUA UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; MICROSTRUCTURE; PLASTIC DEFORMATION; SILVER; STRENGTH OF MATERIALS; TOUGHNESS; WIRE;

DUCTILE MATERIALS; LATERAL FORCE ATOMIC FORCE MICROSCOPY; SILVER NANOWIRES;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 33645456728     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl052427f     Document Type: Article

References (24)

1. Levitt, A. P. Whisker Technology; Levitt, A. P., Ed.; Wiley-Interscience: New York, 1970.
2. Wu, B.; Heidelberg, A.; Boland, J. J. Nat. Mater. 2005, 4, 525.
3. Wong, E. W.; Sheehan, P. E.; Lieber, C. M. Science 1997, 277, 1971.
4. Uchic, M. D.; Dimiduk, D. M.; Florando, J. N.; Nix, W. D. Science 2004, 305, 986-989.
5. Cuenot, S.; Champagne, S. D.; Nysten, B. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 1690.
6. Cuenot, S.; Fretigny, C.; Demoustier-Champagne, S.; Nysten, B. Phys. Rev. B. 2004, 69, 165410.
7. Liang, H. Y.; Upmanyu, M. Phys. Rev. B. 2005, 71, 241403(R).
8. Callister, W. D., Jr. Materials Science and Engineering: An Introduction, third edition; John Wiley & Sons: New York, 1994.
9. Sun, X. M.; Li, Y. D. Adv. Mater. 2005, 17, 2626.
10. Chen, H. Y.; Cao, Y.; Zhang, H. R.; Liu, L. B.; Yu, H. C.; Tian, H. F.; Xie, S. S.; Li, J. Q. J. Phys. Chem. B. 2004, 108, 12038.
11. Jiang, P.; Li, S. Y.; Xie, S. S.; Gao, Y.; Song, L. Chem.-Eur. J. 2004, 10, 4817.
12. Wiley, B.; Sun, Y. G.; Mayers, B.; Xia, Y. N. Chem.-Eur. J. 2005, 11, 454.
13. Yu, M. F.; Lourie, O.; Dyer, M. J.; Moloni, K.; Kelly, T. F.; Ruoff, R. S. Science 2000, 287, 637-640.
14. Poncharal, P.; Wang, Z. L.; Ugarte, D.: De Heer, W. A. Science 1999, 283, 1513-1516.
15. Gao, R. P.; Wang, Z. L.; Bai, Z. G.; De Heer, W. A.; Dai, L. M.; Gao, M. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 622-625.
16. Salvetat, J. P.; Briggs, G. A. D.; Bonard, J. M.; Bacsa, R. R.; Eulik, A. J.; Stockli, T.; Burnham, N. A.; Forro, L. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 944.
17. Salvetat, J. P.; Kulik, A. J.; Bonard, J. M.; Briggs, G. A. D.; Stockli, T.; Metenier, K.; Bonnamy, S.; Beguin, F.; Burnham, N. A.; Forro, L. Adv. Mater. 1999, 11, 161.
18. Kis, A.; Mihailovic, D.; Remskar, M.; Mrzel, A.; Jesih, A.; Piwonski, I.; Kulik, A. J.; Benoit, W.; Forro, L. Adv. Mater. 2003, 15, 733.
19. Walters, D. A.; Ericson, L. M.; Casavant, M. J.; Liu, J.; Colbert, D. T.; Smith, K. A.; Smalley, R. E. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 3803.
20. Tombler, T. W.; Zhou, C. W.; Alexseyev, L.; Kong, J.; Dai, H. J.; Liu, L.; Jayanthi, C. S.; Tang, M. J.; Wu, S. Y. Nature 2000, 405, 769.
21. Minot, E. D.; Yaish, Y.; Sazonova, V.; Park, J. Y.; Brink, M.; McEuen, P. L. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 1564011.
22. Falvo, M. R.; Clary, G. J.; Taylor, R. M.; Chi, V.; Brooks, F. P.; Washburn, S.; Superfine, R. Nature 1997, 389, 582.
23. Li, X. D.; Gao, H. S.; Murphy, C. J.; Caswell, K. K. Nano Lett. 2003, 3, 1495.
24. Heidelberg, A.; Ngo, L. T.; Wu, B.; Phillips, M. A.; Sharma, S.; Kamins, T. I.; Sader, J. E.; Boland, J. J., submitted for publication.