Electrical properties of field-effect transistors based on C 60 nanowhiskers

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 11, 2006, Pages

  Ogawa, Kenichi ^a   Kato, Tomohiro ^a   Ikegami, Asato ^a   Tsuji, Hajime ^a   Aoki, Nobuyuki ^a   Ochiai, Yuichi ^a   Bird, Jonathan P ^b  

^a CHIBA UNIVERSITY   (Japan)

^b the State University of New York   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BULK CRYSTALS; NANOWHISKERS; VACUUM CONDITIONS;

ANNEALING; CARRIER MOBILITY; ELECTRIC PROPERTIES; FIELD EFFECT TRANSISTORS; LATTICE CONSTANTS; X RAY POWDER DIFFRACTION;

CRYSTAL WHISKERS;

EID: 33645217511     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2186519     Document Type: Article

References (21)

1. F. Michaud, M. Barrio, S. Toscani, D. O. Lopez, J. L. Tamarit, V. Agafonov, H. Szwarc, and R. Ceolin, Phys. Rev. B 57, 10351 (1998).
2. S. Ogawa, H. Furusawa, T. Watanabe, and H. Yamamoto, J. Phys. Chem. Solids 61, 1047 (2000).
3. K. Miyazawa, A. Obayashi, and M. Kuwabara, J. Am. Ceram. Soc. 84, 3037 (2001).
4. K. Miyazawa, Y. Kuwasaki, A. Obayashi, and M. Kuwabara, J. Mater. Res. 17, 83 (2002).
5. J. Minato and K. Miyazawa, Carbon 43, 2837 (2005).
6. P. R. L. Malenfant, C. D. Dimitrakopoulos, J. D. Gelorme, L. L. Kosbar, T. O. Graham, A. Curioni, and W. Andreoni, Appl. Phys. Lett. 80, 2517 (2002).
7. Y.-Y. Lin, D. J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Electron Device Lett. 18, 606 (1997).
8. K. Horiuchi, S. Nakada, S. Uchino, S. Hashii, N. Aoki, Y. Ochiai, and M. Shimizu, Appl. Phys. Lett. 81, 1911 (2002).
9. S. Kobayashi, T. Takenobu, S. Mori, A. Fujiwara, and Y. Iwasa, Appl. Phys. Lett. 82, 4581 (2003).
10. R. C. Haddon, A. S. Perel, R. C. Morris, T. T. M. Palstra, A. F. Hebard, and R. M. Fleming, Appl. Phys. Lett. 67, 121 (1995).
11. Y. S. Yang, S. H. Kim, J. Lee, H. Y. Chu, L. M. Do, H. Lee, J. Oh, and T. Zyung, Appl. Phys. Lett. 80, 1595 (2002).
12. K. Horiuchi, S. Uchino, K. Nakada, N. Aoki, M. Shimizu, and Y. Ochiai, Physica B 329-333, 1538 (2003
13. ); K. Horiuchi, S. Uchino, K. Nakada, N. Aoki, M. Shimizu, and Y. Ochiai, Inst. Phys. Conf. Ser. 171 (2002).
14. T. Kanbara, K. Shibata, S. Fujiki, Y. Kubozono, S. Kashino, T. Urisu, M. Sakai, A. Fujiwara, R. Kumashiro, and K. Tanigaki, Chem. Phys. Lett. 379, 223 (2003).
15. K. Horiuchi, T. Kato, S. Hashii, A. Hashimoto, T. Sasaki, N. Aoki, and Y. Ochiai, Appl. Phys. Lett. 86, 153108 (2005).
16. P. A. Heiney, J. E. Fisher, A. R. McGhie, W. J. Romanov, A. M. Denestein, J. P. McGauley, A. B. Smith, and D. E. Cox, Phys. Lett. 66, 2911 (1991).
17. O. Zhou and D. E. Cox, J. Phys. Chem. Solids 53, 1373 (1992).
18. M. Ramm, P. Luger, D. Zobel, W. Duczek, and J. C. A. Boeyens, Cryst. Res. Technol. 31, 43 (1996).
19. C. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 14, 99 (2002).
20. K. Horiuchi, S. Uchino, K. Nakada, N. Aoki, M. Simizu, and Y. Ochiai, Physica B 329-333, 1538 (2003).
21. K. Horiuchi, S. Uchino, S. Hashii, A. Hashimoto, T. Kato, T. Sasaki, N. Aoki, and Y. Ochiai, Appl. Phys. Lett. 85, 1987 (2004).