Contact free defect investigation in as grown Fe-doped SI-InP

Materials Research Society Symposium Proceedings

Volumn 864, Issue , 2005, Pages 573-578

  Hahn, Sabrina ^a   Dornich, Kay ^a   Hahn, Torsten ^a   Gründig Wendrock, Bianca ^a   Niklas, Jürgen R ^c   Schwesig, Peter ^b   Müller, Georg ^b  

^a TU BERGAKADEMIE FREIBERG   (Germany)

^b UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

^c NONE

Author keywords

Defects; InP; MD PICTS; MDP

Indexed keywords

ACTIVATION ENERGY; CRYSTAL DEFECTS; DOPING (ADDITIVES); INDIUM COMPOUNDS; IRON; MICROWAVES;

INP; MD-PICTS; MDP;

PHOTOCURRENTS;

EID: 30544434925     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1557/proc-864-e9.21     Document Type: Conference Paper

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17. K. Dornich, T. Hahn, B. Gründig-Wendrock, J. R. Niklas, P. Schwesig, U. Sahr, G. Müller, DGKK- Frühjahrstagung, Halle, Germany (2004)