Preparation, characterization, and electrical properties of a self-assembled meso-pyridyl porphyrin monolayer on gold surfaces

Australian Journal of Chemistry

Volumn 58, Issue 11, 2005, Pages 810-816

  Sathyapalan, Amarchand ^a,b   Lohani, Anup ^a   Santra, Sangita ^a   Goyal, Saurabh ^a   Ravikanth, M ^a   Mukherji, Soumyo ^a   Rao, V Ramgopal ^a  

^a INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY BOMBAY   (India)

^b NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY   (Singapore)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC PROPERTIES; GOLD; MONOLAYERS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SELF ASSEMBLY; SURFACE PHENOMENA; SYNTHESIS (CHEMICAL); X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

BONDIGN MECHANISM; GOLD SURFACE; POINT CURRENTS; THIOLATE SPECIES;

PORPHYRINS;

EID: 29144456856     PISSN: 00049425     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1071/CH05176     Document Type: Article

References (35)

1. C. A. Mirkin, Inorg. Chem. 2000, 39, 2258. doi:10.1021/IC991123R
2. A. P. Alivisatos, P. F. Barbara, A. W. Castleman, J. Chang, D. A. Dixon, M. L. Klein, G. L. McLendon, J. S. Miller, M. A. Ratner, P. J. Rossky, S. I. Stupp, M. E. Thompson, Adv. Mater. 1998, 10, 1297. doi:10.1002/(SICI)1521-4095 (199811)10:16〈1297::AID-ADMA1297〉3.3.CO;2-Z
3. A. A. Yasseri, S. Dennis, L. M. Vladimir, S. L. Robert, J. S. Lindsey, F. Zaera, D. F. Bocian, J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11 944. doi:10.1021/JA047723T
4. K. S. Kwok, J. C. Ellenbogen, Mater. Today 2002, 5, 28. doi:10.1016/S1369-7021(02)05227-6
5. R. L. Carroll, C. B. Gorman, Angew. Chem. Int. Ed. 2002, 41, 4378.doi:10.1002/1521-3773(20021202)41:23〈4378::AID-ANIE4378〉3.0. CO;2-A
6. J. K. Whitesell, H. K. Chang, Science 1993, 261, 73.
7. H. Imahori, H. Norieda, Y. Nishimura, Y. I. Yamazaki, K. Higuchi, N. Kato, T. Motohiro, H. Yamada, K. Tamaki, M. Arimura, Y. Sakata, J. Phys. Chem. B 2000, 104, 1253. doi:10.1021/JP992768F
8. C.-Y. Liu, H.-I. Pan, M. A. Fox, A. J. Bard, Science 1993, 261, 897.
9. R. C. Jagessar, J. M. Tour, Org. Lett. 2000, 2, 111. doi:10.1021/OL9911728
10. L. Wei, K. Padmaja, W. J. Youngblood, A. B. Lysenko, J. S. Lindsey, D. F. Bocian, J. Org. Chem. 2004, 69, 1461. doi:10.1021/JO0349476
11. K.-H. Schweikart, V. L. Malinovskii, A. A. Yasseri, J. Li, A. B. Lysenko, D. F. Bocian, J. S. Lindsey, Inorg. Chem. 2003, 42, 7431. doi:10.1021/IC034730U
12. A. Balakumar, A. B. Lysenko, C. Carcel, V. L. Malinovskii, D. T. Gryko, K.-H. Schweikart, R. S. Loewe, A. A. Yasseri, Z. Liu, D. F. Bocian, J. S. Lindsey, J. Org. Chem. 2004, 69, 1435. doi:10.1021/JO034944T
13. K.-H. Schweikart, V. L. Malinovskii, J. R. Diers, A. A. Yasseri, D. F. Bocian, W. G. Kuhr, J. S. Lindsey, J. Mater. Chem. 2002, 12, 808. doi:10.1039/B108520D
14. D. Gryko, J. Li, J. R. Diers, K. M. Roth, D. F. Bocian, W. G. Kuhr, J. S. Lindsey, J. Mater. Chem. 2001, 11, 1162. doi:10.1039/B008224O
15. D. T. Gryko, C. Clausen, K. M. Roth, N. Dontha, D. F. Bocian, W. G. Kuhr, J. S. Lindsey, J. Org. Chem. 2000, 65, 7345. doi:10.1021/JO000487U
16. J. Chen, W. Wang, M. A. Reed, A. M. Rawlett, D. W. Price, J. M. Tour, Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1224. doi:10.1063/1.1289650
17. Z. J. Donhauser, B. A. Mantooth, K. F. Kelly, L. A. Bumm, J. D. Monnell, J. J. Stapleton, D. W. J. Price, A. M. Rawlett, D. L. Allara, J. M. Tour, P. S. Weiss, Science 2001, 292, 2303. doi:10.1126/SCIENCE.1060294
18. M. Boeckl, A. L. Bramblett, K. D. Hauch, T. Sasaki, R. D. Ratner, J. W. Rogers, Jr, Langmuir 2000, 16, 5644. doi:10.1021/LA991513Q
19. J. Zak, H. Yuan, M. Ho, L. K. Woo, M. D. Porter, Langmuir 1993, 9, 2772. doi:10.1021/LA00035A006
20. Z. Zhang, R. Hu, Z. Liu, Langmuir 2000, 16, 1158. doi:10.1021/LA991106E
21. K. M. Roth, A. A. Yasseri, Z. Liu, R. B. Dabke, V. Malinovskii, K.-H. Schweikart, L. Yu, H. Tiznado, F. Zaera, J. S. Lindsey, W. G. Kuhr, D. E. Bocian, J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 505. doi:10.1021/JA021169A
22. G. Polzonetti, A. Ferri, M. V. Russo, G. Iucci, S. Licoccia, R. Paolesse, J. Vac. Sci. Technol. A 1999, 17, 832. doi:10.1116/1.581655
23. P. E. Laibinis, G. M. Whitesides, D. L. Allara, Y.-T. Tao, A. N. Parikh, R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152. doi:10.1021/JA00019A011
24. D. E. Weisshaar, M. M. Walczak, M. D. Porter, Langmuir 1993, 9, 323. doi:10.1021/LA00025A061
25. C. D. Bain, H. A. Biebuyck, G. M. Whitesides, Langmuir 1989, 5, 723. doi:10.1021/LA00087A027
26. C. O. O'Dwyer, G. Gay, B. V. de Lasegno, J. Weiner, Langmuir 2004, 20, 8172. doi:10.1021/LA049103B
27. G. Turgeon, R. W. Raynter, Thin Solid Films 2001, 394, 43. doi:10.1016/S0040-6090(01)01134-8
28. D. Liu, J. S. Szulczewski, L. D. Kispert, A. Primak, T. A. Moore, D. Gust, J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2933. doi:10.1021/JP011876A
29. L. Wen, M. Li, J. B. Schlenoff, J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7726. doi:10.1021/JA970612S
30. M. A. Reed, C. Zhou, C. J. Muller, T. P. Burgin, J. M. Tour, Science 1997, 278, 252. doi:10.1126/SCIENCE.278.5336.252
31. D. I. Gittins, D. Bethell, R. J. Schiffrin, R. J. Nichols, Nature 2000, 408, 67. doi:10.1038/35040518
32. J. Tersoff, D. R. Hamann, Phys. Rev. B 1985, 31, 805. doi:10.1103/PHYSREVB.31.805
33. N. D. Lang, Phys. Rev. B 1986, 34, 5947. doi:10.1103/PHYSREVB.34.5947
34. S. Datta, W. Tian, S. Hong, R. Reifenberger, J. I. Henderson, C. P. Kubiak, Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2530. doi:10.1103/PHYSREVLETT.79.2530
35. V. Arima, E. Fabiano, R. I. R. Blyth, F. Della Sala, F. Matino, J. Thompson, R. Cingolani, R. Rinaldi, J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 16 951. doi:10.1021/JA0470970