Zn-doped GaSb epitaxial film absorption coefficients at terahertz frequencies and detector applications

Journal of Applied Physics

Volumn 98, Issue 2, 2005, Pages

  Hu, Z G ^a   Perera, A G U ^a   Paltiel, Y ^b   Raizman, A ^b   Sher, A ^b  

^a GEORGIA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b SOREQ NUCLEAR RESEARCH CENTER   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION COEFFICIENT; DRUDE MODEL; EPITAXIAL FILMS; LORENTZ OSCILLATORS;

ABSORPTION; CONCENTRATION (PROCESS); HARMONIC ANALYSIS; METAL DETECTORS; METALLORGANIC VAPOR PHASE EPITAXY; MOLECULAR BEAM EPITAXY; NATURAL FREQUENCIES; REFLECTION; SEMICONDUCTOR DOPING; SPECTRUM ANALYSIS; THIN FILMS; ZINC;

SEMICONDUCTING GALLIUM COMPOUNDS;

EID: 23844471631     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1977195     Document Type: Article

References (23)

1. P. S. Dutta, H. L. Bhat, and V. Kumar, J. Appl. Phys. 81, 5821 (1997).
2. M. Hass and B. W. Henvis, J. Phys. Chem. Solids 23, 1099 (1962).
3. S. Zollner, M. Garriga, J. Humlek, S. Gopalan, and M. Cardona, Phys. Rev. B 43, 4349 (1991).
4. R. Pino, Y. Ko, and P. S. Dutta, J. Appl. Phys. 96, 1064 (2004).
5. A. G. U. Perera, W. Z. Shen, S. G. Matsik, H. C. Liu, M. Buchanan, M. O. Tanner, and K. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 72, 2307 (1998).
6. M. B. M. Rinzan, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, H. C. Liu, Z. R. Wasilewski, and M. Buchanan, Appl. Phys. Lett. 86, 071112 (2005).
7. S. K. Ray, T. N. Adam, R. T. Troeger, J. Kolodzey, G. Looney, and A. Rosen, J. Appl. Phys. 95, 5301 (2004).
8. M. B. M. Rinzan, D. G. Esaev, A. G. U. Perera, S. G. Matsik, G. Von Winckel, A. Stintz, and S. Krishna, Appl. Phys. Lett. 85, 5236 (2004).
9. Z. G. Hu, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, A. G. U. Perera, G. Von Winckel, A. Stintz, and S. Krishna, J. Appl. Phys. (in press).
10. W. Z. Shen, A. G. U. Perera, S. K. Gamage, H. X. Yuan, H. C. Liu, M. Buchanan, and W. J. Schaff, Infrared Phys. Technol. 38, 133 (1997).
11. A. G. U. Perera, W. Z. Shen, W. C. Mallard, M. O. Tanner, and K. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 71, 515 (1997).
12. R. Ferrinia, M. Patrini, and S. Franchi, J. Appl. Phys. 84, 4517 (1998).
13. D. G. Esaev, M. B. M. Rinzan, S. G. Matsik, and A. G. U. Perera, J. Appl. Phys. 96, 4588 (2004).
14. O. S. Heaven, Optical Properties of Thin Solid Films (Dover, New York, 1991).
15. W. H. Press, S. A. Teukolsky, W. T. Vetterling, and B. P. Flannery, Numerical Recipes in C: The Art of Scientific Computing (Cambridge University Press, Cambridge, MA, 1992).
16. D. F. Edwards and R. H. White, Handbook of Optical Constants of Solids II, edited by, E. D. Palik, (Academic, New York, 1991).
17. W. Songprakob, R. Zallen, W. K. Liu, and K. L. Bacher, Phys. Rev. B 62, 4501 (2000).
18. J. D. Wiley, Semiconductors and Semimetals, edited by, R. K. Willardson, and, A. C. Beer, (Academic, New York, 1975), Vol. 10.
19. G. Irmer, M. Wenzel, and J. Monecke, Phys. Rev. B 56, 9524 (1997).
20. H. A. Lyden, Phys. Rev. 134, A1106 (1964).
21. M. W. Heller and R. G. Hamerly, J. Appl. Phys. 57, 4626 (1985).
22. Y. Fu, S. C. Jain, M. Willander, and J. J. Loferski, J. Appl. Phys. 74, 402 (1993).
23. R. H. Henderson and E. Towe, J. Appl. Phys. 79, 2029 (1996).