Controlled Growth of Long GaN Nanowires from Catalyst Patterns Fabricated by "Dip-Pen" Nanolithographic Techniques

Chemistry of Materials

Volumn 16, Issue 9, 2004, Pages 1633-1636

  Li, Jianye ^a   Lu, Chenguang ^a   Maynor, Benjamin ^a   Huang, Shaoming ^a   Liu, Jie ^a  

^a DUKE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CATALYSTS; CHARACTERIZATION; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; CRYSTAL GROWTH; GALLIUM NITRIDE; NANOTECHNOLOGY; SILICA;

NANOWIRES; PATTERNING METHODS;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

GALLIUM; NITROGEN; SILICON DIOXIDE;

ANALYTIC METHOD; ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CATALYST; DEVICE; ELECTRON BEAM; NANOPARTICLE; TECHNIQUE; VAPORIZATION;

EID: 2342575653     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm0344764     Document Type: Article

References (24)

1. Patzke, G. R.; Krumeich, F.; Nesper, R. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 2446.
2. Mohammad, N.; Morkoc, H. Science 1995, 267, 51.
3. Fasol, G. Science 1996, 272, 175.
4. Ponce, F. A.; Bour, D. P. Nature 1997, 386, 351.
5. Chen, C. C.; Yeh, C. C.; Chen, C. H.; Yu, M. Y.; Liu, H. L.; Wu, J. J.; Chen, K. H.; Chen, L. C.; Peng, J. Y.; Chen, Y. F. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2791.
6. Han, W.; Fan, S. H.; Li, Q. Q.; Hu, Y. D. Science 1997, 277, 1287.
7. Duan, X. F.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 188.
8. Chen, C. C.; Yeh, C. C. Adv. Mater. 2000, 12, 738.
9. Chen, X. L.; Li, J. Y.; Cao, Y. G.; Lan, Y. C.; Li, H.; He, M.; Wang, C. Y.; Zhang, Z.; Qiao, Z. Y. Adv. Mater. 2000, 12, 1432.
10. Tang, C. C.; Fan, S. S.; Dang, H. Y.; Li, P.; Liu, M. Y. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1961.
11. He, M. Q.; Minus, I.; Zhou, P. Z.; Mohammed, S. N.; Halperm, J. B.; Jacobs, R.; Sarney, W. L.; Salamanca-Riba, L.; Vispute, R. D. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3731.
12. Han, W. Q.; Zettl, A. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 303.
13. Seo, H. W.; Bae, S. Y.; Park, J.; Yang, H. N.; Park, K. S.; Kim, S. J. Chem. Phys. 2002, 116, 9492.
14. Kim, H. M.; Kim, D. S.; Park, Y. S.; Kim, D. Y.; Kang, T. W.; Chung, K. S. Adv. Mater. 2002, 14, 991.
15. Han, S.; Jin, W.; Tang, T.; Li, C.; Zhang, D.; Liu, X.; Han, J.; Zhou, C. W. J. Mater. Res. 2003, 18, 245.
16. Piner, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661.
17. Li, Y.; Maynor, B. W.; Liu, J. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2105.
18. Maynor, B. W.; Li, Y.; Liu, J. Langmuir 2001, 17, 2575.
19. Demers, L. M.; Ginger, D. S.; Park, S. J.; Li, Z.; Chung, S. W.; Mirkin, C. A. Science 2002, 296, 1836.
20. Huang, S. M.; Dai, L. M.; Mau, A. W. H. Adv. Mater. 2002, 14, 1140.
21. Huang, S. M.; Mau, A. W. H.; Turney, T. W.; White, P. A.; Dai, L. M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 2193.
22. JCPDS International Center for Diffraction Data, Card 02-1078, 1997.
23. Hong, S. H.; Zhu, J.; Mirkin, C. A. Science 1999, 286, 523-525.
24. Lee, K. B.; Park, S. J.; Mirkin, C. A.; Smith, J. C.; Mrksich, M. Science 2002, 295, 1702-1705.