Supramolecular electronics; nanowires from self-assembled π-conjugated systems

Chemical Communications

Volumn , Issue 26, 2005, Pages 3245-3258

  Schenning, Albertus P H J ^a   Meijer, E W ^a  

^a EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

OLIGOMER; POLYMER;

CHEMICAL STRUCTURE; ELECTRONICS; HYDROGEN BOND; MOLECULAR INTERACTION; NANOTECHNOLOGY; REVIEW; SOLID; SUPRAMOLECULAR CHEMISTRY; SURFACE PROPERTY; THICKNESS;

EID: 22544451845     PISSN: 13597345     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b501804h     Document Type: Review

References (85)

1. E. W. Meijer and A. P. H. J. Schenning, Nature, 2002, 419, 353.
2. For a review on plastic electronics: S. R. Forrest, Nature, 2004, 428, 911.
3. For a review on molecular electronics: R. L. Carroll and C. B. Gorman, Angew. Chem., Int. Ed., 2002, 41, 4378.
4. For a review on inorganic wires: Y. Xia, P. Yang, Y. Sun, Y. Wu, B. Mayers, B. Gates, Y. Yin, F. Kim and H. Yan, Adv. Mater., 2003, 15, 353.
5. For a special issue on carbon nanotubes: Acc. Chem. Res., 2002, 36, Issue 12.
6. F. J. M. Hoeben, P. Jonkheijm, A. P. H. J. Schenning and E. W. Meijer, Chem. Rev., 2005, DOI: 10.1021/cr0300702.
7. H.-A. Klok and S. Lecommandoux, Adv. Mater., 2001, 13, 1217.
8. J.-M. Lehn, Science, 2002, 295, 2400.
9. For porphyrins, see for example: A. D. Schawab, D. E. Smith, B. Bond-Watts, D. E. Johnston, J. Hone, A. T. Johnson, J. C. de Paula and W. F. Smith, Nano Lett., 2004, 4, 1261.
10. For a review on perylenebisimide assemblies see: F. Würthner, Chem. Commun., 2004, 1654.
11. For example: F. Favier, H. Liu and R. M. Penner, Adv. Mater., 2001, 13, 1567.
12. For a recent example of nanofibers obtained by epitaxy see: F. Quochi, F. Corella, R. Orru, J. E. Communal, P. Verzeroli, A. Mura, G. Bongiovanni, A. Andreev, H. Sitter and N. S. Sariciftci, Appl. Phys. Lett., 2004, 84, 4454.
13. X. Zhang and S. K. Manohar, Chem. Commun., 2004, 2360.
14. See for example: A. D. W. Carswell, E. A. O'Rear and B. P. Grady, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 14793.
15. C. Li, T. Hatano, M. Takeuchi and S. Shinkai, Chem. Commun., 2004, 2350.
16. For example: C. G. Wu and T. Bein, Science, 1994, 17, 1757.
17. J. Kameoka, D. Czaplewski, H. Liu and H. G. Craighead, J. Mater. Chem., 2004, 14, 1503.
18. J. Kameoka, R. Orth, Y. Yang, D. Czaplewski, R. Mathers, G. W. Coates and H. G. Craighead, Nanotechnology, 2003, 14, 1124.
19. D. Li, A. Babel, S. A. Jenekhe and Y. Xia, Adv. Mater., 2004, 16, 2062.
20. J. J. Langer, G. Framski and R. Joachimiak, Synth. Met., 2001, 121, 1281.
21. J. Huang and R. B. Kaner, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 851.
22. J. Hunag and R. B. Kaner, Nat. Mater., 2004, 3, 783.
23. J. Huang, S. Virji, B. H. Weiller and R. B. Kaner, Chem. Eur. J., 2004, 10, 1314.
24. S. Virji, J. Huang, R. B. Kaner and B. H. Weiller, Nano Lett., 2004, 4, 491.
25. H. Liu, J. Kameoka, D. A. Czaplewski and H. G. Craighead, Nano Lett., 2004, 4, 671.
26. X. Zhang, W. J. Goux and S. K. Manohar, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 4502.
27. W. Li and H.-L. Wang, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 2278.
28. J. G. Park, G. T. Kim, V. Krstic, B. Kim, S. H. Lee, S. Roth, M. Burghard and Y. W. Park, Synth. Met., 2001, 119, 53.
29. K. Akagi, G. Piao, S. Kaneko, K. Sakamaki, H. Sirakawa and M. Kyotani, Science, 1998, 282, 1683.
30. H. J. Lee, Z. X. Jin, A. N. Aleshin, J. Y. Lee, M. J. Goh, K. Akagi, Y. S. Kim, D. W. Kim and Y. W. Park, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 16722.
31. Y. Okawa and A. Masakazu, Nature, 2001, 409, 683.
32. S.-Y. Jang, M. Marquez and G. A. Sotzing, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 9476.
33. A. Noy, A. E. Miller, J. E. Klare, B. L. Weeks, B. W. Woods and J. J. DeYoreo, Nano Lett., 2002, 2, 109.
34. J.-H. Lim and C. A. Mirkin, Adv. Mater., 2002, 14, 1474.
35. S. Filocamo, B. Maynor, J. Liu and M. W. Grinstaff, Polym. Mater. Sci. Eng., 2003, 88, 619.
36. B. W. Maynor, S. F. Filocamo, M. W. Grinstaff and J. Liu, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 522.
37. M. Ikegame, K. Tajima and T. Aida, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 2154-2157.
38. Y. Lu, Y. Yang, A. Sellinger, M. Lu, J. Huang, H. Fan, R. Haddad, G. Lopez, A. R. Burns, D. Y. Sasaki, J. Shelnutt and C. J. Brinker, Nature, 2001, 410, 913.
39. T. Aida and K. Tajima, Angew. Chem., Int. Ed., 2001, 40, 3803.
40. G. Li, S. Bhosale, T. Wang, Y. Zhang, H. Zu and J.-H. Fuhrhop, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 3818.
41. For a recent example of the use of track-etched templates see: L. Daugninet-De Pra, E. Ferain, R. Legras and S. Demoustier-Champagne, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B, 2002, 196, 81.
42. See for example: A. D. W. Carswell, E. A. O'Rear and B. P. Grady, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 14793.
43. J. Liu, E. Sheina, T. Kowalewski and R. D. McCullough, Angew. Chem., Int. Ed., 2002, 41, 329.
44. T. Bjørnholm, T. Hassenkam, D. R. Greve, R. D. McCullough, M. Jayaraman, S. M. Savoy, C. E. Jones and J. T. McDevitt, Adv. Mater., 1999, 11, 1218.
45. M. Surin, E. Hennebicq, C. Ego, D. Marsitzky, A. C. Grimsdale, K. Müllen, J. L. Bredas, R. Lazzaroni and Ph. Leclère, Chem. Mater., 2004, 16, 994.
46. Ph. Leclère, E. Hennebicq, A. Calderone, P. Brocorens, A. C. Grimsdale, K. Müllen, J. L. Bredas and R. Lazzaroni, Prog. Polym. Sci., 2003, 28, 55.
47. Ph. Leclère, A. Calderone, D. Marsitzky, V. Francke, Y. Geerts, K. Müllen, J. L. Bredas and R. Lazzaroni, Adv. Mater., 2000, 12, 1042.
48. M. Surin, D. Marsitzky, A. C. Grimsdale, K. Müllen, T. Lazzaroni and P. Leclère, Adv. Funct. Mater., 2004, 14, 708.
49. Y.-H. Luo, H.-W. Liu, F. Xi, L. Li, X.-G. Jin, C. C. Han and C.-M. Chan, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 6447.
50. P. Samori, V. Francke, K. Müllen and J. P. Rabe, Thin Solid Films, 1998, 336, 13.
51. P. Samori, V. Francke, K. Müllen and J. P. Rabe, Chem. Eur. J., 1999, 5, 2312.
52. P. Samori, N. Severin, K. Müllen and J. P. Rabe, Adv. Mater., 2000, 12, 579.
53. J. N. Wilson, C. G. Bangcuyo, B. Erdogan, M. L. Myrick and U. H. F. Bunz, Macromolecules, 2003, 36, 1426.
54. J. A. Merlo and C. D. Frisbie, J. Polym. Sci. B, 2003, 41, 2674.
55. M. Mas-Torrent, D. den Boer, M. Durkut, P. Hadley and A. P. H. J. Schenning, Nanotechnology, 2004, 15, S265.
56. F. S. Schoonbeek, J. H. van Esch, B. Wegewijs, D. Rep, M. de Hass, T. M. Klapwijk, R. M. Kellogg and B. L. Feringa, Angew. Chem., Int. Ed., 1999, 38, 1393.
57. D. B. A. Rep, R. Roelfsema, J. H. van Esch, F. S. Schoonbeek, R. M. Kellogg, B. L. Feringa, T. T. M. Palstra and T. M. Klapwijk, Adv. Mater., 2000, 12, 563.
58. A. Gesquière, S. De Feyter, F. C. De Schrijver, F. S. Schoonbeek, J. H. van Esch, R. M. Kellogg and B. L. Feringa, Nano Lett., 2001, 1, 201.
59. P. Jonkheijm, A. Miura, M. Zdanowska, F. J. M. Hoeben, S. De Feyter, A. P. H. J. Schenning, F. C. De Schryver and E. W. Meijer, Angew. Chem., Int. Ed., 2004, 43, 74.
60. A. P. H. J. Schenning, J. van Herrikhuijzen, P. Jonkheijm, Z. Chen, F. Würthner and E. W. Meijer, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 10252.
61. A. Miura, Z. Chen, H. Uji-i, S. De Feyter, M. Zdanowska, P. Jonkheijm, A. P. H. J. Schenning, E. W. Meijer, F. Würthner and F. C. De Schryver, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 14968.
62. F. Würthner, Z. Chen, F. J. M. Hoeben, P. Osswald, C.-C. You, P. Jonkheijm, J. van Herrikhuijzen, A. P. H. J. Schenning, P. P. A. M. van der Schoot, E. W. Meijer, E. H. A. Beckers, S. C. J. Meskers and R. A. J. Janssen, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 10252.
63. P. Jonkheijm, F. J. M. Hoeben, R. Kleppinger, J. van Herrikhuyzen, A. P. H. J. Schenning and E. W. Meijer, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 15941.
64. F. J. M. Hoeben, L. M. Herz, C. Daniel, P. Jonkheijm, A. P. H. J. Schenning, C. Silva, S. C. J. Meskers, D. Beljonne, R. T. Phillips, R. H. Friend and E. W. Meijer, Angew. Chem., Int. Ed., 2004, 43, 1976.
65. A. Ajayaghosh and S. J. George, J. Am. Chem. Soc., 2001, 123, 5148.
66. S. J. George, A. Ajayaghosh, P. Jonkheijm, A. P. H. J. Schenning and E. W. Meijer, Angew. Chem., Int. Ed., 2004, 43, 3421.
67. A. Ajayaghosh, S. J. George and V. K. Praveen, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 332.
68. A. F. M. Kilbinger, A. P. H. J. Schenning, F. Goldoni, W. J. Feast and E. W. Meijer, J. Am. Chem. Soc., 2000, 122, 1820;
69. A. P. H. J. Schenning, A. F. M. Kilbinger, F. Biscarini, M. Cavalini, H. J. Cooper, P. J. Derrick, W. J. Feast, R. Lazzaroni, Ph. Leclère, L. A. McDonnell, E. W. Meijer and S. Meskers, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 1269.
70. Ph. Leclère, M. Surin, P. Jonkheijm, O. Henze, A. P. H. J. Schenning, F. Biscarini, A. C. Grimsdale, W. J. Feast, E. W. Meijer, K. Müllen, J. L. Bredas and R. Lazzaroni, Eur. Polym. J., 2004, 40, 885.
71. Ph. Leclère, M. Surin, P. Viville, R. Lazzaroni, A. F. M. Kilbinger, O. Henze, W. J. Feast, M. Cavalini, F. Biscarini, A. P. H. J. Schenning and E. W. Meijer, Chem. Mater., 2004, 16, 4452.
72. L. Qin, H. Li, L. Wu, D. Qui, X. Zhang and J. Shen, Chem. Lett., 2003, 32, 390.
73. H. Wang, H. H. Wang, V. S. Urban, K. C. Littrell, P. Thiyagarajan and L. Yu, J. Am. Chem. Soc., 2000, 122, 6855.
74. H. Wang, W. You, P. Jiang, L. Yu and H. H. Wang, Chem. Eur. J., 2004, 10, 986.
75. H. Wang, M.-K. Ng, L. Wang, L. Yu, B. Lin, M. Meron and Y. Xiao, Chem. Eur. J., 2002, 8, 3246.
76. G. N. Tew, M. U. Pralle and S. I. Stupp, J. Am. Chem. Soc., 1999, 121, 9852.
77. B. W. Messmore, J. F. Hulvat, E. D. Sone and S. I. Stupp, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 14452.
78. D. Liu, P. C. M. Grim, S. De Feyter, U.-M. Weisler, A. J. Berresheim, K. Müllen and F. C. De Schryver, Langmuir, 2002, 18, 2385.
79. D. Liu, S. De Feyter, P. C. M. Grim, T. Vosch, D. Grebel-Koehler, U.-M. Weisler, A. J. Berresheim, K. Müllen and F. C. De Schryver, Langmuir, 2002, 18, 8223.
80. D. Liu, S. De Feyter, M. Cotlet, U.-M. Weisler, T. Weil, A. Herrmann, K. Müllen and F. C. De Schryver, Macromolecules, 2003, 36, 8489.
81. J. P. Hill, W. Jin, A. Kosaka, T. Fukushima, H. Ichihara, T. Shimomura, K. Ito, T. Hashizume, N. Ishii and T. Aida, Science, 2004, 304, 1481.
82. I. W. Hamly, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 1692.
83. B.-H. Buisman, J. J. P. Valeton, W. Nijssen, J. Lub and W. Ten Hoeve, Adv. Mater., 2003, 15, 2002.
84. S. Hecht and A. Khan, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 6021.
85. J. V. Herrikhuyzen, A. Syamakumari, A. P. H. J. Schenning and E. W. Meijer, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 10021.