Orientation and electronic properties of pentacene molecules on SiO 2 and GeS(0001) studied using x-ray absorption spectroscopy

Journal of Applied Physics

Volumn 96, Issue 10, 2004, Pages 5596-5600

  Schwieger, T ^a   Liu, X ^a   Olligs, D ^a   Knupfer, M ^a   Schmidt, Th ^b  

^a IFW DRESDEN   (Germany)

^b UNIVERSITY OF WÜRZBURG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION; DEPOSITION; DIELECTRIC MATERIALS; MOLECULAR ORIENTATION; MORPHOLOGY; POLARIZATION; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; SILICA; X RAY SPECTROSCOPY;

GES; PANTACENE; RELATIVE INTENSITY; X-RAY ABSORPTION;

GERMANIUM COMPOUNDS;

EID: 10044219850     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1805183     Document Type: Article

References (49)

1. D. J. Gundlach, Y. Y. Lin, T. N. Jackson, S. F. Nelson, and D. G. Schlom, IEEE Electron Device Lett. 18, 87 (1997).
2. C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996).
3. G. H. Gelinck, T. C. T. Geuns, and D. M. de Leeuw, Appl. Phys. Lett. 77, 1487 (2000).
4. P. V. Necliudov, M. S. Shur, D. J. Gundlach, and T. N. Jackson, J. Appl. Phys. 88, 6594 (2000).
5. E. J. Meijer, et al., Nat. Mater. 2, 678 (2003).
6. H. Klauk, G. Schmid, W. Radlik, W. Weber, L. Zhou, C. D. Sheraw, J. A. Nichols, and T. N. Jackson, Solid-State Electron. 47, 297 (2003).
7. Ch. Pannemann, T. Diekmann, and U. Hilleringmann, Microelectron. Eng. 67-68, 845 (2003).
8. V. Y. Butko, X. Chi, D. V. Lang, and A. P. Ramirez, Appl. Phys. Lett. 83, 4773 (2003).
9. G. H. Gelinck et al., Nat. Mater. 3, 106 (2004).
10. R. Schroeder, L. A. Majewski, and M. Grell, Appl. Phys. Lett. 84, 1004 (2004).
11. J. R. Ostrick, et al., J. Appl. Phys. 81, 6804 (1997).
12. J. Cornil, J. Ph. Calbert, and J. L. Bredas, J. Am. Chem. Soc. 123, 1250 (2001).
13. G. A. de Wijs, C. C. Mattheus, R. A. de Groot, and T. T. M. Palstra, Synth. Met. 139, 109 (2003).
14. R. G. Endres, C. Y. Fong, L. H. Yang, G. Witte, and Ch Wöll, Comput. Mater. Sci. 29, 362 (2004).
15. S. R. Forrest, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 97, 1793 (1996).
16. E. Umbach, K. Glöckler, and M. Sokolowski, Surf. Sci. 402-404, 20, (1998).
17. H. Peisert, T. Sehwieger, J. M. Auerhammer, M. Knupfer, M. S. Golden, J. Fink, P. R. Bressler, and M. Mast, J. Appl. Phys. 90, 466 (2001).
18. D. E. Hooks, T. Fritz, and M. D. Ward, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 13, 227 (2001).
19. D. Knipp, R. A. Street, B. Krusor, R. Apte, and J. Ho, J. Non-Cryst. Solids 299-302, 1042 (2002).
20. J. K. Lee, J. M. Koo, S. Y. Lee, T. Y. Choi, J. Joo, J. Y. Kim, and J. H. Choi, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 21, 451 (2002).
21. R. Ruiz, B. Nickel, N. Koch, L. C. Feldman, R. F. Haglund, Jr., A. Kahn, F. Family, and G. Scoles, Phys. Rev. Lett. 91, 136102 (2003).
22. R. Ruiz, B. Nickel, N. Koch, L. C. Feldman, R. F. Haglund, Jr., A. Kahn, and G. Scoles, Phys. Rev. B 67, 125406 (2003).
23. I. P. M. Bouchoms, W. A. Schoonveld, J. Vrijmoeth, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 104, 175 (1999).
24. C. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 14, 2, 99 (2002).
25. J. Renger, S. Grafström, and L. M. Eng, J. Opt. Soc. Am. A 21, 1362 (2004).
26. M. Shtein, J. Mapel, J. B. Benzinger, and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 81, 268 (2002).
27. D. Knipp, R. A. Street, A. Völkel, and J. Ho, J. Appl. Phys. 93, 347 (2003).
28. D. Knipp, R. A. Street, and A. R. Völkel, Appl. Phys. Lett. 82, 3907 (2003).
29. C. Tanase, E. J. Meijer, P. W. M. Blom, and D. M. de Leeuw, Org. Electron. 4, 33 (2003).
30. N. J. Watkins and Y. Gao, J. Appl. Phys. 94, 5782 (2003).
31. S. Verlaak, S. Steudel, P. Heremans, D. Janssen and M. S. Deleuze, Phys. Rev. B 68, 195409 (2003).
32. J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy (Springer, Berlin, 1992).
33. H. Peisert, T. Schwieger, M. Knupfer, M. S. Golden, and J. Fink, J. Appl. Phys. 88, 1535 (2000).
34. E. J. Mele and J. J. Ritsko, Phys. Rev. Lett. 43, 68 (1979).
35. P. A. Brühwiler, A. J. Maxwell, C. Puglia, A. Nilsson, S. Andersson, and N. Martensson, Phys. Rev. Lett. 74, 614 (1995).
36. M. van Veenendaal and P. Carra, Phys. Rev. Lett. 78, 2839 (1997).
37. E. L. Shirley, Phys. Rev. Lett. 80, 794 (1998).
38. B. Wästberg, S. Lunell, C. Enkvist, P. A. Brühwiler, A. J. Maxwell, and N. Martensson, Phys. Rev. B 50, 13031 (1994).
39. M. Nyberg, Y. Luo, L. Triguero, L. G. M. Pettersson, and H. Agren, Phys. Rev. B 60, 7956 (1999).
40. Y. Luo, H. Agren, M. Keil, R. Friedlein, and W. R. Salaneck, Chem. Phys. Lett. 337, 176 (2001).
41. A. Schöll, R. Fink, E. Umbach, G. E. Mitchell, S. G. Urquhart, and H. Ade, Chem. Phys. Lett. 370, 834 (2003).
42. H. Oji, R. Mitsumoto, E. Ito, H. Ishii, Y. Ouchi, K. Seki, and N. Kosugi, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 78, 383 (1996).
43. N. Koch, A. Elschner, J. Schwartz, and A. Kahn, Appl. Phys. Lett. 82, 2281 (2003).
44. S. Waidmann, M. Knupfer, J. Fink, B. Kleinsorge, and J. Robertson, J. Appl. Phys. 89, 3783 (2001).
45. J. Taborski, P. Väterlein, H. Dietz, U. Zimmermann, and E. Umbach, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 75, 129 (1995).
46. M. S. Golden et al., J. Phys.: Condens. Matter 7, 8219 (1995).
47. A. J. Maxwell, P. A. Brüwihler, D. Arvanitis, J. Hasselström, M. K. J. Johansson, and N. Martensson, Phys. Rev. B 57, 7312 (1998).
48. D. Gador, C. Buchberger, R. Fink, and E. Umbach, Europhys. Lett. 41, 231 (1998).
49. M. Knupfer, Surf. Sci. Rep. 42, 1 (2001).