Influence of strain on the diffusion of Si dimers on Si(001)

Surface Science

Volumn 452, Issue 1-3, 2000, Pages 247-252

  Zoethout, E ^a   Gurlu O ^a   Zandvliet, H J W ^a   Poelsema, Bene ^a  

^a UNIVERSITY OF TWENTE   (Netherlands)

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DIFFUSION IN SOLIDS; DIMERS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; STRAIN; TENSILE STRESS;

SILICON DIMERS; SURFACE DIFFUSION; TENSILE STRAIN;

SILICON;

EID: 0343005952     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(00)00338-1     Document Type: Article

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