Photocapacitance study of bulk deep levels in ZnSe grown by molecular-beam epitaxy

Journal of Applied Physics

Volumn 87, Issue 2, 2000, Pages 730-738

  Hierro, A ^a   Kwon, D ^a   Ringel, S A ^a   Rubini, S ^b   Pelucchi, E ^b   Franciosi, A ^b,c,d  

^a Ohio State University   (United States)

^b LABORATORIO TASC   (Italy)

^c UNIVERSITY OF TRIESTE   (Italy)

^d University of Minnesota   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0042027169     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.371933     Document Type: Article

References (34)

1. R. N. Bhargava, J. Cryst. Growth 117, 894 (1992).
2. A. V. Nurmikko and R. L. Gunshor, J. Lumin. 52, 89 (1992).
3. A. V. Nurmikko, R. L. Gunshor, and M. Kobayashi, J. Cryst. Growth 117, 432 (1992).
4. M. A. Haase, H. Cheng, J. M. DePuydt, and J. E. Potts, J. Appl. Phys. 67, 448 (1990).
5. H. Jeon, J. Ding, W. Patterson, A. V. Nurmikko, W. Xie, D. C. Grillo, M. Kobayashi, and R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett. 59, 3619 (1991).
6. M. C. Tamargo, R. E. Nahory, B. J. Skromme, S. M. Shibli, A. L. Weaver, R. J. Martin, and H. H. Farrell, J. Cryst. Growth 111, 741 (1991).
7. L. H. Kuo, L. Salamanca-Riba, B. J. Wu, G. Hofler, J. M. DePuydt, and H. Cheng, Appl. Phys. Lett. 67, 3298 (1995).
8. L. H. Kuo, K. Kimura, T. Yasuda, S. Miwa, C. G. Jin, K. Tanaka, and T. Yao, Appl. Phys. Lett. 68, 2413 (1996).
9. L. H. Kuo, L. Salamanca-Riba, B. J. Wu, G. M. Haugen, J. M. DePuydt, G. Hofler, and H. Cheng, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 1694 (1995).
10. G. Bratina, T. Ozzello, and A. Franciosi, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 3135 (1996).
11. S. Heun, J. J. Paggel, L. Sorba, S. Rubini, A. Franciosi, J.-M. Bonard, and J.-D. Ganiere, Appl. Phys. Lett. 70, 237 (1997).
12. A. Raisanen, L. J. Brillson, A. Franciosi, R. Nicolini, L. Vanzetti, and L. Sorba, J. Electron. Mater. 24, 163 (1995).
13. A. Raisanen, L. J. Brillson, L. Vanzetti, L. Sorba, and A. Franciosi, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 690 (1995).
14. A. D. Raisanen, L. J. Brillson, L. Vanzetti, A. Bonanni, and A. Franciosi, Appl. Phys. Lett. 66, 3301 (1995).
15. S. Venkatesan, R. F. Pierret, J. Qiu, M. Kobayashi, R. L. Gunshor, and L. A. Kolodziejski, J. Appl. Phys. 66, 3656 (1989).
16. B. Hu, G. Karczewski, H. Luo, N. Samarth, and J. K. Furdyna, Appl. Phys. Lett. 63, 358 (1993).
17. B. Hu, G. Karczewski, H. Luo, U. Bindley, and J. K. Furdyna, J. Appl. Phys. 77, 2026 (1995).
18. M. Funato, H. Kitani, Sz. Fujita, and Sg. Fujita, J. Electron. Mater. 25, 217 (1996).
19. K. Hellig, G. Prösch, M. Behringer, M. Fehrer, R. Beyer, H. Burghardt, D. Hommel, and D. R. T. Zahn, Appl. Phys. Lett. 71, 2187 (1997).
20. M. Funato, Sz. Fujita, and Sg. Fujita, J. Appl. Phys. 83, 2563 (1998).
21. A. Chantre, G. Vincent, and D. Bois, Phys. Rev. B 23, 5335 (1981).
22. W. A. Feil and B. W. Wessels, J. Appl. Phys. 74, 3927 (1993).
23. G. Yi and B. W. Wessels, Appl. Phys. Lett. 68, 3769 (1996).
24. W. Götz, N. M. Johnson, R. A. Street, H. Amano, and I. Akasaki, Appl. Phys. Lett. 66, 1340 (1995).
25. W. Götz, N. M. Johnson, and D. P. Bour, Appl. Phys. Lett. 68, 3470 (1996).
26. E. J. Bawolek and B. W. Wessels, Thin Solid Films 102, 251 (1983).
27. J. W. Allen, D. T. Reid, W. Sibbett, W. Sleat, and J.-Z. Zheng, J. Appl. Phys. 78, 1731 (1995).
28. A. Hierro, D. Kwon, S. A. Ringel, L. J. Brillson, A. P. Young, S. Rubini, E. Pelucchi, and A. Franciosi, Materials Research Society Symposium Proceeding Series, 535 (1999).
29. A. Hierro, D. Kwon, S. H. Goss, L. J. Brillson, S. A. Ringel, and S. Rubini, E. Pelucchi, and A. Franciosi, Appl. Phys. Lett. 75, 832 (1999).
30. S. Heun, J. J. Paggel, L. Sorba, S. Rubini, A. Bonanni, R. Lantier, M. Lazzarino, B. Bonanni, A. Franciosi, J.-M. Bonard, J.-D. Ganière, Y. Zhuang, and G. Bauer, J. Appl. Phys. 83, 2504 (1998).
31. A. Bonnani, L. Vanzetti, L. Sorba, A. Franciosi, M. Lomascolo, P. Prete, and R. Cingolani, Appl. Phys. Lett. 66, 1092 (1995).
32. C. J. Blomfield, I. M. Dharmadasa, K. A. Prior, and B. C. Cavenett, J. Cryst. Growth 159, 727 (1996).
33. P. Blood and J. W. Orton, The Electrical Characterization of Semiconductors: Majority Carriers and Electron States (Academic, San Diego, 1992).
34. K. Kosai, J. Appl. Phys. 53, 1018 (1982).