-
1
-
-
0003659399
-
-
Wiley, New York, Mir, Moscow
-
Thin Films: Interdiffusion and Reactions, Ed. by J. M. Poate, K. Tu, and J. Meier (Wiley, New York, 1978; Mir, Moscow, 1982).
-
(1978)
Thin Films: Interdiffusion and Reactions
-
-
Poate, J.M.1
Tu, K.2
Meier, J.3
-
2
-
-
0001996169
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 90
-
-
Clevengen, L.A.1
Arcort, B.2
Ziegler, W.3
-
3
-
-
0347259471
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.80
, pp. 1422
-
-
Zhang, M.1
Yu, W.2
Wang, W.H.3
-
4
-
-
0001181554
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.80
, pp. 1623
-
-
Guo, J.D.1
Pan, F.M.2
Feng, M.S.3
-
5
-
-
0000739940
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 650
-
-
Venugopalan, H.S.1
Mohney, S.E.2
Luther, B.P.3
-
6
-
-
0001996169
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 639
-
-
Huang, J.S.1
Tu, K.N.2
-
7
-
-
0028492134
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1994)
J. Appl. Phys.
, vol.76
, pp. 1578
-
-
Wang, W.H.1
Wang, W.K.2
-
8
-
-
0000105731
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.84
, pp. 4285
-
-
Boyanov, B.I.1
Goeller, D.T.2
Sayers, D.E.3
-
9
-
-
0000050128
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.84
, pp. 881
-
-
Liu, Q.Z.1
Yu, L.S.2
Denf, F.3
-
10
-
-
0010684009
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 6073
-
-
Gambino, J.P.1
Cunningham, B.2
DeHaven, P.3
-
11
-
-
0037566903
-
-
L. A. Clevengen, B. Arcort, W. Ziegler, et al., J. Appl. Phys. 83,90 (1998); M. Zhang, W. Yu, W. H. Wang, et al., J. Appl. Phys. 80, 1422 (1996); J. D. Guo, F. M. Pan, M. S. Feng, et al., J. Appl. Phys. 80, 1623 (1996); H. S. Venugopalan, S. E. Mohney, B. P. Luther, et al., J. Appl. Phys. 82, 650 (1997); J. S. Huang, K. N. Tu, et al., J. Appl. Phys. 82, 639 (1997); W. H. Wang, W. K. Wang, et al., J. Appl. Phys. 76, 1578 (1994); B. I. Boyanov, D. T. Goeller, D. E. Sayers, et al., J. Appl. Phys. 84, 4285 (1998); Q. Z. Liu, L. S. Yu, F. Denf, et al., J. Appl. Phys. 84, 881 (1998); J. P. Gambino, B. Cunningham, P. DeHaven, et al., J. Appl. Phys. 82, 6073 (1997); L. Balazc, V. Freury, F. Duclos, et al., Phys. Rev. E 54, 599 (1996).
-
(1996)
Phys. Rev. E
, vol.54
, pp. 599
-
-
Balazc, L.1
Freury, V.2
Duclos, F.3
-
13
-
-
0041012474
-
-
L. J. Chen, I. W. Wu, J. J. Chu, et al., Appl. Phys. 63,2778 (1988); E. G. Colgan, C. Cabral, Jr., and D. E. Kotecki, J. Appl. Phys. 77, 614 (1995).
-
(1988)
Appl. Phys.
, vol.63
, pp. 2778
-
-
Chen, L.J.1
Wu, I.W.2
Chu, J.J.3
-
14
-
-
20444388279
-
-
L. J. Chen, I. W. Wu, J. J. Chu, et al., Appl. Phys. 63,2778 (1988); E. G. Colgan, C. Cabral, Jr., and D. E. Kotecki, J. Appl. Phys. 77, 614 (1995).
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.77
, pp. 614
-
-
Colgan, E.G.1
Cabral C., Jr.2
Kotecki, D.E.3
-
17
-
-
0002376971
-
-
V. G. Myagkov, V. S. Zhigalov, L. E. Bykova, and V. K. Mal'tsev, Zh. Tekh. Fiz. 68, 58 (1998) [Tech. Phys. 43, 1189(1998)].
-
(1998)
Zh. Tekh. Fiz.
, vol.68
, pp. 58
-
-
Myagkov, V.G.1
Zhigalov, V.S.2
Bykova, L.E.3
Mal'tsev, V.K.4
-
18
-
-
0032342848
-
-
V. G. Myagkov, V. S. Zhigalov, L. E. Bykova, and V. K. Mal'tsev, Zh. Tekh. Fiz. 68, 58 (1998) [Tech. Phys. 43, 1189(1998)].
-
(1998)
Tech. Phys.
, vol.43
, pp. 1189
-
-
-
20
-
-
0001320531
-
-
V. G. Myagkov, Dokl. Akad. Nauk 364, 330 (1999) [Dokl. Phys. 44, 45 (1999)].
-
(1999)
Dokl. Phys.
, vol.44
, pp. 45
-
-
-
21
-
-
0040418390
-
-
V. G. Myagkov, L. E. Bykova, and G. N. Bondarenko, Zh. Éksp. Teor. Fiz. 115, 1754 (1999) [JETP 88, 963 (1999)].
-
(1999)
Zh. Éksp. Teor. Fiz.
, vol.115
, pp. 1754
-
-
Myagkov, V.G.1
Bykova, L.E.2
Bondarenko, G.N.3
-
22
-
-
0002000981
-
-
V. G. Myagkov, L. E. Bykova, and G. N. Bondarenko, Zh. Éksp. Teor. Fiz. 115, 1754 (1999) [JETP 88, 963 (1999)].
-
(1999)
JETP
, vol.88
, pp. 963
-
-
-
24
-
-
0003846726
-
-
Pergamon, New York, Metallurgiya, Moscow, Chap. 1
-
C. S. Barrett and T. B. Massalskiǐ, Structure of Metals. Cristallographic Methods, Principles and Data (Pergamon, New York, 1980; Metallurgiya, Moscow, 1984), Chap. 1.
-
(1980)
Structure of Metals. Cristallographic Methods, Principles and Data
-
-
Barrett, C.S.1
Massalskiǐ, T.B.2
-
27
-
-
0027663634
-
-
B. M. Lairson, M. R. Visokay, R. Sinclair, and B. M. Clemens, J. Magn. Magn. Mater. 126, 577 (1993); B. M. Lairson and B. M. Clemens, Appl. Phys. Lett. 63, 1438 (1993).
-
(1993)
J. Magn. Magn. Mater.
, vol.126
, pp. 577
-
-
Lairson, B.M.1
Visokay, M.R.2
Sinclair, R.3
Clemens, B.M.4
-
28
-
-
0000134335
-
-
B. M. Lairson, M. R. Visokay, R. Sinclair, and B. M. Clemens, J. Magn. Magn. Mater. 126, 577 (1993); B. M. Lairson and B. M. Clemens, Appl. Phys. Lett. 63, 1438 (1993).
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.63
, pp. 1438
-
-
Lairson, B.M.1
Clemens, B.M.2
-
30
-
-
0000202481
-
-
K. Barmak, R. A. Ristau, K. R. Coffey, et al., J. Appl. Phys. 79, 5330 (1996).
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.79
, pp. 5330
-
-
Barmak, K.1
Ristau, R.A.2
Coffey, K.R.3
|