Electronic structure of GaN nanowire studied by x-ray-absorption spectroscopy and scanning photoelectron microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 82, Issue 22, 2003, Pages 3949-3951

  Chiou, J W ^a   Jan, J C ^a   Tsai, H M ^a   Pong, W F ^a   Tsai, M H ^b   Hong, I H ^c   Klauser, R ^c   Lee, J F ^c   Hsu, C W ^d   Lin, H M ^d   Chen, C C ^d   Shen, C H ^e   Chen, L C ^e   Chen, K H ^f  

^a TAMKANG UNIVERSITY   (Taiwan)

^b NATIONAL SUN YAT SEN UNIVERSITY   (Taiwan)

^c NATIONAL SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH CENTER   (Taiwan)

^d NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY   (Taiwan)

^e NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY   (Taiwan)

^f INSTITUTE OF ATOMIC AND MOLECULAR SCIENCES   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARRIER CONCENTRATION; ELECTRONIC STRUCTURE; GALLIUM NITRIDE; LIGHT ABSORPTION; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTOEMISSION; X RAY ANALYSIS;

X-RAY ABSORPTION NEAR EDGE STRUCTURE (XANES);

THIN FILMS;

EID: 0038003680     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1579871     Document Type: Article

References (21)

1. S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senoh, J. Appl. Phys. 76, 8189 (1994).
2. A. P. Alivisatos, Science (Washington, DC, U.S.) 271, 933 (1996); C. Dekker, Phys. Today 52, 22 (1999).
3. A. P. Alivisatos, Science (Washington, DC, U.S.) 271, 933 (1996); C. Dekker, Phys. Today 52, 22 (1999).
4. A. M. Morales and C. M. Lieber, Science (Washington, DC, U.S.) 279, 208 (1998); J. D. Holmes, K. P. Johnston, R. C. Doty, and B. A. Korgel, ibid. 287, 1471 (2000).
5. A. M. Morales and C. M. Lieber, Science (Washington, DC, U.S.) 279, 208 (1998); J. D. Holmes, K. P. Johnston, R. C. Doty, and B. A. Korgel, ibid. 287, 1471 (2000).
6. X. Duan and C. M. Lieber, J. Am. Chem. Soc. 122, 188 (2000).
7. C. C. Chen and C. C. Yeh, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 12, 738 (2000).
8. C. C. Chen, C. C. Yeh, C. H. Chen, M. Y. Yu, H. L. Liu, J. J. Wu, K. H. Chen, L. C. Chen, J. Y. Peng, and Y. F. Chen, J. Am. Chem. Soc. 123, 2791 (2001).
9. S. M. Lee, Y. H. Lee, Y. G. Hwang, J. Eisner, D. Porezag, and T. Frauenheim, Phys. Rev. B 60, 7788 (1999).
10. H. L. Liu, C. C. Chen, C. T. Chia, C. C. Yeh, C. H. Chen, M. Y. Yu, S. Keller, and S. P. DenBaars, Chem. Phys. Lett. 345, 245 (2001).
11. R. Klauser, I.-H. Hong, T.-H. Lee, G.-C. Yin, D.-H. Wei, K.-L. Tsang, T. J. Chuang, S.-C. Wang, S. Gwo, M. Zhamikov, and J.-D. Liao, Surf. Rev. Lett. 9, 213 (2002).
12. R. Klauser, P. S. A. Kumar, and T. J. Chuang, Surf. Sci. 411, 329 (1998).
13. K. Lawniczak-Jablonska, T. Suski, I. Gorczyca, N. E. Christensen, K. E. Attenkofer, R. C. C. Perera, E. M. Gullikson, J. H. Underwood, D. L. Ederer, and Z. Lilienthal-Weber, Phys. Rev. B 61, 16623 (2000).
14. J. W. Chiou, S. Mookerjee, K. V. R. Rao, J. C. Jan, H. M. Tsai, K. Asokan, W. F. Pong, F. Z. Chien, M.-H. Tsai, Y. K. Chang, Y. Y. Chen, J. F. Lee, C. C. Lee, and G. C. Chi, Appl. Phys. Lett. 81, 3389 (2002).
15. Katsikini, E. C. Paloura, and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 69, 4206 (1996).
16. S. S. Dhesi, C. B. Stagarescu, K. E. Smith, D. Doppalapudi, R. Singh, and T. D. Moustakas, Phys. Rev. B 56, 10271 (1997).
17. B. J. Kowalski, L. Pluciński, K. Kopalko, R. J. Iwanowski, B. A. Orlowski, R. L. Johnson, I. Grzegory, and S. Porowsli, Surf. Sci. 482-485, 740 (2001).
18. Y. N. Xu and W. Y. Ching, Phys. Rev. B 48, 4335 (1993).
19. W. R. L. Lambrecht, B. Segall, S. Suite, G. Martin, A. Agarwal, H. Morkoc, and A. Bockett, Phys. Rev. B 50, 14155 (1994).
20. C. B. Stagarescu, L. C. Duda, K. E. Smith, J. H. Guo, J. Nordgren, R. Singh, and T. D. Moustakas, Phys. Rev. B 54, R17335 (1996).
21. M.-H. Tsai, O. F. Sankey, K. E. Schmidt, and I. S. T. Tsong, Mater. Sci. Eng., B 88, 40 (2002).