Determination of pore size in mesoporous thin films from the annihilation lifetime of positronium

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 105, Issue 20, 2001, Pages 4657-4662

  Dull, T L ^a   Frieze, W E ^a   Gidley, D W ^a   Sun, J N ^a   Yee, A F ^a  

^a UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNIHILATION LIFETIME; PORE SIZE CALIBRATION; POSITRONIUM; SUBNANOMETER PORES;

CALCULATIONS; MATHEMATICAL MODELS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PERMITTIVITY; PORE SIZE; POROSITY; POSITRON ANNIHILATION SPECTROSCOPY; THERMAL EFFECTS; THIN FILMS;

MESOPOROUS MATERIALS;

EID: 0035942927     PISSN: 10895647     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp004182v     Document Type: Article

References (30)

1. Jin, C; Luttmer, J. D.; Smith, D. W.; Ramos, T. A. MRS Bull. 1997, 39.
2. Ryan, E.; Ho, H.; Wu, W.; Gidley, D.; Ho, P.; Drage, J. IEEE Electron Devices; Proc. Int. Interconnect. Technol. Confer. 1999, 295, 187.
3. DeMaggio, G. B.; Frieze, W. E.; Gidley, D. W.; Zhu, M.; Hristov, H. A.; Yee, A. F. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1524.
4. Xie, L.; DeMaggio, G. B.; Frieze, W. E.; DeVries, J.; Gidley, D. W.; Hristov, H. A.; Yee, A. F. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 4947.
5. Gidley, D. W.; Frieze, W. E.; Dull, T. L.; Yee, A. F.; Ryan, E. T.; Ho, H.-M. Phys. Rev. B 1999, 60, R5157.
6. Gidley, D. W.; Frieze, W. E.; Dull, T. L.; Sun, J.; Yee, A. F.; Nguyen, C. V.; Yoon, D. Y. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1282.
7. Petkov, M.; Weber, M.; Lynn, K.; Rodbell, K. J. Appl. Phys. 2000, 77, 2470.
8. Tao, S. J. J. Chem. Phys. 1972, 56, 5499.
9. Eldrup, M.; Lightbody, D.; Sherwood, J. N. Chem. Phys. 1982, 63, 51.
10. Wang, Y. Y.; Nakanishi, Y.; Jean, Y. C.; Sandrecski, T. C. J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1990, 28, 1431.
11. Cheng, K. L.; Jean, Y. C. Positron and Positronium Chemistry; Shrader, D. M., Jean, Y. C., Eds.; Elsevier: Amsterdam, The Netherlands, 1979; p 282.
12. Goworek, T.; Ciesielski, K.; Jasinska, B.; Wawryszczuk, J. Chem. Phys. 1998, 230, 305 and references therein.
13. Ito, K.; Nakanishi, H.; Ujihira, Y. J. Phys. Chem. B. 1999, 103, 4555.
14. Goworek, T.; Ciesielski, K.; Jasinska, B.; Wawryszczuk, J. Radiat. Phys. Chem. 2000, 58, 719.
15. Jasinska, B.; Koziol, A. E.; Goworek, T. J. Radioanal. Nucl. Chem. 1996, 210, 617.
16. Gidley, D. W.; Marko, K. A.; Rich, A. Phys. Rev. Lett. 1976, 36, 395.
17. Gidley, D. W. Ph.D. Thesis, The University of Michigan, 1979.
18. Ciesielski, K.; Dawidowicz, A. L.; Goworek, T.; Jasinska, B.; Wawryszczuk, J. Chem. Phys. Lett. 1998, 289, 41.
19. Nakanishi, H.; Ujihira, Y. J. Phys. Chem. 1982, 86, 4446.
20. Ito, Y.; Yamashina, T.; Nagasaka, M. Appl. Phys. 1975, 6, 323.
21. Chuang, S. Y.; Tao, S. J. Can. J. Phys. 1973, 51, 820.
22. Ito, K.; Yagi, Y.; Hirano, S.; Miyayama, M.; Kudo, T.; Kishimoto, A.; Ujihira, Y. J. Ceram. Soc. Jpn. 1999, 107, 123.
23. Goldanskii, V. I.; Levin, B. M.; Mokrushin, A. C.; Kaliko, M.: Pervushina, M. N. Dokl. Adad. Nauk SSSR 1970, 191, 855.
24. Chuang, S. Y.; Tao, S. J. J. Chem. Phys. 1970, 52, 749.
25. Mikrushin, A. D.; Levin, B. M.; Goldanskii, V. I.; Tsyganov, A. D.; Bardyshev, I. I. Russ. J. Phys. Chem. 1972, 46, 368.
26. Goldanskii, V. I.; Mokrushin, A. C.; Tatur, A. O.; Shantarovich, V. P. Appl. Phys. 1975, 5, 379.
27. Hopkins, B.; Zerda, T. W. Phys. Rev. Lett 1990, 145, 141.
28. Wu, W. L.; Wallace, W. E.; Lin, E. K.; Lynn, G. W.; Glinka, C. J.; Ryan, E. T.; Ho, H.-M. J. Appl. Phys. 2000, 87, 1193.
29. Mogilnikov, K. P.; Polovinkin, V. G.; Dultsev, F. N.; Baklanov, M. R. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1999, 565, 81.
30. Kondoh, E.; Baklanov, M.; Lin, E.; Gidley, D.; Nakashima, A. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, L323.