Yield strength and dislocation mobility in plastically deformed bulk single-crystal GaN

Journal of Applied Physics

Volumn 90, Issue 12, 2001, Pages 6539-6541

  Yonenaga, Ichiro ^a   Motoki, Kensaku ^b  

^a TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^b SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035894153     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1415754     Document Type: Article

References (19)

1. M. D. Drory, J. W. Ager III, T. Suski, I. Grzegory, and S. Porowski, Appl. Phys. Lett. 69, 4044 (1996).
2. R. Nowak, M. Pessa, M. Suganuma, M. Leszczynski, I. Grzegory, S. Porowski, and F. Yoshida, Appl. Phys. Lett. 75, 2070 (1999).
3. K. Maeda, K. Suzuki, M. Ichihara, S. Nishiguchi, K. Ono, Y. Mera, and S. Takeuchi, Physica B 273-274, 134 (1999).
4. I. Yonenaga, T. Hoshi, and A. Usui, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 39, L200 (2000).
5. M. H. Hong, P. Pirouz, P. M. Tavernier, and D. R. Clarke, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 622, T6.18 (2000).
6. K. Motoki, T. Okahisa, N. Matsumoto, M. Matsushima, H. Kimura, H. Kasa, K. Takemoto, K. Uematsu, T. Hirano, M. Nakayama, S. Nakahata, M. Ueno, D. Hara, Y. Kumagai, A. Koukitu, and H. Seki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L140 (2001).
7. I. Yonenaga and K. Sumino, J. Mater. Res. 4, 355 (1989).
8. S. Fujita, K. Maeda, and S. Hyodo, Philos. Mag. A 55, 203 (1987).
9. I. Yonenaga, J. Electrochem. Soc. 143, L716 (1996).
10. I. Yonenaga and K. Sumino, J. Appl. Phys. 80, 3244 (1996).
11. I. Yonenaga and K. Sumino, Phys. Status Solidi A 131, 663 (1992).
12. A. V. Sammnt, W. L. Zhou, and P. Pirouz, Phys. Status Solidi A 166, 155 (1998).
13. I. Yonenaga, J. Phys. III 7, 1435 (1997).
14. I. Yonenaga, J. Appl. Phys. 84, 4209 (1998).
15. L. Sugiura, J. Appl. Phys. 81, 1633 (1997).
16. H. Siethoff, J. Appl. Phys. 87, 3301 (2000).
17. K. Maeda and S. Takeuchi, in Dislocations in Solids, edited by F. R. N. Nabarro and M. S. Duesbery (Elsevier, Amsterdam, 1996), Vol.10, p. 443.
18. J. Elsner, R. Jones, P. K. Sitch, V. D. Porezag, M. Elsner, Th. Frauenheim, M. I. Heggie, and P. R. Briddon, Phys. Rev. Lett. 79, 3672 (1997).
19. T. Hino, S. Tomiya, T. Miyajima, K. Yanashima, S. Hashimoto, and M. Ikeda, Appl. Phys. Lett. 76, 3421 (2000).