Carrier trapping and recombination at point defects and dislocations in MOCVD n-GaN

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 228, Issue 3, 2001, Pages 937-946

  Hierro, A ^a   Hansen, M ^b   Boeckl, J J ^a   Zhao, L ^b   Speck, J S ^b   Mishra, U K ^b   DenBaars, S P ^b   Ringel, S A ^a  

^a Ohio State University   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035732686     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-3951(200112)228:3<937::AID-PSSB937>3.0.CO;2-T     Document Type: Article

References (27)

1. M. HANSEN, P. FINI, L. ZHAO, A. C. ABARE, L. A. COLDREN, J. S. SPECK, and S. P. DENBAARS, Appl. Phys. Lett. 76, 529 (2000).
2. S. L. RUMYANTSEV, N. PALA, M. S. SHUR, E. BOROVITSKAYA, A. P. DMITRIEV, M. E. LEVINSHTEIN, R. GASKA, M. A. KHAN, J. YANG, X. HU, and G. SIMIN, IEEE Trans. Electron Devices 48, 530 (2001).
3. X. H. Wu, L. M. BROWN, D. KAPOLNEK, S. KELLER, B. KELLER, S. P. DENBAARS, and J. S. SPECK, J. Appl. Phys. 80, 3228 (1996).
4. P. KOZODOY, J. P. IBBETSON, H. MARCHAND, P. T. FINI, S. KELLER, J. S. SPECK, S. P. DENBAARS, and U. K. MISHRA, Appl. Phys. Lett. 73, 975 (1998).
5. J. W. P. Hsu, M. J. MANFRA, D. V. LANG, S. RICHTER, S. N. G. CHU, A. M. SERGENT, R. N. KLEIMAN, L. N. PFEIFFER, and R. J. MOLNAR, Appl. Phys. Lett. 78, 1685 (2001).
6. J. NEUGEBAUER and C. G. VAN DE WALLE, Phys. Rev. B 50, 8067 (1994).
7. C. G. VAN DE WALLE, Phys. Rev. B 56, R10020 (1997).
8. K. SAARINEN, T. LAINE, S. KUISMA, J. NISSILA, P. HAUTOJARVI, L. DOBRZYNSKI, J. M. BARANOWSKI, K. PAKULA, R. STEPNIEWSKI, M. WOJDAK, A. WYSMOLEK, T. SUSKI, M. LESZCZYNSKI, I. GRZEGORY, and S. POROWSKI, Phys. Rev. Lett. 79, 3030 (1997).
9. A. HIERRO, S. A. RINGEL, M. HANSEN, J. S. SPECK, U. K. MISHRA, and S. P. DENBAARS, Appl. Phys. Lett. 77, 1499 (2000).
10. D. C. LOOK, D. C. REYNOLDS, J. W. HEMSKY, J. R. SIZELOVE, R. L. JONES, and R. J. MOLNAR, Phys. Rev. Lett. 79, 2273 (1997).
11. W. M. CHEN, I. A. BUYANOVA, M. T. WAGNER, B. MONEMAR, J. L. LINDSTRÖM, H. AMANO, and I. AKASAKI, Phys. Rev. B 58, R13351 (1998).
12. A. HIERRO, PhD thesis, The Ohio State University, 2001.
13. P. HACKE, T. DETCHPROHM, K. HIRAMATSU, N. SAWAKI, K. TADATOMO, and K. MIYAKE, J. Appl. Phys. 76, 304 (1994).
14. A. HIERRO, D. KWON, S. A. RINGEL, M. HANSEN, J. S. SPECK, U. K. MISHRA, and S. P. DENBAARS, Appl. Phys. Lett. 76, 3064 (2000).
15. H. J. LEAMY, J. Appl. Phys. 53, R51 (1992).
16. A. HIERRO, A. R. AREHART, B. HEYING, M. HANSEN, J. S. SPECK, U. K. MISHRA, S. P. DENBAARS, and S. A. RINGEL, phys. stat. sol. (b) 228, 309 (2001).
17. P. OMLING, E. R. WEBER, L. MONTELIUS, H. ALEXANDER, and J. MICHEL, Phys. Rev. B 32, 6571 (1985).
18. T. FIGIELSKI, Solid-State Electron. 21, 1403 (1978).
19. W. SCHROTER, J. KRONEWITZ, U. GNAUERT, F. RIEDEL, and M. SEIBT, Phys. Rev. B 52, 13726 (1995).
20. P. N. GRILLOT, S. A. RINGEL, E. A. FITZGERALD, G. P. WATSON, and Y. H. XIE, J. Appl. Phys. 77, 3248 (1995).
21. D. C. LOOK and J. R. SIZELOVE, Phys. Rev. Lett. 82, 1237 (1999).
22. K. LEUNG, A. F. WRIGHT, and E. B. STECHEL, Appl. Phys. Lett. 74, 2495 (1999).
23. J. E. NORTHRUP, Appl. Phys. Lett. 78, 2288 (2001).
24. P. N. GRILLOT, S. A. RINGEL, J. MICHEL, and E. A. FITZGERALD, J. Appl. Phys. 80, 2923 (1996).
25. R. BULLOUGH and R. C. NEWMAN, in: A. F. GIBBONS and R. E. BURGERS (Eds.), Progress in Semiconductors, Heywood, London 1963 (p. 99).
26. D. C. LOOK, Fourth International Conference on Nitride Semiconductors, Denver, CO 2001.
27. S. J. ROSNER, E. C. CARR, M. J. LUDOWISE, G. GIROLAMI, and H. I. ERIKSON, Appl. Phys. Lett. 70, 420 (1997).