Fatigue-Free Reference Scheme and Process-Induced Damage in a 1T1C FRAM

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 39, Issue 1, 2001, Pages 80-86

  Jung, Dongjin ^a   Kim, Kinam ^a  

^a SAMSUNG Electronics   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035600801     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (8)

1. D. J. Jung, N. S. Kang, S. Y. Lee, B. J. Koo, J. W. Park, Y. S. Chun, M. H. Lee, B. G. Lee, S. I. Lee, T. E. Shim and C. G. Hwang, VLSI Tech. Symp., p. 139 (1997).
2. T. Kachi, K. Shoji, H. Yamashita, T. Kisu, K. Torii, T. Kumihashi, Y. Fujisaki and N. Yokoyama, VLSI Tech. Symp., p. 126 (1998).
3. K. Amanurna, T. Tatsumi, Y. Maejima, S. Takahashi, H. Hada, H. Okijaki, and T. Kunio, IEDM Tech., Digest, p. 363 (1998).
4. J. W. Lee, S. Y. Lee, D. J. Jung, B. J. Koo and K. N. Kim, J. Korean Phys. Soc. 33, 208 (1998).
5. K. N. Kim, Technology Perspective for 1T/1C FRAM, Integrated Ferroelectrics 25, 149 (1999).
6. S. Y. Lee, D. J. Jung, Y. J. Song, B. J. Koo, S. O. Park, H. J. Cho, D. S. Hwang, S. I. Lee, J. K. Lee, Y. S. Park, I. S. Jung and K. N. Kim, VLSI Tech. Symp., p. 33 (1999).
7. D. J. Jung, S. Y. Lee, B. J. Koo, Y. S. Hwang, D. W. Shin, J. W. Lee, Y. S. Chun, S. H. Shin, M. H. Lee, H. B. Park, S. I. Lee, K. N. Kim and J. G. Lee, VLSI Tech. Symp., p. 122 (1998).
8. S. Y. Lee, B. J. Koo, D. J. Jung and K. N. Kim, J. Korean Phys. Soc. 35, 783 (1999).