Indirect bandgap-like current flow in direct bandgap electron resonant tunneling diodes

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 226, Issue 1, 2001, Pages 9-19

  Klimeck, Gerhard ^a  

^a CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035535091     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-3951(200107)226:1<9::AID-PSSB9>3.0.CO;2-Y     Document Type: Article

References (26)

1. R. LAKE, G. KLIMECK, R. C. BOWEN, and D. JOVANOVIC, J. Appl. Phys. 81, 7845 (1997).
2. R. LAKE, G. KLIMECK, R. BOWEN, D. JOVANOVIC, and D. BLANKS, phys. stat. sol. (b) 204, 354 (1997).
3. T. B. BOYKIN, L. J. GAMBLE, G. KLIMECK, and R. C. BOWEN, Phys. Rev. B 59, 7301 (1999).
4. G. KLIMECK, R. LAKE, R. C. BOWEN, W. R. FRENSLEY, and T. MOISE, Appl. Phys. Lett. 67, 2539 (1995).
5. R. LAKE, G. KLIMECK, R. C. BOWEN, C. FERNANDO, D. JOVANOVIC, D. BLANKS, T. S. MOISE, Y. C. KAO, M. LENG, and W. R. FRENSLEY, in: 54th Annual Device Research Conf. Digest, IEEE, NJ, 1996 (p. 174).
6. G. KLIMECK, T. B. BOYKIN, R. C. BOWEN, R. LAKE, D. BLANKS, T. S. MOISE, Y. C. KAO, and W. R. FRENSLEY, in: 55th Annual Device Research Conf. Digest, IEEE, NJ, 1997 (p. 92).
7. R. C. BOWEN, G. KLIMECK, R. K. LAKE, W. R. FRENSLEY, and T. MOISE, J. Appl. Phys 81, 3207 (1997).
8. R. LAKE, G. KLIMECK, R. C. BOWEN, C-J. FERNANDO, M-H. LENG, T. MOISE, and Y. C. KAO, Superlattices Microstruct. 20, 279 (1996).
9. R. LAKE, G. KLIMECK, and D. K. BLANKS, Semicond. Sci. Technol. 13, A163 (1998).
10. G. KLIMECK, R. LAKE, and D. K. BLANKS, Phys. Rev. B. 58, 7279 (1998).
11. J. P. A. VAN DER WAGT, ALAN C. SEABAUGH, and E. BEAM III, IEEE Electron Device Lett. 19, 7 (1998).
12. T. P. E. BROEKAERT, B. BRAR, J. P. A. VAN DER WAGT, A. C. SEABAUGH, T. S. MOISE, F. S. MORRIS, E. BEAM III, and G. A. FRAZIER, IEEE J. Solid State Electron. 33, 1342 (1998).
13. R. C. BOWEN, W. R. FRENSLEY, G. KLIMECK, and R. K. LAKE, Phys. Rev. B 52, 2754 (1995).
14. G. KLIMECK, R. LAKE, R. C. BOWEN, C-J. L. FERNANDO, and W. R. FRENSLEY, VLSI Des. 6, 107 (1998).
15. R. TSU and L. ESAKI, Appl. Phys. Lett. 22, 562 (1973).
16. T. B. BOYKIN, R. E. CARNAHAN, and R. J. HIGGINS, Phys. Rev. B 48, 14232 (1993).
17. T. B. BOYKIN, R. E. CARNAHAN, and K. P. MARTIN, Phys. Rev. B 51, 2273 (1995).
18. T. B. BOYKIN, J. Appl. Phys. 78, 6818 (1995).
19. M. S. KILEDJIAN, J. N. SCHULMAN, K. L. WANG, and K. V. ROUSSEAU, Phys. Rev. B 46, 16012 (1992).
20. T. B. BOYKIN, Phys. Rev. B 51, 4289 (1995).
21. M. S. KILEDJIAN, J. N. SCHULMAN, K. L. WANG, and K. V. ROUSSEAU, Surf. Sci. 267, 405 (1992).
22. G. KLIMECK, R. C. BOWEN, and T. B. BOYKIN, Superlattices Microstruct. 29, 187 (2001).
23. G. KLIMECK, R. C. BOWEN, and T. B. BOYKIN, Phys. Rev. B 63, 195310 (2001).
24. G. KLIMECK, R. C. BOWEN, and T. B. BOYKIN, in: IEEE Proc., Internat. Conf. on Compound Semiconductors, accepted for publication (2000).
25. T. S. MOISE, Y.-C. KAO, A. J. KATZ, T. P. E. BROEKAERT, and F. G. CELII, J. Appl. Phys. 78, 6305 (1995).
26. R. LAKE, G. KLIMECK, R. C. BOWEN, D. JOVANOVIC, P. SOTIRELIS, and W. R. FRENSLEY, VLSI Des. 6, 9 (1998).