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Volumn 63, Issue 20, 2001, Pages 2012011-2012014

Carbon vacancy-related defect in 4H and 6H SiC

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CARBON; SILICON;

EID: 0034888268     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/physrevb.63.201201     Document Type: Article
Times cited : (122)

References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.