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Volumn 56, Issue 7, 2000, Pages 868-880

Synchrotron X-ray reciprocal-space mapping, topography and diffraction resolution studies of macromolecular crystal quality

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EID: 0033938454     PISSN: 09074449     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0907444900005837     Document Type: Article
Times cited : (65)

References (67)
  • 41
    • 0032169322 scopus 로고    scopus 로고
    • Nave, C. (1998). Acta Cryst. D54, 848-853.
    • (1998) Acta Cryst. , vol.D54 , pp. 848-853
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.