Energy loss spectroscopy of RuO2 thin films

Journal of Applied Physics

Volumn 82, Issue 4, 1997, Pages 1730-1735

  Mondio, G ^a   Neri, F ^a   Allegrini, M ^a,c   Lembo, A ^b   Fuso, F ^b  

^a UNIVERSITY OF MESSINA   (Italy)

^b UNIVERSITY OF PISA   (Italy)

^c INFN SEZIONE DI PISA   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0009769939     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.365974     Document Type: Article

References (29)

1. K. M. Glassford and J. R. Chelikowsky, Phys. Rev. B 47, 1732 (1993).
2. W. D. Ryden, A. W. Lawson, and C. C. Sartain, Phys. Rev. B 1, 1494 (1970).
3. 3Q. X. Jia, L. H. Chang, and W. A. Anderson, J. Mater. Res. 9, 2561 (1994).
4. L. A. Bursill, I. M. Reaney, D. P. Vijay, and S. B. Desu, J. Appl. Phys. 75, 1521 (1994).
5. H. N. Al-Shareef, O. Auciello, and I. Kingon, J. Appl. Phys. 77, 2146 (1995).
6. S. D. Bernstein, T. Y. Wong, Y. Kisler, and R. W. Tustison, J. Mater. Res. 8, 12 (1993).
7. W. Zhu, Z. Q. Lin, W. Lu, M. S. Tse, H. S. Tan, and X. Yao, J. Appl. Phys. 79, 4283 (1996).
8. P. X. Yang, N. S. Zhou, L. R. Zheng, M. X. Lu, and C. L. Lin, J. Phys. D 30, 527 (1997).
9. L. Krusin-Elbaum, M. Wittmer, and D. S. Yee, Appl. Phys. Lett. 50, 1879 (1987).
10. J. Lee, S. Min, and S. H. Choh, Jpn. J. Appl. Phys. 1 33, 7080 (1994).
11. Q. X. Jia, X. D. Wu, S. R. Foltyn, A. T. Findikoglu, P. Tiwari, J. P. Zheng, and T. R. Jow, Appl. Phys. Lett. 67, 1677 (1995).
12. A. Iembo, F. Fuso, E. Arimondo, C. Ciofi, G. Pennelli, G. Currò, F. Neri, and M. Allegrini, J. Mater. Res. 12, 1433 (1997).
13. J. F. M. Cilessen, R. M. Wolf, J. B. Giesbers, P. W. M. Blom, K. O. Grosseholz, and E. Pastoor, Appl. Surf. Sci. 96-8, 744 (1996).
14. J. A. Greer, M. D. Tabat, and C. Lu, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 121, 357 (1997).
15. A. Iembo, F. Fuso, M. Allegrini, E. Arimondo, V. Berardi, N. Spinelli, F. Leccabue, B. E. Watts, G. Franco, and G. Chiorboli, Appl. Phys. Lett. 63, 1194 (1993).
16. S. Amoruso, V. Berardi, V. Spinelli, A. Dente, M. Armenante, R. Velotta, F. Fuso, M. Allegrini, and E. Arimondo, J. Appl. Phys. 78, 494 (1995).
17. K. M. Glassford and J. R. Chelikowsky, Phys. Rev. B 49, 7107 (1994).
18. J. Riga, C. Tenret-Noel, J. J. Pireaux, R. Caudano, J. J. Verbist, and Y. Gobillon, Phys. Scr. 16, 351 (1977).
19. A. K. Goel, G. Skorinko, and F. H. Pollak, Phys. Rev. B 24, 7342 (1981).
20. A. Belkind, Z. Orban, J. L. Vossen, and J. A. Woolam, Thin Solid Films 207, 242 (1992).
21. L. Krusin-Elbaum, Thin Solid Films 169, 17 (1989).
22. S. Tougaard and J. Kraaer, Phys. Rev. B 43, 1651 (1981).
23. See for example, R. F. Egerton and P. A. Crozier, Scanning Microsc. Int.-Scanning Microsc. Suppl. 2, 245 (1988).
24. G. Chiarello, E. Colavita, M. De Crescenzi, and S. Nannarone, Phys. Rev. B 29, 4878 (1984).
25. G. Mondio, F. Neri, G. Currò, S. Patanè, and G. Compagnini, J. Mater. Res. 8, 2627 (1993).
26. G. Currò, F. Neri, G. Mondio, G. Compagnini, and G. Foti, Phys. Rev. B 49, 8411 (1994).
27. G. Currò, G. Mondio, F. Neri, G. Foti, and G. Compagnini, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 72, 89 (1995).
28. F. L. Battye, J. G. Jenkin, J. Liesegang, and R. C. G. Leckey, Phys. Rev. B , 9, 2887 (1974).
29. L. F. Mattheiss, Phys. Rev. B 13, 2433 (1976).