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Volumn 148, Issue 4, 2001, Pages

Infrared Spectroscopy Study of the Thermal Stability of Fluorinated SiO2 Thin Films

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EID: 0002280698     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.1353577     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.